[可靠性测试] [半导体后端工艺：第一篇] 了解半导体测试 日期：2023-09-10 17:51:11 点击：233 好评：0
#1 半导体后端工艺 #2 测试的种类 #3 晶圆测试 ◎ 晶圆老化（Wafer Burn in） ◎ 晶圆测试 ◎ 维修（Repair） #4 封装测试 ◎ 老化测试（Test During Burn In，TDBI）...
[测试工程] AEC-Q101功率循环测试 日期：2023-09-09 19:32:00 点击：194 好评：0
功率循环测试-简介 功率循环测试是一种功率半导体器件的可靠性测试方法，被列为AEC-Q101与AQG-324等车规级测试标准内的必测项目。相对于温度循环测试，功率循环通过在器件内运行的...
[可靠性测试] AECQ102-汽车照明器件测试认证 日期：2023-09-04 18:23:00 点击：183 好评：0
汽车照明器件LED 汽车行驶时，照明灯具是必不可少的，其主要功能有两点：一是照明功能，即照亮道路，交通标志，行人，其他车辆等，以识别标志和障碍物；二是信号功能，即显示车...
[测试工程] AEC--Q中的ESD测试 日期：2023-09-02 09:23:04 点击：190 好评：0
什么是ESD ESD(Electro-Static discharge)的意思是静电放电。 静电是一种自然现象，它可以通过接触、摩擦、电器间感应等方式产生。由于多种因素的影响，静电电荷会不断积累，直到与一个导...
[可靠性测试] 汽车车灯多种可靠性测试方法 日期：2023-08-26 19:23:26 点击：225 好评：0
在科学技术日益高超的今天，灯具作为汽车装饰中的一环，已渐渐成为许多人关注的零部件之一。而且汽车车灯面临着空气中氧，水，酸性物质等腐蚀因素的影响，加之温度，湿度灯周...
[可靠性测试] 可靠性与安全性 日期：2023-08-17 20:39:00 点击：213 好评：0
1.概念 在整个产品开发过程中，必须认识并协调可靠性与安全性之间的关系。 在产品开发过程中，可靠性和安全性是两个密切相关的概念，需要相互认识和协调。下面将展开可靠性与安...
[测试工程] 内置测试（BIT） 日期：2023-08-17 19:33:00 点击：862 好评：0
1.概念 具有内置测试（BIT）的系统可以进行自我测试，以确定是否已经发生或将要发生故障。提供的信息对于维护目的可能是有用的-允许在遇到任何实际错误之前纠正问题。它还可以确...
[可靠性测试] 分治算法之芯片测试 日期：2023-08-16 20:27:03 点击：172 好评：0
VLSI芯片测试 1. 芯片测试 在讲解具体的芯片测试的分治策略算法之前，先来了解芯片测试的意思。 1.1 一次测试的过程 如上图，A、B为芯片。测试方法为：将2片芯片（A和B）置于测试台...
[可靠性测试] 芯片可测性设计技术(DFT)详解 日期：2023-08-15 19:23:00 点击：266 好评：0
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[可靠性测试] 芯片检测的基本方法 日期：2023-08-13 19:47:00 点击：269 好评：0
今天主要探讨关于芯片检测的方法。不同的芯片和应用领域，可能需要使用不同的检测方法来满足其需求。 手机芯片的检测主要包括以下几个方面： 功能性测试：通过对手机芯片进行...
