[芯片制造] 芯片失效分析原理及步骤 日期：2025-11-13 21:24:11 点击：191 好评：0
失效分析近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动。在提高产品质量，技术开...
[芯片制造] 失效分析的概念、主要步骤及解决方案 日期：2025-11-13 20:20:00 点击：151 好评：0
失效分析是一门发展中的新兴学科，近年开始从军工向普通企业普及。它一般根据失效模式和现象，通过分析和验证，模拟重现失效的现象，找出失效的原因，挖掘出失效的机理的活动...
[芯片制造] 集成电路失效分析步骤 日期：2025-11-13 19:09:00 点击：168 好评：0
1. 开封前检查，外观检查，X光检查，扫描声学显微镜检查。 2. 开封显微镜检查。 3. 电性能分析，缺陷定位技术、电路分析及微探针分析。 4. 物理分析，剥层、聚焦离子束(FIB)，扫描电...
[芯片制造] 芯片故障分析流程-failure analysis flow 日期：2025-11-13 18:44:00 点击：148 好评：0
1. 芯片故障分析流程： 01.接收故障件并收集相关失效信息。 02.Level-1: 非破坏性实验，如目检，X-ray等。 03.Level-2：电气故障分析，尝试复现失效模式。如Open/Short，Decap，EMMI/InGaAs，OBIR...
[芯片制造] 关于芯片设计的一些基本知识 日期：2025-11-12 20:09:00 点击：62 好评：0
引言：之前给大家介绍了芯片的制造和封装。今天这篇，我们来看看芯片的设计。 █ 芯片的设计理念 众所周知，芯片拥有极为复杂的结构。 以英伟达的B200芯片为例，在巴掌大的面积...
[芯片制造] 一文看懂芯片的设计流程 日期：2025-11-12 19:13:00 点击：89 好评：0
引言：前段时间给大家做了芯片设计的知识铺垫（ 关于芯片设计的一些基本知识 ），今天这篇，我们正式介绍芯片设计的具体流程。 芯片分为数字芯片、模拟芯片、数模混合芯片等多...
[相关技术] MOS器件电性参数Vt详解 日期：2025-11-10 20:50:20 点击：111 好评：0
在半导体器件中， Threshold Voltage（阈值电压，通常记为VT） 是 MOSFET（金属氧化物半导体场效应晶体管）的核心参数之一，用于定义器件从 关态（截止状态）切换到 开态（导通状态）的...
[芯片制造] 芯片测试三大关键环节：WAT、CP与FT技术解析 日期：2025-11-10 19:41:11 点击：179 好评：0
在半导体行业，一颗芯片从设计到量产需要经过数百道工序，而测试环节就像三道严密的质量关卡，守护着每一颗芯片的可靠性。2024年全球半导体测试设备市场规模已达67亿美元，预计...
[相关技术] RS485接口EMC电路设计方案 日期：2025-11-10 18:33:52 点击：76 好评：0
一、原理图 1. RS485接口6KV防雷电路设计方案 图1 RS485接口防雷电路 接口电路设计概述：RS485用于设备与计算机或其它设备之间通讯，在产品应用中其走线多与电源、功率信号等混合在一...
[相关技术] 为什么接地电阻一般不大于4Ω？怎么测量？ 日期：2025-11-09 19:11:00 点击：66 好评：0
01. 什么是接地电阻？ 接地电阻就是电流由接地装置流入大地再经大地流向另一接地体或向远处扩散所遇到的电阻，它包括接地线和接地体本身的电阻、接地体与大地的电阻之间的接触...
