[测试理论] 信号完整性测试 日期：2026-05-18 22:49:34 点击：64 好评：0
功能单元测试测试中非常重要的一项是信号完整性测试，特别是对于高速信号，信号完整性测试尤为关键。 完整性的测试手段种类繁多，有频域，也有时域的，还有一些综合性的手段，...
[测试理论] 电缆和连接器：测试系统中最容易被忽视的薄弱 日期：2026-05-13 22:29:17 点击：129 好评：0
测试机台、Loadboard、测试座之间的连接，靠的是电缆和连接器。这两样东西太常见了，常见到很多人根本不关心它们。 直到某天测试数据突然飘了，查程序、查板子、查座子都没问题，...
[测试基础理论] 测试向量长什么样？写给芯片的功能测试说明书 日期：2026-05-07 22:24:09 点击：214 好评：0
功能测试怎么做？简单说就是：给芯片一系列输入信号，看输出对不对。 输入和输出的组合，就是测试向量 。 今天聊聊向量的基本概念、常见格式，以及新人常遇到的坑。 01 什么是测...
[测试基础理论] 测试数据乱成一锅粥？先规范一下你的Datalog格式 日期：2026-05-07 21:52:48 点击：120 好评：0
芯片测完了，良率也算了，报告也出了。然后呢？ 三个月后客户投诉，你需要回头查那颗芯片当时的测试数据。打开文件夹，一堆.log、.txt、.csv，文件名是test1outputresult，根本不知道哪...
[测试设备原理] 半导体设备系列 Vol.15 | 先进封装量检测与KGD测试 日期：2026-05-06 22:31:42 点击：199 好评：0
讲先进封装时，大家最容易把焦点放在怎么做互连、怎么堆叠、怎么键合。但真到量产现场，另一个问题不得不值得大家关注： 如果一颗坏 die 被装进一个昂贵的 HBM 、2.5D 中介层或 c...
[芯片相关原理] 芯片引脚成百上千，测试机通道不够用怎么办？ 日期：2026-05-06 21:17:52 点击：141 好评：0
测试机台的核心资源就是通道。每个通道可以连接芯片的一个引脚，给它施加信号或者测量它的响应。 问题来了：一颗芯片可能有几百个引脚，一台测试机可能只有几十到几百个通道。...
[测试理论] IC老化座工程师:什么是芯片可靠性测试？为什么 日期：2026-03-09 23:07:00 点击：251 好评：0
什么是芯片可靠性测试？芯片老化测试有哪些类型？测试工程师该如何选配老化测试座？ 一、芯片可靠性测试的核心定义与本质 芯片可靠性测试是通过模拟芯片在全生命周期（通常...
[测试理论] 芯片老化测试：从封装级走向晶圆级 日期：2026-03-09 19:16:00 点击：178 好评：0
随着芯片复杂度持续提升，传统封装级老化测试正面临成本、可靠性与工艺适配等多重挑战。 将部分老化压力前移至晶圆级，结合增强型高压应力技术、基于机器学习的异常值筛选、内...
[芯片相关原理] 如何判断开关IC芯片的好坏？ 日期：2026-03-05 21:57:59 点击：200 好评：0
开关IC芯片作为电源转换与管理的核心部件，一旦开关IC出现故障，不仅会影响设备的正常工作，甚至可能引发更严重的电路损坏。那么，如何判断开关IC芯片好坏呢？ 了解开关IC芯片的...
[测试理论] AEC-Q100标准样品抽样要求和不强制做LTOL的原因分 日期：2026-02-20 21:15:40 点击：153 好评：0
在半导体可靠性验证中，关于AEC-Q100的一些常见疑问，为什么抽样不要求Corner片？为什么是3个Lot而非Corner片？ Corner片（Process Corner）的局限性 Corner片（快片FF、慢片SS、快慢片FS/SF、典型...
