[测试实例] 芯片Burn-in测试方案 日期：2026-03-10 21:33:00 点击：174 好评：0
芯片产品中的Burn in 测试方案分如下几个步骤：一, Burn-in 测试方案与流程 根据产品的特性与需求，制定一套完整的BI测试方案 实现芯片所需验证到的功能，主要方案需求如下： 主要流...
[射频RF系列] 电源变压器在电路中起什么作用 日期：2026-03-05 19:53:00 点击：146 好评：0
在现代电子设备和电力系统中，电源变压器是一种非常重要的基础元件。无论是在大型工业用电设备、家用电器还是各类自动化控制装置中，几乎都能见到它的身影。那么，电源变压器...
[测试实例] 简要介绍电源效率测试 日期：2026-02-26 22:05:31 点击：87 好评：0
最近出了一系列电源测试相关内容 电源测试之输出动态响应(Output Dynamic Response Test) 电源输出的Overshoot和Undershoot 测试 电源效率测试 电源测试 用示波器也可以测试电源环路稳定性 开关...
[测试实例] 电源输出的Overshoot和Undershoot 测试 日期：2026-02-26 20:49:00 点击：152 好评：0
测试目的验证待测电源在开/关机时，输出电压及信号是否符合规格要求(考察反馈设计是否欠阻尼或过阻尼)： -电压过冲, -电压回落, -震荡、震铃。 测试条件及示意图-输入：规格中定义...
[测试实例] 半导体工艺（二十一）：晶圆CP测试 日期：2025-11-27 20:17:00 点击：367 好评：4
CP测试定义 晶圆CP（Chip Probing）测试，全称是晶圆级芯片测试，也称为探针卡测试 或 中测。它是在晶圆制造完成之后、切割和封装之前，通过探针卡与芯片的焊盘接触，对晶圆上的每一...
[测试实例] 芯测之声（第八期） 日期：2025-11-25 19:49:00 点击：239 好评：2
数字芯片DC参数测试详解：VIH/VIL/VOH/VOL/IOS/IDD测试原理与方法 打造可靠芯片，从精准测试开始 在数字芯片的设计和制造过程中，DC参数测试是确保芯片质量的关键环节。今天我们将深入...
[测试实例] （一）DFT概述和ATE测试 日期：2025-11-20 20:49:00 点击：281 好评：0
什么是DFT 测试的重要性 测试的主要目的 DPPM 为什么需要DFT 加入DFT逻辑后的影响 DFT在整个芯片设计流程中所处的阶段 常见的芯片制造故障（缺陷） DFT通常包括哪些技术 ATE（automatic t...
[测试实例] DRAM 功能测试很难？测试pattern生成主要靠他俩 日期：2025-07-14 20:22:00 点击：602 好评：6
I. DRAM 的架构及其常见的故障模型 I. DRAM 的架构及其常见的故障模型 A.DRAM 存储阵列的结构特征 现代DRAM芯片是一个复杂的系统， 其核心是存储阵列，但同时也包含大量支持其运行的外围...
[测试实例] 浅谈 DC 测试 --VOL/IOL 日期：2025-07-07 21:28:10 点击：714 好评：2
书接上文,咱们继续来了解DUT数字PIN脚输出带载能力的测试，此项也是ATE DC 测试的常见测试项：VOL/IOL。 一、参数定义 VOL： DUT 输出逻辑0时 ， 输出管脚 上所能承受的 最高电压 即输出电...
[测试实例] 【案例】生产测试中的幽灵触摸问题 日期：2025-06-30 22:07:20 点击：377 好评：0
幽灵触摸（Ghost Touch）指的是触摸屏在用户未操作的情况下被触发的情形，就像是有一个幽灵在操作，故得名为幽灵触摸。幽灵触摸可能会随机发生在屏幕的某些区域，导致意外操作或...
