欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 相关技术 >
  • [芯片制造] 车规级芯片的认证标准 日期:2024-07-20 07:54:47 点击:123 好评:0

    一颗汽车芯片从设计流片、车规认证、车型导入验证、到量产装车,通常需要3-5年的时间。而只有最终大规模落地量产,实现盈利,企业才能真正地活下来。这整个周期,就像是一场残...

  • [芯片制造] 车规级芯片的认证标准 日期:2024-07-20 07:54:47 点击:123 好评:0

    一颗汽车芯片从设计流片、车规认证、车型导入验证、到量产装车,通常需要3-5年的时间。而只有最终大规模落地量产,实现盈利,企业才能真正地活下来。这整个周期,就像是一场残...

  • [芯片制造] 一文了解半导体封测,附130页PPT 日期:2024-07-19 19:32:00 点击:176 好评:0

    ...

  • [芯片制造] 车规芯片生产、设计时如何考虑AECQ 日期:2024-07-18 21:09:00 点击:116 好评:0

    汽车芯片的市场越来越大, 但中国汽车芯片国产供给率仅一成,九成还是依赖进口那么 车规芯片设计时如何考虑AECQ100? 车轨芯片的wafer和普通IC 工艺流程有何不同?作为一个芯片20年的从...

  • [相关技术] 图解22条PCB布板与EMC的关系 日期:2024-07-18 20:38:00 点击:129 好评:0

    导读: 说起开关电源的难点问题,PCB布板问题不算很大难点,但若是要布出一个精良PCB板,那开关电源一定是难点之一(PCB设计不好,可能会导致无论怎么调试参数都调试布出来的情况...

  • [编程语言] 芯片表面温度梯度对功率循环寿命的影响 日期:2024-07-18 19:56:00 点击:58 好评:0

    摘要: 键合线失效是器件的典型失效方式之一,芯片表面的温度分布存在温度梯度,因此每个键脚承受的热应力也存在差异,芯片的寿命是否取决于承受最高应力的键脚一直是研究的难...

  • [芯片制造] 封装技术在5G时代的创新与应用 日期:2024-07-17 22:21:30 点击:112 好评:0

    5G 时代的到来将通信系统的工作频段推入毫米波波段,这给毫米波器件的封装带来了挑战.5G 系统需要将射频、模拟、数字功能和无源器件以及其他系统组件集成在一个封装模块中,这个要...

  • [相关技术] 详谈元器件失效及存储 日期:2024-07-17 21:08:00 点击:56 好评:0

    1、元器件总体分类 元器件可分为元件、器件两大类。元件又细分为电气元件和机电元件。 元件指在工厂生产加工时不改变分子成分的成品,如电阻器、电容器、电感器。它们本身不产...

  • [芯片制造] 浅谈半导体芯片失效分析Analysis of Semiconductor Ch 日期:2024-07-17 20:11:00 点击:123 好评:0

    失效专业能力分类 元器件5A试验介绍(中英文) ◆PFA(Physical Feature Analysis) 物理特征分析 ◆DPA (Destructive Physical Analysis) 破坏性物理分析 ◆CA (Constructional Analysis) 结构分析 ◆FA (...

  • [相关技术] [案例]PCIE jitter测试问题分析以及解决方案 日期:2024-07-17 19:05:00 点击:71 好评:0

    项目背景 : 项目为一个云端运算的产品,所有的高速和低速信号都要进行信号完整性测试,其中包括高速串行信号PCI-Express Gen1(简称PCIe Gen1)。PCIe Gen1信号分为CEM和base两种情况,CEM的测试...

  • 首页
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10
  • 11
  • 下一页
  • 末页
  • 70699
栏目列表