欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 测试工程 >
  • [可靠性测试] 芯片研发过程中的可靠性测试有哪些 日期:2024-09-05 22:48:33 点击:198 好评:0

    芯片的质量主要取决于市场、性能和可靠性因素。 首先,在芯片开发的早期阶段,需要对市场进行充分的研究,以定义满足客户需求的SPEC;其次是性能,IC设计工程师设计的电路需要通...

  • [可靠性测试] B5 芯片/IC (Integrated Circuit)初探及其可靠性测试/ 日期:2024-09-05 21:35:00 点击:184 好评:0

    前言:俺木有IC 研发工作经验,工作中有涉及IC失效分析;本文all refer from books and websites, 仅供参考。 一、制造过程 1. 硅片制备 - 将硅从沙中提炼并纯化经过特殊工艺产生硅锭切割为薄...

  • [测试工程] SoC芯片设计系列---深入理解系统级测试(SLT) 日期:2024-09-04 21:12:00 点击:167 好评:0

    在半导体行业中,系统级测试(SLT)作为一种重要的测试手段,正变得越来越不可或缺。随着芯片设计的复杂度日益增加,传统的自动测试设备(ATE)已经无法全面覆盖所有可能的故障...

  • [测试工程] 【芯·试】第10期:CIS芯片测试到底怎么测? 日期:2024-09-03 23:10:00 点击:132 好评:0

    一、CIS概述 智能家居、智能城市以及智能制造共同组建了我们所生活的智能环境。随着生活模式渐趋数据化,图像传感器成为连接现实世界与数据网络的关键。CIS是CMOS图像传感器(C...

  • [测试工程] 芯片测试之开短路OS测试 日期:2024-09-03 20:05:00 点击:96 好评:0

    开短路测试open/short test也称为continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有开短路缺陷,例如晶圆阶段的制程缺陷,封装成品阶段打线缺陷,引脚ESD损坏,通...

  • [测试工程] 半导体之ATE测试-概述 日期:2024-09-02 21:43:00 点击:110 好评:0

    01 那么啥是ATE呢?ATE测试是自动测试设备(Automatic Test Equipment)进行的测试,它在半导体产业中用于检测集成电路(IC)的功能完整性。ATE是集成电路生产制造的最后一道流程,目的是...

  • [测试工程] 芯片测试,大有可为! 日期:2024-09-02 20:31:00 点击:144 好评:0

    2020年《新时期促进集成电路产业和软件产业高质量发展的若干政策》印发,中国政府第一次将封测企业拆分为封装企业和测试企业,预示着中国大陆紧缺的第三方专业测试公司正逐步加...

  • [测试工程] 芯片测试流程阐述 日期:2024-08-31 18:19:00 点击:136 好评:0

    在高度精密和复杂的集成电路领域,芯片测试是确保产品性能符合设计规范的关键步骤。测试流程主要分为几个主要阶段,包括晶圆前测试(Chip Probing, CP)、最终测试(Final Test, FT)和...

  • [可靠性测试] AEC-Q102高温工作寿命中关于降额曲线的介绍 日期:2024-08-24 21:27:17 点击:65 好评:0

    在产品规格书中,降额曲线对于高温操作寿命(HTOL)测试具有重要影响。HTOL测试是一种评估半导体器件在高温和偏置条件下的可靠性的方法。以下是对HTOL测试中降额曲线影响的详细解...

  • [测试工程] 42页ppt,详解半导体封装测试流程! 日期:2024-08-24 20:09:00 点击:211 好评:0

    ...

  • 首页
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10
  • 11
  • 下一页
  • 末页
  • 31306
栏目列表