[测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期：2018-06-14 09:41:22 点击：849 好评：56
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...
[测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期：2018-06-13 09:20:39 点击：285 好评：13
拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力（注意：拉、灌都是对输出端而言的，所以是驱动能力）的参数，这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明，芯片手册中的拉、灌电流是...
[测试理论] 永不改变的PCB设计黄金法则 日期：2018-05-24 09:32:57 点击：305 好评：2
电子设计工程师在使用设计软件进行PCB布局设计及商业制造时应牢记并践行的十条最有效的设计法则。工程师无需按时间先后或相对重要性依次执行这些法则，只需全部遵循便可极大地...
[测试基础理论] DFT，可测试性设计--概念理解 日期：2018-05-11 10:29:23 点击：306 好评：46
工程会接触DFT。需要了解DFT知识，但不需要深入。 三种基本的测试（概念来自参考文档）： 1. 边界扫描测试；boundary scan test。测试目标是IO-PAD，利用jtag接口互连以方便测试。（jtag接口...
[测试基础理论] 工程师必须搞清DCDC和LDO的区别 日期：2018-05-09 10:28:52 点击：404 好评：44
LDO：LOW DROPOUT VOLTAGE LDO（是low dropout voltage regulator的缩写,整流器） 低压差线性稳压器，故名思意，为线性的稳压器，仅能使用在降压应用中。也就是输出电压必需小于输入电压。 优点：...
[测试理论] 集成电路中测试概述（二） 日期：2018-05-07 14:42:06 点击：387 好评：0
这篇文章主要讲一下基于扫描路径的可测性设计。 对于一个组合逻辑的电路，电路中的故障可以通过输入端口施加向量进行激励。而对于一个复杂、端口有限的时序电路，只能采用基于...
[测试基础理论] 射频测试基础——网络分析与网络分析仪 日期：2018-05-07 10:56:32 点击：338 好评：0
若干电气元件相互连接形成的系统叫做网络。网络可以作为电路的代名词，网络分析就是电路分析，只是平常很少这样说，由此增添了几分神秘色彩。到了射频通信领域，可以把任何具...
[测试基础理论] 集成电路中的测试概述（一） 日期：2018-05-03 10:00:57 点击：447 好评：64
这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类： 1）验证：在芯片量产之前，验证设计是否正确和符合规范。在验证时，主要进行功能测试...
[测试基础理论] ADC的动与静 日期：2018-04-26 10:39:39 点击：298 好评：0
我们经常发现，同样一块load board，测出来的ADC的SNR似乎总是不如DAC的好。但是从routing上，又看不出太大的差异。无论是电源、地的设计，还是信号的shield，relay的选择，基本都一样。从...
[测试基础理论] IGBT基础与运用知识，建议收藏 日期：2018-04-25 12:13:08 点击：191 好评：9
筹备了一段时间，也找了不少的资料将准备开始整理和学习IGBT的材料。 IGBT的资料有很多，如果想找，可以在baidu文档里面找中文的资料，也可以在google找pdf的英文资料。粗略看起来较...