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  • [测试设备] 芯片电子的Degrading设计 日期:2024-10-27 18:19:00 点击:68 好评:0

    什么是Degrading Degrading设计,就是在设计阶段通过降低元器件的工作应力,使其远低于其额定值,从而提高产品的可靠性和寿命。例如,对于一个额定电流(Rated current)为50V的半导体电...

  • [测试设备] 芯片FT测试主要流程 日期:2024-10-27 18:19:00 点击:69 好评:0

    mps公司的mp系列某芯片的测试流程,在此做个简单记录。...

  • [测试设备] 示波器常识概述及简介 日期:2024-10-10 20:20:00 点击:186 好评:0

    1、示波器分类 DSO:数字存储示波器; MSO:混合信号示波器,将传统的 DSO 测量模拟与逻辑分析测量相结合。 2、示波器探头提供高阻抗输入的原因 示波器探头在测试点提供相对较高的...

  • [测试元器件] 11 器件篇-蜂鸣器基础知识 日期:2024-09-24 19:05:34 点击:110 好评:0

    蜂鸣器是我们在电路中使用比较常见的发声电子元器件,相信很多小伙伴都有接触过,今天我们一起来了解一下这个电子元器件--蜂鸣器! 目录 o初识蜂鸣器 o关于声音的专业术语 o蜂鸣...

  • [测试设备] 光焱科技:晶圆级测试设备的革新先锋 日期:2024-04-10 15:21:15 点击:405 好评:6

    在日新月异的半导体产业中, 光焱科技 以其创新的晶圆级测试设备,为全球客户提供了前所未有的技术解决方案。专注于提供高效、精确的测量工具,我们帮助客户在产品开发阶段有...

  • [测试机台/ATE] AEC-Q100车规芯片验证C5:SBS - Solder Ball Shear 焊球剪 日期:2024-04-02 21:10:00 点击:418 好评:2

    AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对C组的第5项SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切...

  • [测试机台/ATE] AEC-Q100车规芯片验证C6:LI - Lead Integrity 引脚完整 日期:2024-04-02 20:12:00 点击:198 好评:2

    AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对C组的第6项 LI - Lead Integrity引脚完整性项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 LI - Lead Integrity 引脚完整性 我...

  • [测试设备] 几种典型模拟滤波器,你都会用吗? 日期:2024-03-21 21:01:00 点击:304 好评:2

    RC滤波电路 RC低通滤波器的基本结构如下图所示: RC低通滤波器的基本结构 根据RC低通滤波器的频率响应曲线,其幅频曲线和相频曲线主要有如下特征: 1、上限频率f=1/(2RC)。 上限频率...

  • [测试设备] AEC-Q100车规芯片验证G7:DS - Die Shear芯片剪切 日期:2024-03-14 18:17:00 点击:266 好评:2

    \ AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对G组的第7项DS - Die Shear芯片剪切测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 DS - Die Shear芯片剪切 我们先看一...

  • [测试机台/ATE] AEC-Q100车规芯片验证G8:IWV - Internal Water Vapor内部 日期:2024-03-14 18:05:49 点击:254 好评:2

    AEC-Q100文件,是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件,本文将重点对G组的第8项IWV - Internal Water Vapor内部水蒸汽含量测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 IWV - Internal Water...

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