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  • [模拟芯片] 测试入门-运放之VOS 日期:2015-09-05 16:10:56 点击:980 好评:4

    温故而知新,因工作需要,最近重新学习了一下运算放大器 测试开发,基于ASL1000的平台 DOAL的。在这里记录一下,并分享给刚入行的兄弟们,也许你已经知道! 参考资料: 什么是运算...

  • [分立器件] 分立器件测试详解----MOSFET 日期:2014-10-10 00:33:56 点击:1539 好评:20

    对于分立器件来说,MOSFET是个非常典型的器件,我们今天就来研究一下它的测试参数以及测试方法 副标题 副标题 副标题 最后有个笔记也不错,可以参考一下:...

  • [调试经验] 浅谈DC-DC测试的一些注意点 日期:2014-05-24 21:37:41 点击:861 好评:33

    浅谈 DC-DC 测试的一些注意点 摘要: 本文主要阐述了DC-DC测试的注意点 关键词 :DC-DC 外围器件 波形 随着电子行业的不断发展,DC-DC升压转换器的运用越来越广泛,它主要运用于PDA掌上...

  • [测试基础理论] 集成稳压器调整率参数的测试 日期:2014-05-24 21:23:29 点击:875 好评:0

    集成稳压器调整率参数的测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 赵建平 摘要 本文介绍了集成稳压器调整率参数的测量原理和方法,分析了影响调整率参数测量精度的各种原因以及为此而采...

  • [测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期:2014-05-24 21:01:53 点击:548 好评:4

    半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性,有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...

  • [测试机台] TR6800案例资料 日期:2012-04-14 20:47:22 点击:552 好评:2

    Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...

  • [S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期:2010-09-15 13:59:18 点击:621 好评:13

    摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...

  • [模拟芯片] 通用运算放大器主要参数测试方法说明 日期:2010-08-24 11:12:56 点击:1777 好评:11

    运算放大器是模拟器件的核心,熟悉运放的特性也就掌握了模拟IC的基础,掌握了运放的测试,其余模拟IC的测试也就能够顺利清楚,所以运放在模拟IC中有着至关重要的地位,故劝各位...

  • [混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期:2010-08-17 11:09:08 点击:874 好评:2

    作者:张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...

  • [混合信号芯片] Test AD7880(ADC) by the Teradyne FLEX Tester 日期:2010-01-26 10:36:58 点击:589 好评:2

    本文讲述了如何使用Teradyne的FLEX测试机,开发一款混合信号芯片AD7880---12位ADC测试的详细过程,从ADC静态及动态参数的意义,到测试程序的编写都非常细致入微,相信对FLEX测试机的学习...

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