[测试实例] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-15 19:10:00 点击：96 好评：0
AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称，AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范，旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...
[测试实例] 芯片测试中的黑科技：Metal/Poly Trim如何让芯片“ 日期：2025-04-09 19:08:00 点击：123 好评：0
在半导体行业，每一颗芯片从晶圆到成品的旅程中，都需经历一场名为Trim的精密手术。而这场手术的核心工具，正是被称为 Metal/Poly Trim 的技术，一般也称作e-Fuse技术。它如同芯片的微...
[测试实例] Burn-in测试如何破解产品“早夭”？ 日期：2025-03-27 22:31:40 点击：125 好评：0
在芯片制造过程中，如何确保产品在交付客户后能够长期稳定运行，是每一个芯片设计公司和制造商面临的重大挑战。尤其是那些早夭产品即在早期使用阶段就出现故障的芯片，不仅会...
[测试实例] CP磁测试激励：推动晶圆磁测试技术创新 日期：2025-03-27 21:18:00 点击：156 好评：0
在半导体行业，随着技术的飞速发展，芯片的尺寸不断缩小、功能日益复杂，传统的测试方法逐渐无法满足日益增长的高精度、高效率需求。为此，新的测试技术应运而生，其中 CP磁测...
[测试实例] 基于车规数据分析技术，DPAT、NNR与GDBN 日期：2025-03-27 20:04:00 点击：253 好评：0
随着汽车电子系统的快速发展，特别是自动驾驶和智能网联汽车技术的应用，车规级电子设备的质量控制和测试技术越来越重要。在测试过程中， 动态部件平均测试 （DPAT）、 临近残差...
[测试实例] 芯片不能穷测试 日期：2025-03-25 22:26:46 点击：230 好评：0
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试实例] 一文带你了解DFT测试 日期：2025-03-25 21:16:00 点击：104 好评：0
芯片的 DFT（Design for Test 可测性设计） 测试是指在芯片设计过程中，采用一系列技术和方法，使得芯片在制造后可以有效地进行测试，从而保证芯片的质量和可靠性。DFT的目的是通过优...
[测试实例] 芯片测试中，OS和LDO的区别 日期：2025-03-25 19:05:00 点击：234 好评：0
在芯片测试中，Open/Short测试和LDO（Low Dropout Regulator，低压差线性稳压器）测试是两个不同的测试项目，它们的目的和测试内容有所不同。 Open/Short测试： 也称为连通性测试或短路/开路...
[测试实例] CP测试中的Scan测试介绍 日期：2025-03-24 22:14:00 点击：254 好评：0
1. Scan测试概述 Scan测试（扫描测试） 是一种用于检测芯片数字逻辑部分制造缺陷的方法。它基于扫描链（Scan Chain）技术，将芯片内部的寄存器连接成一条或多条串行链，利用这些链路...
[测试实例] 芯片测试中ADC的工作原理 日期：2025-03-24 21:50:22 点击：196 好评：0
前面我们详细介绍了DAC工作原理， DAC（数模转换器）原理大揭秘 ，那么ADC是什么呢？模数转换器（ADC，Analog-to-Digital Converter）的主要功能是将模拟信号转换为数字信号，方便后续的数...
