随着DDR5内存速率突破6400Mbps,高速信号完整性已成为芯片测试领域的阿喀琉斯之踵。如何通过ATE设备精准捕捉DDR接口的隐性缺陷?本文将解密DDR测试的核心方法论,从关键引脚功能到三...
在数字化时代,数据的高速传输如同城市的交通网络,而 PCIe(Peripheral Component Interconnect Express) 正是这条高速公路的核心基石。从显卡到固态硬盘(SSD),从AI加速卡到5G基站,PCIe凭借...
一.为什么需要编解码? 对于像PCIe这种无同步时钟信号协议而言,为确保电信号的正确传输,需面临如下四个信号传输质量考验: 1. 时钟恢复: PCIe没有单独的时钟线,接收端需从数据...
ADC的INL/DNL测试 一直是生产测试(Production Test)和特性测试(Characterization)的关键难点之一。从ATE的角度来看,测试时间(Test Time)、测试覆盖率(Coverage)和成本(Cost)之间的平衡,...
BMS(电池管理系统,Battery Management System)是用于监控和管理电池组的关键系统,确保其安全、高效和长寿命运行。 BMS初见 1. BMS测试的核心挑战(来自踩过的坑) 实验室完美,现场崩溃...
DC PSRR ( DC Power Supply Regulation , 直流电源 抑制比 ),也称为线性调整率( Line Regulation ),是衡量器件在直流电源电压变化时性能表现的规格参数。 特性表征方法 ( Characterization )...
导热环氧树脂材料提高 电子封装 的可靠性 许多电子设备,性能特征会受到温度的影响。过多的热量会导致组件故障或过早失效。例如,发光二极管(LED)故障的主要原因之一是结点温...
半导体测试 - 基本概念 随着芯片集成度越来越高,手动测试已无法满足需求,因此要用到自动化测试设备(ATE,Automated Test Equipment)。因为现在的芯片原来越复杂,普通的 Bench 测试没...
混合信号测试基础知识 混合信号 混合信号包含模拟信号和数字信号。处理混合信号的器件通常包括 ADC、DAC、模拟开关和多路复用器、采样保持放大器等。 作为其中的一部分,模拟信号...
数字IP测试遇到SCAN Fail如何调试? o 案例背景 这周测试过一批数字芯片,室温和高温都pass,低温却有~5%的SCAN fail。Fail的芯片不连续,且通过rescreen可以回收部分芯片。 o 调试思路(供参...