[测试设备] ATE测试机行业入门(5)——O/S测试 日期：2025-05-21 20:24:00 点击：129 好评：0
按照惯例，在正式内容之前，我们还是要先吹会儿牛。记得刚入职时，经常听到老同事们在开会时，喜欢说一些听起来很高大上的开会术语。比如：需求对齐、问题闭环、问题收敛、风...
[测试机台/ATE] ATE与Handler用于边界扫描的芯片级互连测试 日期：2025-05-19 20:23:00 点击：199 好评：0
ATE与Handler用于边界扫描的芯片级互连测试 一.概述 基于芯片的多芯片器件作为异构集成设计方法的产物，在当今芯片设计和实现策略中扮演着重要角色。实现多芯片器件的动力始于20世...
[测试机台/ATE] 半导体ATE测试-IDD测试 日期：2025-05-19 19:08:00 点击：167 好评：0
半导体ATE测试-IDD测试 电源电流（IDD）表示 CMOS 电路中从漏极流向漏极的电流（在TTL 电路中称为ICC，意为集电极到集电极)IDD 可等价为: 静态 IDD 测试 静态IDD是在DUT处于静态时（DUT在测试...
[测试设备] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 20:14:00 点击：129 好评：0
AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称，AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范，旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...
[探针卡/probe card] 半导体测试探针 日期：2024-12-11 08:59:05 点击：426 好评：4
半导体测试探针主要应用于半导体的芯片设计验证、晶圆测试、成品测试环节，是连通芯片/晶圆与测试设备进行信号传输的核心零部件，对半导体产品的质量控制起着重要的作用。 探...
[测试设备] 芯片电子的Degrading设计 日期：2024-10-27 18:19:00 点击：68 好评：0
什么是Degrading Degrading设计，就是在设计阶段通过降低元器件的工作应力，使其远低于其额定值，从而提高产品的可靠性和寿命。例如，对于一个额定电流（Rated current）为50V的半导体电...
[测试设备] 芯片FT测试主要流程 日期：2024-10-27 18:19:00 点击：573 好评：6
mps公司的mp系列某芯片的测试流程，在此做个简单记录。...
[测试设备] 示波器常识概述及简介 日期：2024-10-10 20:20:00 点击：375 好评：0
1、示波器分类 DSO：数字存储示波器； MSO：混合信号示波器，将传统的 DSO 测量模拟与逻辑分析测量相结合。 2、示波器探头提供高阻抗输入的原因 示波器探头在测试点提供相对较高的...
[测试元器件] 11 器件篇-蜂鸣器基础知识 日期：2024-09-24 19:05:34 点击：327 好评：0
蜂鸣器是我们在电路中使用比较常见的发声电子元器件，相信很多小伙伴都有接触过，今天我们一起来了解一下这个电子元器件--蜂鸣器！ 目录 o初识蜂鸣器 o关于声音的专业术语 o蜂鸣...
[测试设备] 光焱科技：晶圆级测试设备的革新先锋 日期：2024-04-10 15:21:15 点击：497 好评：6
在日新月异的半导体产业中， 光焱科技 以其创新的晶圆级测试设备，为全球客户提供了前所未有的技术解决方案。专注于提供高效、精确的测量工具，我们帮助客户在产品开发阶段有...
