[测试理论] 芯片测试：系统级测试（SLT）详解 日期：2023-11-07 18:53:23 点击：207 好评：0
Perface 在IC封测中我们常常会听到：SLT、EVB、ATE这几个名词。它们之间的区别简要如下： ATE(Auto Test Equipment) 在测试工厂完成. 大致是给芯片的输入管道施加所需的激励信号 ，同时监测芯...
[测试理论] 芯片测试：WAT、CP、FT 日期：2023-10-25 16:53:41 点击：205 好评：4
正文 CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本 。可以更直接的知道Wafer 的良率。 FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率 。 现在对于一般的wafer工艺，很多公司多把CP给省了，...
[测试理论] 你真的懂IC测试吗？ 日期：2023-09-26 19:03:31 点击：275 好评：2
从IDM到垂直分工，IC产业专业化分工催生独立测试厂商出现。集成电路产业从上世纪60年代开始逐渐兴起，早期企业都是IDM运营模式（垂直整合），这种模式涵盖设计、制造、封测等整个...
[测试理论] 一个BUCK电源电路设计测试过程 日期：2023-09-23 18:29:06 点击：286 好评：0
一、元件选型 1 芯片选型 2 电容选型 3 电感选型 4 电阻选型 二、电源测试 1 电源 PDN 和纹波噪声 1.1 电源 PDN 1.2 电源纹波和电源噪声 2 常见的纹波噪声测试方案 2.1 纹波噪声测试基本要求...
[芯片相关原理] 芯片Power Artist功耗仿真工具：原理、方法与挑战 日期：2023-09-19 19:32:00 点击：275 好评：0
Simulation ,ChrisDonovan-IncoherentMess 一、引言 随着科技的进步，芯片设计已经进入到了纳米级时代，如何在微小的芯片中实现更强大的功能和更高的效率成为了重要的问题。其中，功耗管理...
[测试理论] 芯片回片测试流程：科技中的关键一步 日期：2023-09-18 20:07:00 点击：166 好评：0
引言 在现代科技领域，半导体芯片扮演着至关重要的角色，驱动着各种电子设备的运行，从智能手机到云计算服务器。然而，要确保这些芯片的性能和质量，需要经过严格的测试过程，...
[测试理论] 芯片温度测量，哪种方法最有效？ 日期：2023-09-18 13:32:47 点击：191 好评：0
芯片温度检测，你都知道哪些方法？ l使用热电偶测量（接触式测温，易产生误差） l参照经典的结温方程（TJ= TA+ PDJA）计算温度 l利用二极管作为温度传感器来检测） 上述几种测温方法...
[测试理论] XGPON BOSA光器件眼图分析及测试 日期：2023-08-31 19:14:58 点击：251 好评：0
本文分析探讨了插针XGPON BOSA封装方式和柔板软封装的各自不同点和优缺点，提出PCB Layout等长补偿改善插针XGPONBOSA封装方式眼图质量和接收灵敏度的可行性；通过硬件测试验证结果表明...
[测试理论] 谈谈汽车ECU测试 日期：2023-08-28 20:17:00 点击：108 好评：0
最近的工作需要经常和测试打交道，但我并非这个细分领域的行家，看着几千条测试用例和五花八门的测试设备与工具，以及工程师展示的繁复曲线与图表，着实有些眼花缭乱，没太看...
[测试基础理论] 芯片出厂前测试概述 日期：2023-08-26 17:26:00 点击：193 好评：2
收录于合集#芯片测试1个 芯片的出生粗略需要经过以下步骤：设计(design)，流片（tape out），封装(package)，测试(test)。芯片流片后的测试包括封装前的晶圆测试CP（Chip Probing），封装后的...
