[测试工程] 晶圆生产中工艺参数监控和测试相关的术语 日期：2024-10-31 21:14:36 点击：89 好评：0
1. Monitor 在晶圆生产中，Monitor指的是对设备、工艺或产品进行实时或定期的监控，以确保其处于正常的运行状态。例如，某些设备或工艺步骤需要通过monitor数据来判断是否可以继续生产...
[测试工程] IC测试键（Test Key） 日期：2024-10-31 20:46:58 点击：170 好评：0
IC测试键（Test Key）是集成电路（IC）测试中的重要概念。 1. 什么是IC测试键？ IC测试键可以看作是芯片设计中的窗口或探针点，这些特定位置的电路接口，能够让你在制造或测试阶段窥...
[测试工程] CP测试和WAT测试的区别 日期：2024-10-31 19:30:00 点击：152 好评：0
在集电路的制造和测试过程中，CP测试（Chip Probing）和WAT测试（Wafer Acceptance Test）是两个非常重要的测试环节。尽管它们都在晶圆（Wafer）阶段进行，但二者的目的、测试对象、测试内容...
[可靠性测试] ATE测试工程师是干啥的？ 日期：2024-10-31 18:22:00 点击：181 好评：0
ATE（自动测试设备）测试师，你的主要职责就是使用特定的测试机台和工具，确保集成电路（IC）在量产阶段的质量和可靠性。在这一角色中，ATE测试工程师需要结合理论知识和实际操...
[测试工程] SoC芯片设计系列---晶圆测试（CP测试）概述与流程 日期：2024-10-30 20:10:00 点击：191 好评：0
SoC芯片 . 领先的芯片技术资讯平台！提供最新的行业新闻、技术突破以及SoC芯片设计专业技术知识，致力于为工程师、技术爱好者和行业分析师提供价值。 一、什么是CP测试？ CP测试（...
[可靠性测试] 芯片封装可靠性术语 日期：2024-10-28 21:02:00 点击：121 好评：0
### 芯片封装可靠性术语解析 在芯片封装领域，为了确保封装后的芯片能够在各种恶劣环境中稳定工作，需要对其进行一系列的可靠性试验。这些试验旨在模拟实际应用中的极端情况，...
[测试工程] ATE测试—新手入门学习（二）【6-10】 日期：2024-10-28 20:24:00 点击：73 好评：0
、 6、测试机的介绍 （1）数字模拟 （2）测试机 1：测试器件类别 2：多站并发测试模式 3：通用测试系统内部结构 7、ProberHandler （1）探针台（Prober） （2）分选机（Handler） 8、ProbeCar...
[测试工程] ATE测试—新手入门学习（一）【1-5】 日期：2024-10-28 19:00:00 点击：190 好评：0
1、什么是ATE测试 2、为什么要做ATE测试 3、CP测试 （1）简要介绍 （2）CP测试流程 4、FT测试 5、BI测试 ATE测试新手入门学习（二）【6-10】 ATE测试新手入门学习（三）【11-14】 1、什么是...
[测试工程] 芯片封装测试流程详解,一文带你了解清楚 日期：2024-10-27 20:34:00 点击：129 好评：0
单片机 嵌入式硬件 芯片封装是指芯片在框架或基板上布局、粘贴固定和连接，经过接线端后用塑封固定，形成立体结构的工艺。下面就带大家来了解一下芯片封装。 什么是芯片 想要了...
[测试工程] JEDEC标准 芯片测试 日期：2024-10-26 20:38:00 点击：74 好评：0
对软件可靠性测试的认识 1.有关术语 (1)软件可靠性 在规定条件下,在规定时间内,软件不引起系统失效的概率。该概率是系统输入和系统使用的函数,也是软件中存在故障的函数,系统输入...
