[测试工程] 电子背散射衍射EBSD的测试技术进展 日期：2024-07-15 21:23:46 点击：181 好评：0
1 引言 显微结构、取向和成分分布是决定结晶材料各种性能的关键因素。在扫描电镜中，扫描电镜图像可以获得显微结构和形貌信息，能谱仪可以获得成分信息，而电子背散射技术（...
[测试工程] 7. 测试向量的仿真 日期：2024-07-14 22:24:15 点击：215 好评：0
在电子设计自动化（EDA）领域中，仿真是验证电路设计的重要步骤之一。而测试向量的仿真更是确保电路在实际应用中表现良好的关键环节。本篇文章将详细介绍测试向量的仿真过程，...
[测试工程] 8. IJTAG：芯片测试的超级英雄 日期：2024-07-14 22:03:00 点击：193 好评：0
半导体领域的小伙伴们，今天我们来聊聊一个可能并不广为人知，但绝对是幕后英雄的技术IJTAG。别担心，虽然这听起来有点技术宅，但我们保证，用轻松幽默的方式让你彻底掌握这门...
[测试工程] 芯片封测核心量产工艺 日期：2024-07-12 20:31:00 点击：107 好评：0
显示驱动芯片是显示面板成像系统的重要组成部分之一，目前常见的显示驱动芯片包括LCD驱动芯片和OLED驱动芯片。LCD驱动芯片通过接收控制芯片输出的指令，决定施加何种程度的电压到...
[测试工程] 功率半导体IGBT模块的封装工艺及芯片封测技术发 日期：2024-07-09 18:22:00 点击：178 好评：0
作为新型功率半导体器件的主流器件，IGBT应用非常广泛，如家用电器、电动汽车、铁路、充电基础设施、充电桩，光伏、风能，工业制造、电机驱动，以及储能等领域。 IGBT模块是新一...
[测试工程] IGBT如何进行可靠性测试？ 日期：2024-07-07 15:57:00 点击：158 好评：0
安森美通过制定保证质量和可靠性的四步计划，达到理想的IGBT产品可靠性： 1.严格的过程控制和检查 2.彻底评估设计和材料 3.过程平均测试，包括 100% QA冗余测试 4.通过审核和可靠性研...
[测试工程] SiC MOSFET 器件栅氧可靠性研究综述 日期：2024-07-07 14:17:00 点击：161 好评：0
会议推荐 院士领衔！第一届氧化镓技术与产业研讨会 杭州富加镓业科技有限公司、杭州镓仁半导体有限公司、半导体在线、亚洲氧化镓联盟将于7月17-18日在杭州联合组织召开第一届氧...
[可靠性测试] 微电子封装材料及其可靠性研究进展 日期：2024-07-04 21:47:00 点击：209 好评：0
摘要 随着微电子产业的发展，各种封装技术不断涌现，对于封装材料的内应力、导热性、电性能都提出了更高的要求。本文介绍了聚合物微电子封装的主要材料，包括环氧树脂、有机硅...
[测试工程] 如何测试晶振电路是否满足设计要求？都测了哪 日期：2024-07-04 19:20:00 点击：211 好评：0
以下文章来源于硬件工程师炼成之路，作者炼成之路 电路设计好之后，如何测试晶振电路是否满足设计要求呢？ 关于晶振的测试，我在某元器件官网上面看到一个比较好的视频，有5节...
[测试工程] 5. JTAG：揭开芯片测试的神秘面纱 日期：2024-07-03 22:16:00 点击：185 好评：0
在半导体测试领域，JTAG（Joint Test Action Group）已经成为不可或缺的一部分。本文将带您深入了解JTAG的概念、架构、指令集及其在边界扫描测试中的应用，帮助您更好地掌握这一重要技术...
