[测试工程] 芯片测试类型：芯片电性测试和芯片电气测试 日期：2026-05-13 22:53:31 点击：148 好评：0
芯片电性测试聚焦核心电学性能参数的精准验证，侧重芯片在设计规格内的性能表现；电气测试则侧重安全与兼容性验证，关注芯片在极端环境与复杂电路中的稳定运行能力。两者均需...
[可靠性测试] AEC-Q100 stress实验详解#9——HTOL（高温工作寿命测 日期：2026-04-28 20:06:09 点击：145 好评：0
AEC-Q100合集 9. HTOL（High Temperature Operating Life，高温工作寿命测试） 实验目的： HTOL是AEC-Q100标准中B组（加速生命周期模拟测试）的核心项目（B1项），主要用于评估芯片在长期高温工作状...
[测试工程] 测试机台多久校准一次？ calibration过期了，数据 日期：2026-04-28 19:49:26 点击：220 好评：0
测试数据出现异常，大多数人第一反应是查程序、查座子、查芯片。很少有人会问一句：测试机台本身的校准还在有效期内吗？ 校准过期了，测出来的数据可能从头到尾都是错的。 今...
[测试工程] 芯片测试追溯四步法：从批次号到参数值，一条 日期：2026-04-27 19:43:24 点击：218 好评：0
客户投诉某颗芯片失效。你能不能在几分钟内，调出这颗芯片的全部测试记录？ 哪片晶圆、哪个坐标、哪台测试机、哪个程序版本、当时的漏电流数值是多少。 如果能，追溯体系合格...
[测试工程] 测试程序版本乱象：三个坏习惯，正在悄悄吃掉 日期：2026-04-26 17:45:00 点击：211 好评：0
版本号不更新、修改不写备注、测试机上的程序和服务器不同步这三个问题，你的团队有没有中招？ 如果中了一个以上，恭喜你，你们的测试程序已经进入了混沌状态。 今天不说大道...
[测试工程] 半导体可靠性测试：V-ramp与J-ramp斜坡测试技术 日期：2026-04-19 19:20:10 点击：262 好评：0
一颗芯片能不能活过十年，工程师往往先看这两条斜坡：V-ramp与J-ramp全解 JEDEC（Joint Electron Device Engineering Council，电子器件工程联合委员会）JESD35 把 V-ramp（Voltage Ramp，电压斜坡）和 J...
[可靠性测试] HTOL集成电路老化测试 日期：2026-04-03 22:10:52 点击：131 好评：2
HTOL(High Temperature Operating Life)测试是评估集成电路（芯片）可靠性的一项关键性测试，主要通过高温激活失效机制来评估芯片寿命和长期通电运行的可靠性、稳定性。 主要的测试方法有...
[可靠性测试] HTOL&HAST可靠性测试 日期：2026-03-15 21:10:19 点击：255 好评：0
1. 前言 本次介绍上篇《芯片测试学习笔记》文章提到的可靠性测试项其中两项：HTOL和HAST测试。 2. HTOL(High Temperature Operation Life) HTOL测试是芯片电路可靠性的一项关键性的基础测试，采用...
[可靠性测试] 芯片可靠性之Burn-in 日期：2026-03-15 18:53:35 点击：155 好评：-2
一． Burn-in 的概念 Burn-in的中文是老化或预烧。 核心原理：通过施加高于正常条件的电应力和热应力，让芯片在出厂前提前工作一段时间，从而迫使那些具有潜在缺陷、会早期失效的芯...
[测试工程] 芯片可靠性实验之HTOL 日期：2026-03-15 17:44:00 点击：165 好评：0
一 . HTOL 的概念 HTOL的英文全称为High Temperature Operation Life ,可以理解为芯片的加速老化实验。通过模拟芯片在几年甚至十几年（涵盖下图中早期失效期与使用寿命期）正常使用下可能出现...
