芯片从设计到成品有几个重要环节,分别是设计-流片-封装-测试,但芯片成本构成的比例确大不相同,一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%。测试是芯片各个环节中最便宜的一...
AEC-Q101文件名称是 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS 翻译过来是 基于失效机制对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试 AEC-Q101最新的版...
信号完整性(SI)和电源完整性(PI)是两种不同但领域相关的分析,涉及数字电路正确操作。在信号完整性中,重点是确保传输的1在接收器中看起来就像 1(对0同样如此)。在电源完整性中,...
按GJB450A《装备可靠性工作通用要求》的规定,可靠性试验共分为6个工作项目。 除GJB 450A规定的可靠性试验工作项目外,从当前可靠性试验技术发展与应用的趋势看,可靠性研制试验包...
随着第一波芯片设计公司科创板上市热潮的逐渐降温,第二波半导体产业的热潮正蓄势待发。从今年至2026年的两三年间,全国各地,小到县城,大到省会,都在密集上马各类半导体相关...
芯片的质量主要取决于市场、性能和可靠性因素。 首先,在芯片开发的早期阶段,需要对市场进行充分的研究,以定义满足客户需求的SPEC;其次是性能,IC设计工程师设计的电路需要通...
前言:俺木有IC 研发工作经验,工作中有涉及IC失效分析;本文all refer from books and websites, 仅供参考。 一、制造过程 1. 硅片制备 - 将硅从沙中提炼并纯化经过特殊工艺产生硅锭切割为薄...
在半导体行业中,系统级测试(SLT)作为一种重要的测试手段,正变得越来越不可或缺。随着芯片设计的复杂度日益增加,传统的自动测试设备(ATE)已经无法全面覆盖所有可能的故障...
一、CIS概述 智能家居、智能城市以及智能制造共同组建了我们所生活的智能环境。随着生活模式渐趋数据化,图像传感器成为连接现实世界与数据网络的关键。CIS是CMOS图像传感器(C...
开短路测试open/short test也称为continuity test或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有开短路缺陷,例如晶圆阶段的制程缺陷,封装成品阶段打线缺陷,引脚ESD损坏,通...