可测试性设计(Design for Testability,DFT)是指在产品的设计阶段将测试方法构建到产品中,以便在后续的测试过程中轻松经济地测试各种产品属性和功能。传统的测试方法往往在设计和制...
天线效应 是集成电路在加工过程中孤立节点电荷积累效应的通称。这种效应有时也被称为等离子体诱导损伤、工艺诱导损伤(PID) 或充电效应。在孤立节点通过晶体管的薄栅氧化物放...
FlipChip芯片封装设计教程...
以下文章来源于芯片技术与工艺,作者北湾南巷 芯片技术与工艺 . 在当今科技迅猛发展的时代,半导体芯片的创新已成为推动各行各业,尤其是汽车行业进步的关键力量。随着智能驾驶...
这篇文章带来ECE111第三节课的Slides以及自己的一些补充。 首先回顾了一下上节课所介绍的always_comb语法,该语法用于组合逻辑赋值。需要重点关注的就是 阻塞赋值 ,有关阻塞赋值,可...
这篇文章带来ECE111第二节课的Slides以及自己的一些补充。 第一页slide给了一个加法器的例子。该例子加法的实现方式对于初学者来说可能难以理解,实际上这是 超前进位加法器 。对于...
flow可以简单的理解为流程,但在不同的芯片设计公司,不同的设计阶段,流程又千变万化,不尽相同。 对于工程师来讲,入职一家公司以后,要尽快从同事那搞到flow notes,也就是平时...
摘要 倒装芯片是先进封装中的主流技术之一,而凸块制备工艺又是倒装芯片关键技术之一,随着消费类 电子产品朝着轻薄短小的趋势发展、芯片集成度越来越高、引脚数越来越密集,...
内容转载自互联网...
上一期主要针对芯片在晶圆厂部分涉及到的全盘工艺进行了梳理,本期则主要顺着封测厂部分的工艺展开。通过了WAT测试的晶圆到达封测厂之后,首先封测厂会对晶圆进行中测,即CP测...