[测试设备原理] ATE测试中的Tabei-Ueda插值算法 日期：2026-09-04 23:02:07 点击：129 好评：0
PLL频率测试，怎么就卡在频率分辨率上 做PLL频率测试时，最常见的手段是把输出信号采样后做FFT，然后在频谱里找峰值。这个方法简单粗暴，但对FFT的固有缺陷视而不见： 频率分辨率...
[芯片相关原理] WeiBull分布在芯片老化中都有哪些应用？ 日期：2026-09-01 19:56:00 点击：134 好评：0
在半导体行业，芯片的使用寿命与老化可靠性是产品落地、量产迭代的核心考核指标。从消费电子的通用芯片到汽车级、工业级高可靠芯片，长期通电、高低温循环、电压应力冲击等工...
[测试理论] 测试分选机：不测芯片，却卡着量产的节拍 日期：2026-08-29 19:38:00 点击：96 好评：0
FT 量产测试里有个容易被忽略的角色。ATE负责给芯片加电、跑测试向量、判好坏，但谁把一颗颗封装好的芯片送进测试座、按温度控好、测完再分档吐出来，这活儿是测试分选机也就是...
[测试设备原理] 校准与相关性：同一颗芯片换台机器测，结果凭 日期：2026-08-27 22:39:48 点击：173 好评：0
摘要：芯片测出来合不合格，结论其实来自一台机器的读数。机器会老化，读数会漂，两台机器之间也会有偏差。校准解决的是单台机器准不准，相关性解决的是机器之间像不像。这两...
[测试设备原理] ATE 配件科普：芯片测试座 Socket 详解 日期：2026-08-25 21:16:00 点击：97 好评：0
一、什么是芯片测试座 测试座（Socket）是 ATE 与封装芯片的中转连接载体 ，无需焊接即可快速装夹 DUT，搭建稳定电气通路，完成芯片功能、DC/AC 参数量产测试。 核心特点 1. 可反复复用...
[测试理论] ADC的SNR测试：通俗版全解析 日期：2026-08-12 22:33:52 点击：77 好评：0
先给大家摆个通俗的前提：ADC（模数转换器）的核心作用，是把连续的模拟信号（比如麦克风收的声音、传感器测的电压）转换成数字信号。而SNR（信噪比），就是衡量这个转换过程干...
[测试基础理论] ATE测试解惑：低温低压到底是不是最坏测试工况 日期：2026-08-12 21:32:33 点击：161 好评：0
做过芯片ATE量产测试的朋友基本都有同感：芯片的大部分功能性失效、测试良率波动、临界报错，很少出现在高温高压的常规可靠性测试场景里，反而大多集中在低温、低压的组合测试...
[芯片相关原理] 分享一篇介绍CP针痕对封装打线影响的文章 日期：2026-07-27 19:28:00 点击：201 好评：0
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[测试理论] 半导体 ATE 测试常用术语汇总 日期：2026-07-23 20:04:00 点击：211 好评：0
整理行业高频设备术语 + 电气参数术语，干货收藏必备，测试入门快速看懂专业词汇。 一、测试设备专业术语 DUT 待测器件，所有测试中被检测的芯片，也可称作UUT。 DPS 器件供电电源...
[测试理论] 数字半导体测试入门连载【第17期】｜看懂量产良 日期：2026-07-23 19:01:00 点击：155 好评：0
开篇：为什么你看的良率，永远比别人浅一层？ 做ATE量产，所有人每天都在看良率。 但大部分人的状态是：良率正常就安心，良率跌了就慌乱。 只看一个百分比数字，涨了就稳、跌了...
