[测试实例] DRAM 功能测试很难？测试pattern生成主要靠他俩 日期：2025-07-14 20:22:00 点击：123 好评：0
I. DRAM 的架构及其常见的故障模型 I. DRAM 的架构及其常见的故障模型 A.DRAM 存储阵列的结构特征 现代DRAM芯片是一个复杂的系统， 其核心是存储阵列，但同时也包含大量支持其运行的外围...
[测试实例] 浅谈 DC 测试 --VOL/IOL 日期：2025-07-07 21:28:10 点击：169 好评：2
书接上文,咱们继续来了解DUT数字PIN脚输出带载能力的测试，此项也是ATE DC 测试的常见测试项：VOL/IOL。 一、参数定义 VOL： DUT 输出逻辑0时 ， 输出管脚 上所能承受的 最高电压 即输出电...
[测试实例] 【案例】生产测试中的幽灵触摸问题 日期：2025-06-30 22:07:20 点击：217 好评：0
幽灵触摸（Ghost Touch）指的是触摸屏在用户未操作的情况下被触发的情形，就像是有一个幽灵在操作，故得名为幽灵触摸。幽灵触摸可能会随机发生在屏幕的某些区域，导致意外操作或...
[测试实例] 芯片中MOS是如何测试的？（3） 日期：2025-06-05 22:13:12 点击：348 好评：2
这篇文章我们来介绍一下芯片中的 CMOS的关键参数 是怎么测试的，首先是MOS的 栅极氧化层 的测试。 MOS晶体管栅氧化层完整性（GOI）的测试结构是多晶硅栅-氧化层-PW衬底（NMOS栅氧化层...
[测试实例] 芯片中电容和二极管如何测试？ 日期：2025-06-05 20:21:00 点击：245 好评：0
1.二极管的测试 二极管作为集成电路chip中重要的功能部分，对于n型二极管，它是两端器件，它的两个端口阴极（n型有源区）和阳极（PW）分别连到PAD_N和PAD_P。对于p型二极管，它是二端...
[测试实例] 芯片中电阻如何测试的？ 日期：2025-06-05 19:45:00 点击：203 好评：2
电阻的测试分为 方块电阻和接触电阻 ，方块电阻是电路设计的重要组成部分，其阻值准确性严重影响电路的性能，Fab厂通过WAT参数方块电阻Rs监测它们。CMOS工艺中方块电阻主要类型有...
[测试实例] 三点弯折测试 3PB-test 日期：2025-05-23 19:28:00 点击：179 好评：0
随着电子产品的不断发展和升级，半导体芯片的应用越来越广泛，而半导体芯片的可靠性也受到越来越多的关注。芯片三点弯折测试是对半导体芯片的机械性能进行评估的重要方法之一...
[测试实例] Test Key是什么？ 日期：2025-05-22 20:22:00 点击：191 好评：0
在半导体制造中，Test Key是用于监控工艺质量和电性参数的关键工具。以下是其核心要点： 1. 定义与作用 - 定义： Test Key是晶圆上设计的特殊图形或结构，位于芯片之间的切割道（Scr...
[测试实例] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-15 19:10:00 点击：225 好评：0
AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称，AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范，旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...
[测试实例] 芯片测试中的黑科技：Metal/Poly Trim如何让芯片“ 日期：2025-04-09 19:08:00 点击：416 好评：4
在半导体行业，每一颗芯片从晶圆到成品的旅程中，都需经历一场名为Trim的精密手术。而这场手术的核心工具，正是被称为 Metal/Poly Trim 的技术，一般也称作e-Fuse技术。它如同芯片的微...
