[芯片制造] 芯片测试：WAT、CP、FT. 日期：2025-11-24 22:46:08 点击：91 好评：0
WAT WAT（Wafer Acceptance Test）测试，也叫PCM（Process Control Monitoring），对Wafer 划片槽（Scribe Line）测试键（Test Key）的测试，通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定. 例如CMOS的电容，电...
[相关技术] 高加速寿命试验技术分析及应用研究 日期：2025-11-24 21:35:00 点击：75 好评：0
高加速寿命试验有望成为设计师提高可靠性的利器。 然而， 研发人员往往认为试验中所激发的故障模式在实际的使用条件下不可能发生， 因此， 对于通过解决试验中发现的问题进而提...
[芯片制造] 电子元器件失效的常规分类、检测及案例分析 日期：2025-11-24 20:21:00 点击：145 好评：0
元器件设计、材料、结构、工艺缺陷引起的失效是元器件常见失效之一，其失效由元器件自身缺陷决定，应用环境和工作中施加的条件是失效的外因，不管应用环境和工作中施加的条件...
[相关技术] 华为海思FA分析结果呈现基本要求 日期：2025-11-24 19:03:00 点击：98 好评：0
海思，作为华为旗下的半导体公司，其在芯片研发等众多领域展现出了无与伦比的创新能力和技术深度。海思FA分析结果报告从内容的要求来看，非常细致。 海思FA分析结果报告输出基...
[芯片制造] 芯测之声（第六期） 日期：2025-11-18 19:13:00 点击：145 好评：0
数字芯片测试全流程解析 一.测试前准备 1.了解测试机及如何操作 2.了解所测芯片的芯片手册 二.测试要求 1.明确测试项目 2.编写测试向量表 3.画PCB板,进行硬件测试 三.芯片测试是确保产...
[芯片制造] 芯测之声（第七期） 日期：2025-11-18 17:06:00 点击：74 好评：0
芯片测试四大核心技术解析！连接性 / 功能 / 钳位电压 / 漏电流原理大揭秘 芯片从设计到量产，测试是保障品质的关键环节。其中连接性、功能、输入钳位电压和漏电流测试，堪称芯片...
[芯片制造] 一文看懂AI SoC芯片 日期：2025-11-17 18:17:40 点击：239 好评：0
什么是SoC？ 作为智能手机、汽车电子、人工智能、工业控制等领域的大脑，SoC (System on Chip, 片上系统) 是一种将计算核心、存储系统、通信接口以及各种外设集成到一个单一芯片上的高...
[芯片制造] 芯片失效分析原理及步骤 日期：2025-11-13 21:24:11 点击：208 好评：0
失效分析近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开...
[芯片制造] 失效分析的概念、主要步骤及解决方案 日期：2025-11-13 20:20:00 点击：177 好评：0
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动...
[芯片制造] 集成电路失效分析步骤 日期：2025-11-13 19:09:00 点击：196 好评：0
1. 开封前检查，外观检查，X光检查，扫描声学显微镜检查。 2. 开封显微镜检查。 3. 电性能分析，缺陷定位技术、电路分析及微探针分析。 4. 物理分析，剥层、聚焦离子束(FIB)，扫描电...
