本文约12,000字,建议收藏阅读 随着信息技术的飞速发展,集成芯片和芯粒技术正在引领半导体领域的创新。集成芯片技术通过缩小元器件尺寸和提高集成度,实现了电子产品的微型化和...
随着半导体技术的快速发展,晶圆接受测试(Wafer Acceptance Test,WAT)在半导体制造过程中的地位日益凸显。WAT测试的核心目标是确保晶圆在封装和切割前,其电气特性和工艺参数符合设...
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在芯片设计流程中,后端设计是一个至关重要的环节,它直接关系到芯片从设计到实际生产的转化,以及最终产品的性能、可靠性、成本和上市时间。以下是为什么芯片后端非常重要的...
测试接收机大多数都有四种基本检波方式,准峰值检波、均方根值检波、峰值检波和平均值检波。为什么都是选用峰值检波,然后再选个别数值超标的点进行准峰值检波,而不一开始直...
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在网上看到有网友提出这样的问题:对于下述器件,通10mA电流时器件竟然短路了 这到底是怎么回事呢? 接下来,我们就基于这样的假设分析:没有操作失误,就是用恒流源给该ESD加载...
集成电路(简称IC)芯片是现代电子设备的核心组成部分,它在信息处理、通信、计算、控制等领域发挥着至关重要的作用。随着科技的不断进步,IC的复杂性和功能不断增强,使其在日...
本文由半导体产业纵横(ID:ICVIEWS)综合 AI的激增推动了对先进半导体芯片的需求,推动了芯片设计和制造的界限。 AI 的快速发展迎来了半导体比以往任何时候都更加重要的时代。从训...
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