[测试工程] 芯片检测应用中无损检测-X-ray 日期：2025-01-18 20:23:44 点击：139 好评：0
01 测试原理 X射线可以穿透普通可见光无法穿透的物质，穿透能力与X射线的波长及穿透材料的密度、厚度有关，X射线波长越短，穿透率越高，密度越低且厚度越薄，X射线穿透就越容易...
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[测试工程] V93000学习入门(9)补充篇 日期：2025-01-18 08:07:18 点击：113 好评：0
有位大哥在阅读了《 V93000学习入门(9) 》后指出，文中关于firmware commands的介绍不够全面，以及是否pin configuration等配置脚本中也有命令字，故在此补充相关内容，参考第3节和第4节。 需...
[测试工程] ATE测试中的AC和DC测试 日期：2025-01-13 20:37:57 点击：211 好评：0
ATE（Automatic Test Equipment）测试是用于检测集成电路（IC）性能和可靠性的自动化测试过程。ATE测试包括直流（DC）测试和交流（AC）测试，这两种测试方法评估IC的不同特性： 直流（DC）...
[测试工程] IC测试术语 日期：2025-01-09 21:02:45 点击：137 好评：-2
在集成电路（IC）测试领域，有许多专业术语用于描述测试过程中的各种概念和步骤。以下是一些常见的IC测试术语。 1. 热切换（Hot Switching） 定义：热切换是指在电路中继电器（relay）...
[测试工程] 芯片测试中的Trim2 日期：2025-01-09 20:55:55 点击：231 好评：0
在集成电路（IC）的测试过程中，Trim（微调）技术是一种关键的工艺，它通过对芯片内部某些参数（如电压、电流、频率等）的调整，使芯片达到设计规格或性能要求。 随着芯片制造工...
[测试工程] 芯片测试中的Trim 日期：2025-01-09 19:05:00 点击：115 好评：0
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[测试工程] AEC-Q系列标准中的静电放电（ESD）测试 日期：2025-01-08 20:46:00 点击：142 好评：0
什么是静电放电（ESD） Electro-Static Discharge，是指在特定环境下，由于静电的积累到达一定程度后，电荷以迅速释放的方式恢复电平衡的现象。这种放电可能由接触、摩擦或感应等多种方...
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[测试工程] V93000学习入门(8) 日期：2025-01-08 19:29:00 点击：132 好评：0
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[测试工程] NAND Flash 存储器测试 日期：2025-01-08 18:14:00 点击：237 好评：2
存储器作为存储信息的媒介，在集成电路产业里占据着重要的地位。 随着三维存储技术在NAND Flash生产制造中的广泛应用，NAND Flash正朝着更高存储密度、更大存储容量、更快数据传输速...
[测试工程] 基于ATE的IC测试原理(2) 日期：2025-01-07 21:14:37 点击：240 好评：0
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