[测试工程] ATE唠唠嗑No.7——DC PSRR 日期：2025-06-24 20:24:00 点击：169 好评：0
DC PSRR （ DC Power Supply Regulation ， 直流电源 抑制比 ），也称为线性调整率（ Line Regulation ），是衡量器件在直流电源电压变化时性能表现的规格参数。 特性表征方法 （ Characterization ）...
[可靠性测试] 导热环氧树脂材料提高电子封装的可靠性 日期：2025-06-22 17:18:52 点击：109 好评：0
导热环氧树脂材料提高 电子封装 的可靠性 许多电子设备，性能特征会受到温度的影响。过多的热量会导致组件故障或过早失效。例如，发光二极管（LED）故障的主要原因之一是结点温...
[测试工程] 半导体测试 - 基本概念 日期：2025-06-22 12:33:00 点击：188 好评：0
半导体测试 - 基本概念 随着芯片集成度越来越高，手动测试已无法满足需求，因此要用到自动化测试设备（ATE，Automated Test Equipment）。因为现在的芯片原来越复杂，普通的 Bench 测试没...
[测试工程] 混合信号测试基础知识 日期：2025-06-22 11:05:00 点击：190 好评：0
混合信号测试基础知识 混合信号 混合信号包含模拟信号和数字信号。处理混合信号的器件通常包括 ADC、DAC、模拟开关和多路复用器、采样保持放大器等。 作为其中的一部分，模拟信号...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.6——SCAN 失效调试案例分享 日期：2025-06-21 23:30:24 点击：185 好评：0
数字IP测试遇到SCAN Fail如何调试？ o 案例背景 这周测试过一批数字芯片，室温和高温都pass，低温却有~5%的SCAN fail。Fail的芯片不连续，且通过rescreen可以回收部分芯片。 o 调试思路（供参...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.3——Trim 日期：2025-06-21 19:50:00 点击：135 好评：0
Trim 初见 1. Trim 的核心定义 Trim 是通过物理或软件手段对芯片内部电路参数进行微调的过程，目的是： 补偿制造偏差 （如工艺波动导致的电阻/电容值偏移） 提高精度 （如调整基准电压...
[可靠性测试] 【2】什么是 ORT（On-Going Reliability Testing）？ 日期：2025-06-20 20:37:00 点击：153 好评：0
声明：本文 系本人原创 ， 在没有得到本人许可的情况下，谢绝转载！ 否则违者必究！ 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA)，可靠性试验设计，寿命数据分析的 全流程...
[可靠性测试] 什么是 ORT（持续可靠性测试）？ 日期：2025-06-20 19:15:00 点击：251 好评：0
声明：本文 系本人原创 ， 在没有得到本人许可的情况下，谢绝转载！ 否则违者必究！ 本人已自研满足第5版FMEA标准的风险分析(DFMEA, PFMEA)，可靠性试验设计，寿命数据分析的 全流程...
[可靠性测试] 可靠性测试结构设计——层次化版图设计的优化 日期：2025-06-11 21:12:00 点击：203 好评：0
可靠性测试结构设计 在 可靠性测试结构设计层次化版图设计 一文中，对层次化版图设计做了初步介绍，本文进一步补充其有关知识，分述如下： 优化设计 非门设计 实际版图设计 1....
[可靠性测试] hast可靠性测试 日期：2025-06-11 19:54:00 点击：134 好评：0
hast可靠性测试 HAST即高加速应力测试，是一种重要的产品可靠性测试方法，相关介绍如下： 基本原理 加速老化：通过在高度受控的压力容器内，对样品施加高温、高湿以及高压的组合应...
