[相关技术] 等离子体蚀刻在提高传感器芯片强度方面的研究 日期：2026-05-18 19:27:00 点击：116 好评：0
本文针对公司汽车传感器产品中超薄芯片(小于100微米)在贴片DB(Die Bonding，以下简称DB)工序中存在的断裂问题。通过测试晶圆磨削面的损伤层，发现不同颗粒的磨轮磨出的晶圆损伤层有显...
[芯片制造] 芯片中的“层”，“层层”全解析 日期：2026-05-11 22:23:39 点击：95 好评：0
前言 集成电路（芯片）是以光刻为核心的 逐层制造 工艺，层 是芯片技术最核心的概念之一。媒体常说美光 176 层 3D NAND、三星 200 + 层闪存，这里的 层 究竟指什么？芯片里到底有多少...
[芯片制造] Loadboard上的去耦电容：放多少、放哪、放多大？ 日期：2026-05-11 21:59:11 点击：173 好评：0
芯片测试时，有时会遇到这种情况：直流参数正常，一跑功能测试就出错；或者同一批Loadboard，有的工位稳，有的工位飘。 查程序、查座子、查机台，都没问题。最后发现是板子上的去...
[相关技术] 电机电容测量方法及标准电容器比较 日期：2026-05-11 20:48:04 点击：101 好评：0
一站式智能化解决方案服务商，覆盖工业控制、工业互联、智能装备、工业软件、行业应用、电子测量、城市生命线等应用 ，欢迎扫二维码添加好友/私信联系，谢谢您的关注！ 在电机...
[相关技术] 20pA的跳动，竟然只是因为旁边亮着一盏台灯？ 日期：2026-05-11 19:32:00 点击：222 好评：0
芯片测试中，有些信号很小。比如微伏级的电压、皮安级的漏电流、毫微伏级的噪声。这种信号非常容易被干扰淹没。有时候程序和数据看起来都正常，但结果就是不稳定，今天测一个...
[芯片制造] 芯片可靠性之早期失效率 日期：2026-05-08 22:30:20 点击：186 好评：-2
ELFR是半导体可靠性测试中的一个重要概念，英文全称：Early Life Failure Rate，中文译为早期失效率。目的是量化评估产品在浴盆曲线中早期失效期的失效率水平。代表了一种更先进、更高...
[芯片制造] 芯片失效分析解读 日期：2026-05-08 20:13:43 点击：199 好评：0
芯片失效分析（Chip Failure Analysis, Chip FA）是针对半导体集成电路（IC）失效的系统性排查过程，旨在通过多维度检测与逻辑推理，定位失效位置、揭示失效机理（如电迁移、栅氧击穿、...
[芯片制造] 先进制程晶圆厂：良率与利润的关系 日期：2026-05-07 22:15:54 点击：134 好评：0
以下文章来源于贝影Alpha-芯片新视界，作者贝影Alpha 贝影Alpha-芯片新视界 . 以理论物理博士的专业积淀，从多维度拆解市场动态，用第一性原理透视涨跌本质，分享独特投资心得。像分...
[芯片制造] 芯片设计的“隐秘角落” 日期：2026-04-27 22:36:29 点击：147 好评：0
芯片设计工程师都清楚Foundry（晶圆厂）提供的Design Rule Manual和配套的DRC（设计规则检查）工具是基本法。DRC过了，LVS（版图电路一致性检查）也过了，是不是就意味着可以高枕无忧，等...
[芯片制造] Cpk是什么？一个数字告诉你芯片批次稳不稳 日期：2026-04-26 21:29:48 点击：177 好评：0
拿到一批芯片的测试数据，良率98%，看起来不错。 但客户用了之后反馈，有些芯片性能飘忽，时好时坏。 问题出在哪？良率告诉你有多少芯片合格，但没告诉你这批芯片的一致性怎么...
