[探针卡/probe card] 半导体测试探针 日期：2024-12-11 08:59:05 点击：101 好评：2
半导体测试探针主要应用于半导体的芯片设计验证、晶圆测试、成品测试环节，是连通芯片/晶圆与测试设备进行信号传输的核心零部件，对半导体产品的质量控制起着重要的作用。 探...
[测试设备] 芯片电子的Degrading设计 日期：2024-10-27 18:19:00 点击：68 好评：0
什么是Degrading Degrading设计，就是在设计阶段通过降低元器件的工作应力，使其远低于其额定值，从而提高产品的可靠性和寿命。例如，对于一个额定电流（Rated current）为50V的半导体电...
[测试设备] 芯片FT测试主要流程 日期：2024-10-27 18:19:00 点击：201 好评：0
mps公司的mp系列某芯片的测试流程，在此做个简单记录。...
[测试设备] 示波器常识概述及简介 日期：2024-10-10 20:20:00 点击：232 好评：0
1、示波器分类 DSO：数字存储示波器； MSO：混合信号示波器，将传统的 DSO 测量模拟与逻辑分析测量相结合。 2、示波器探头提供高阻抗输入的原因 示波器探头在测试点提供相对较高的...
[测试元器件] 11 器件篇-蜂鸣器基础知识 日期：2024-09-24 19:05:34 点击：157 好评：0
蜂鸣器是我们在电路中使用比较常见的发声电子元器件，相信很多小伙伴都有接触过，今天我们一起来了解一下这个电子元器件--蜂鸣器！ 目录 o初识蜂鸣器 o关于声音的专业术语 o蜂鸣...
[测试设备] 光焱科技：晶圆级测试设备的革新先锋 日期：2024-04-10 15:21:15 点击：429 好评：6
在日新月异的半导体产业中， 光焱科技 以其创新的晶圆级测试设备，为全球客户提供了前所未有的技术解决方案。专注于提供高效、精确的测量工具，我们帮助客户在产品开发阶段有...
[测试机台/ATE] AEC-Q100车规芯片验证C5：SBS - Solder Ball Shear 焊球剪 日期：2024-04-02 21:10:00 点击：497 好评：2
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对C组的第5项SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 SBS - Solder Ball Shear 焊球剪切...
[测试机台/ATE] AEC-Q100车规芯片验证C6：LI - Lead Integrity 引脚完整 日期：2024-04-02 20:12:00 点击：225 好评：2
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对C组的第6项 LI - Lead Integrity引脚完整性项目进行介绍。 AEC Q100 表2 C组验证内容 LI - Lead Integrity 引脚完整性 我...
[测试设备] 几种典型模拟滤波器，你都会用吗？ 日期：2024-03-21 21:01:00 点击：365 好评：2
RC滤波电路 RC低通滤波器的基本结构如下图所示： RC低通滤波器的基本结构 根据RC低通滤波器的频率响应曲线，其幅频曲线和相频曲线主要有如下特征： 1、上限频率f=1/(2RC)。 上限频率...
[测试设备] AEC-Q100车规芯片验证G7：DS - Die Shear芯片剪切 日期：2024-03-14 18:17:00 点击：311 好评：2
\ AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件，本文将重点对G组的第7项DS - Die Shear芯片剪切测试项目进行介绍。 AEC Q100 表格2中G组内容 DS - Die Shear芯片剪切 我们先看一...
