在集成电路(IC)测试领域,有许多专业术语用于描述测试过程中的各种概念和步骤。以下是一些常见的IC测试术语。 1. 热切换(Hot Switching) 定义:热切换是指在电路中继电器(relay)...
在集成电路(IC)的测试过程中,Trim(微调)技术是一种关键的工艺,它通过对芯片内部某些参数(如电压、电流、频率等)的调整,使芯片达到设计规格或性能要求。 随着芯片制造工...
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什么是静电放电(ESD) Electro-Static Discharge,是指在特定环境下,由于静电的积累到达一定程度后,电荷以迅速释放的方式恢复电平衡的现象。这种放电可能由接触、摩擦或感应等多种方...
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存储器作为存储信息的媒介,在集成电路产业里占据着重要的地位。 随着三维存储技术在NAND Flash生产制造中的广泛应用,NAND Flash正朝着更高存储密度、更大存储容量、更快数据传输速...
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V93K的电源供电资源的测量能力不仅能够实现高精度的小电流测量,又可以实现最大到100 A的电流测量。 V93K测试系统为实现这两种看似矛盾的测试方法,提供了一种称为Ganging的方法。...
在存储器测试方面,V93000机台软件提供的MTL(Memory Test Language)软件包是一个关键组成部分。MTL软件包能够生成覆盖所有类型存储器的测试码,包括任意宽度的地址或数据总线的存储器...
在V93K中,PE Card、PMU、PPMU和DPS是几个关键模块,它们各自承担着不同的功能。PE card 是 PMU、PPMU 和 DUT 之间的物理连接纽带。PMU 和 PPMU 通过 PE card 将测量信号施加到 DUT 的引脚,DUT 的响...