根据之前的介绍,相信大家对芯片出货之前必须做的WAT 测试有了基础的了解,今天就开始具体介绍一下上面文章提到的测试,并针对CMOS进行参数的分析,话不多说,下面就从CMOS制程中...
一.晶圆测试介绍 经过上面的几道工艺之后,晶圆上就形成了一个个格状的晶粒。通过针测的方式对每个晶粒进行电气特性检测,以达到对晶圆的生产制造的精确控制和评估整个工艺制...
特种封装可靠性问题 概述 2025 随着我国军事、航天、航空及机械工业的快速进步,电子设备正朝着多功能集成与微型化方向加速演进。这一发展趋势对电子元器件的封装技术提出了更高...
质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命。质量(Quality)就是产品性能的测量,它回答了一个产品是否合乎规格(SPEC)的要求,是否符合各项性能指标的...
可靠性评价 半导体集成电路的可靠性评价是一个综合性的过程,涉及多个关键技术和层面,本文分述如下: 可靠性评价技术概述 可靠性评价的技术特点 可靠性评价的测试结构 MOS与双极...
预处理(Precondition Test: Pre-con) 测试目的:芯片吸收一定水分,并进入Reflow,然后查看芯片是否有脱层、爆米花效应等;此实验用于模拟芯片在生产、运输、上板使用等过程。 参考规范...
1. 什么是HTOL HTOL是High Temperature Operating Life的缩写,通常指高温工作寿命测试。 2. 为什么要进行HTOL测试 主要达成以下两个目标: 发现潜早期失效 :产品在高温下加速老化,筛选与早期...
可靠性测试结构设计 在 可靠性测试结构设计层次化版图设计 一文中,对层次化版图设计做了初步介绍,本文进一步补充其有关知识,分述如下: 优化设计 非门设计 实际版图设计 1....
等比例缩小规则 等比例缩小规则是MOS集成电路设计中常用的一个规则,它有助于理解微电子工艺升级对集成电路性能提升所起的作用。这个规则主要包括恒定电场(CE)理论、恒定电源...
晶圆 半导体集成电路制造中晶圆制造,可以分为五大制造阶段 本文针对前三个步骤进行介绍,分述如下: 晶圆制备 晶圆制造 晶圆测试 1。 晶圆制备 有关晶圆制造及其主要方法在 晶圆...