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  • [芯片相关原理] 【学习路线】最全IC设计学习路线 日期:2025-11-26 22:10:36 点击:67 好评:0

    一、入门首先要掌握HDL(HDL=verilog+VHDL)。 第一句话是: 还没学数电的先学数电 。然后你可以选择verilog或者VHDL,有C语言基础的,建议选择VHDL。 因为verilog太像C了,很容易混淆,最后...

  • [测试理论] 半导体培训17:FT测试 日期:2025-11-17 17:01:00 点击:206 好评:0

    半导体测试环节贯穿整个制造流程,是保障芯片质量的核心技术屏障。随着半导体产业遵循摩尔定律持续演进,当前5nm工艺节点晶体管密度已达91.2MTr/mm(以英特尔4为例),相较45nm工艺...

  • [测试理论] 全方位了解IC芯片测试流程 日期:2025-10-21 23:26:15 点击:263 好评:2

    在开始芯片测试流程之前应先充分了解芯片的工作原理。要熟悉它的内部电路,主要参数指标,各个引出线的作用及其正常电压。芯片很敏感,所以测试的时候要注意不要引起引脚之间...

  • [测试基础理论] I2C 通信协议问答集锦 for 学习自检 --Part2 日期:2025-09-24 20:20:33 点击:150 好评:0

    1. I2C通信的基本原理是什么? A: I2C采用主从式通信机制。主设备发起并控制通信,从设备响应主设备的请求。 2. I2C通信有哪些关键特性? A: 支持多主多从架构;仅需两条通信线;支持...

  • [测试理论] 集成电路测试基础-测试数据分析 日期:2025-07-15 22:08:00 点击:362 好评:0

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  • [测试理论] 最最简单的芯片开短路测试,你真的学会了吗? 日期:2025-07-14 21:39:04 点击:548 好评:2

    I. 半导体器件电气短路测试简介 A. IC 制造中短路检测的必要性 在集成电路(IC)的制造过程中,电气短路是一种常见的缺陷类型。这些短路 可能源于多种制造工艺问题,例如颗粒污染...

  • [测试理论] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期:2025-04-15 21:35:00 点击:416 好评:2

    AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等,具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...

  • [测试理论] 芯片测试中,BSCAN和SCAN有什么区别? 日期:2025-04-14 21:53:15 点击:801 好评:6

    前面文章我们介绍了芯片测试中SCAN的介绍: CP测试中的Scan测试介绍 ,那么,什么是Bscan呢?两者之间有什么区别呢?这篇文章带你一探究竟! Bscan(Boundary Scan, 边界扫描 )是一种用...

  • [测试理论] 半导体封装测试介绍 日期:2025-03-31 21:56:33 点击:626 好评:8

    封装测试的定义与重要性 半导体封装测试(Package Test)是芯片制造流程中不可或缺的环节,指在封装完成后对芯片进行功能和性能验证的过程。虽然晶圆测试(CP)已筛选出良品,但封...

  • [测试理论] GRR(测量系统重复性再现性)分析的三种方法介 日期:2025-03-27 19:50:00 点击:3137 好评:4

    工业上经常用GRR分析进行测量系统分析,GRR分析是测量系统重复性和再现性分析的总称。 重复性 (Repeatability)是指在尽可能相同的测量条件下,同一测量人员对同一测量对象进行多次...

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