[测试工程] ATE测试机行业入门——拜问GPT（1） 日期：2025-04-08 20:16:00 点击：182 好评：0
最近新工作，开始接触ATE测试机，作为刚接触此行业的小白，应该如何快速入门呢？抱着好奇心，我们询问了行业大佬Chat GPT。它给出的答案如下： 1. 理解ATE的基本概念和架构 ATE系统由...
[测试工程] ATE测试机行业入门（4）——开尔文测试法 日期：2025-04-08 19:04:00 点击：231 好评：0
按照惯例我们正式开始之前总要吹一会儿牛，总结一下上篇文章的内容：《 ATE行业发展到底怎么样 》，这篇文章非议挺多，大致的原因估计是这个标题取得不合适，实际内容不符合读...
[测试工程] 芯片测试：测试数据分析步骤与注意事项 日期：2025-04-07 19:08:00 点击：116 好评：0
01. 测试数据分析的目的 在半导体制造领域，ATE测试数据分析是提升产品质量、优化生产流程的关键手段。其核心在于精准采集数据并深度剖析，敏锐捕捉参数波动并科学量化其影响，...
[测试工程] 集成电路磁传感器测试技术 日期：2025-04-02 21:29:17 点击：132 好评：0
第一章 集成电路测试概述 1.1 集成电路测试技术概述 集成电路（Integrated Circuit，IC）测试是指对集成电路或模块进行检测，通过对集成电路的输出响应和预期输出进行比较，以确定或评...
[测试工程] 测试工程师必备：如何测试ADC/DAC？ 日期：2025-04-02 20:17:00 点击：129 好评：0
如今，有大量应用都依赖于 数模转换器（DAC） 和 模数转换器（ADC） 。它们在信号处理中至关重要，因为它们构建了数字系统和模拟系统之间的桥梁。通过使数字电路能够与模拟组件交...
[可靠性测试] 【技术圈】晶圆级可靠性评价技术研究展示 日期：2025-03-31 20:30:00 点击：98 好评：0
编者荐语： 欢迎与我们在车规半导体认证测试服务、晶圆设计咨询服务、封装研发咨询服务以及应用相关咨询服务之领域聊聊，与各位共享共赢车规半导体产业链丰富资源，微信或电话...
[可靠性测试] 【技术圈】可靠性测试结构设计报告：——版图 日期：2025-03-31 19:32:00 点击：190 好评：0
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[可靠性测试] 【技术圈】可靠性测试结构设计报告：——层次 日期：2025-03-30 19:39:00 点击：218 好评：0
可靠性测试结构设计 层次化版图设计通过模块化分解和系统级优化，显著提升了设计效率、布局优化和失配控制。然而，工艺偏差和复杂设计仍是挑战。结合Dummy Layer技术、工艺参数控...
[测试工程] 晶圆接受测试（WAT）介绍 日期：2025-03-30 18:13:00 点击：189 好评：2
在智能手机、电脑和自动驾驶汽车等高科技产品的背后，隐藏着一项至关重要的半导体制造技术 晶圆接受测试（Wafer Acceptance Test, WAT） 。它如同芯片的全身体检，确保每一片晶圆在出厂...
[测试工程] 磁SOC芯片测试的角度测试原理 日期：2025-03-28 20:38:00 点击：224 好评：0
磁特性应用SOC芯片测试的磁角度测试原理与方法 磁性角度传感器是一种广泛应用且性能优越的测量设备。它能够快速精准地测量物体的角度位置，并将其转换为数字信号输出。在该技术...
