[可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期：2018-05-28 10:23:19 点击：65 好评：0
失效分析基本概念 定义：对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...
[测试优化工程] 测试不稳定怎么办 日期：2018-04-16 10:47:54 点击：260 好评：31
最近遇到好几起测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问...
[测试机台] 低成本、高效率8site MOSFET/IC 量产测试解决方案 日期：2017-09-27 17:55:15 点击：1149 好评：89
众所周知，近几年，国内集成电路的飞速发展，让国外友商们刮目相看，其中分立器件的发展并没有因为芯片的集成度越来越高而衰落，反而出现了越来越好的行情，究其原因在于大功...
[可靠性测试] IC产品的质量与可靠性测试 日期：2018-01-14 16:46:55 点击：570 好评：32
质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量（Quality）就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（SPEC）的要求，是否符合各项性能指标的...
[开发经验] 电路板绘制经验 日期：2016-12-22 10:06:44 点击：441 好评：2
一、印制板设计要求 1、正确 这是印制板设计最基本、最重要的要求，准确实现电原理图的连接关系，避免出现短路和断路这两个简单而致命的错误。这一基本要求在手工设计和用简单...
[优化经验] 集成电路里的大数据 – 浅谈芯片量产测试数据的 日期：2015-09-06 22:03:55 点击：1718 好评：29
最近几年，大数据一直是个非常热门的话题。当人们津津乐道于互联网时代海量的数据能给我们带来如何的机会和价值的时候，很多作为集成电路行业的人士却常常会忽略了自己平时工...
[优化经验] 测试基础篇-Spike Check 日期：2015-09-05 15:47:17 点击：1250 好评：20
什么叫Spike Check，就是检查输出的峰值电压（Voltage Peak Testing），以防止过压对IC造成损伤或损坏（通常称之为 EOS electrical overstress）。 如下图1所示，就是利用示波器抓到的某个管脚的波...
[测试开发工程] EEPROM的功能测试-基于I2C总线技术 日期：2015-09-05 15:05:47 点击：1080 好评：2
本文在分析了I2C总线的工作原理及其特点后，通过对台湾旭星公司生产的2Kbits的串行EEPROM芯片24LC02的功能部分测试实例分析，提出了I2C总线应用下的EEPROM的一般功能测试方法。 I 2 C(In...
[优化经验] 如何合理的减少测试时间(Test Time Reduction) 日期：2015-09-05 15:00:27 点击：1020 好评：10
减少测试时间可以提高生产效率，减少测试成本是作为测试工程师一项重要工作。测试不仅仅是把参数测出来测准确，还要用时越短越好。 那么如何合理的减少测试时间呢？下面针对...
[优化经验] 测试数据分析-常用分析方法 日期：2015-05-05 08:17:13 点击：1669 好评：55
测试数据分析，对于无论是工厂还是设计公司，无论是晶圆厂还是封测厂，无论是CP还是FT，无论是PE还是TE，都是发现问题的一个重要手段。 但是目前国内专业的测试数据分析软件很少...