[测试工程] 芯片测试中的防护带GuardBand 日期：2025-07-22 19:33:00 点击：144 好评：0
芯片测试中的防护带GuardBand 在芯片测试流程中， 防护带（Guardband） 是确保产品可靠性的重要技术手段，通过设置安全裕度来补偿测试系统的潜在误差。每次测量都会受到误差的影响：...
[可靠性测试] 系统可靠性工程技术，100页PPT，支持下载 日期：2025-07-21 22:16:44 点击：203 好评：0
1、加强产品的发货前的实验与测试，利用浴缸曲线，让故障不要发生在客户那里。 浴缸曲线： 用于描述半导体产品随时间变化的瞬时故障率的通用曲线。也就是说，一个电子设备，他...
[测试工程] 浅谈ATE PLL 测试 --PLL IP 常见IO Pin 脚功能解析 日期：2025-07-21 19:09:00 点击：92 好评：0
了解PLL IP 常见IO PIN脚功效对 PLL IP 的ATE 调试至关重要，本文以以Xilinx PG065 IP 为例，根据PLL IP 的工作原理，详解各IO 功能。 基于PLL（锁相环）的工作原理和常见配置逻辑，Xilinx PG065接口...
[测试工程] JTAG原理解析及其在ATE DFT测试中的应用 日期：2025-07-20 18:20:00 点击：198 好评：0
JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1)，其主要用于芯片，PCB 和系统的测试，调试和编程。通过专用的硬件接口和协议，提供对芯片内部电路的非入...
[测试工程] IC信号与电源引脚对比解析 日期：2025-07-20 17:23:51 点击：93 好评：0
在芯片设计与测试领域，信号引脚和电源引脚是最核心的引脚类型，它们承载着芯片功能实现与稳定运行的关键职责。深入理解各类引脚的功能特性及其在电路中的作用，不仅有助于我...
[测试工程] 浅谈ATE DFT测试--Part2 (LogicBist,MemoryBist) 日期：2025-07-20 12:35:10 点击：159 好评：0
书接上文我们来继续探讨ATE DFT 常见测试项目LogicBist(Lbist) 和MemoryBist(Mbist) 测试。 一、Lbist (Logic BIST) 依赖于芯片内部的 伪随机向量生成器 (PRPG/LFSR)生成伪随机序列，利用 多输入特征寄...
[测试工程] Memory测试浅谈--Part2 日期：2025-07-20 10:10:00 点击：131 好评：0
书接上文 ( Memory测试浅谈 ) 我们来继续探讨ATE Memory常见测试项目--交流参数测试。 交流参数测试(AC Parametric Test): 交流参数测试的目的是确保集成电路(IC)能够符合时序(Timing)规格。在第...
[测试工程] Memory测试浅谈 日期：2025-07-16 19:24:00 点击：236 好评：0
一、 Memory IC简介 每种IC在设计阶段都会设定其特定的规格和性能参数，生产制造过程将严格依据这些规格进行。测试设备的作用就是检测生产出的IC是否符合既定规格要求。 关于IC规格...
[测试工程] 浅谈DC测试--IIH/IIL 并行测试 & 集群测试 日期：2025-07-15 20:26:00 点击：176 好评：0
书接上文，IIH/IIL 除串行测试（需 ATE 具备 PerPin PMU 结构）外，IIH/IIL 测试还可采用更节省时间的 并行测试 方式。如需进一步压缩测试时间，可基于 DUT 的 I/O 结构考虑实施 集群测试 。...
[测试工程] ATE DFT 测试-Part1(Bscan,ScanDC,ScanAC) 日期：2025-07-15 19:16:00 点击：92 好评：0
在千万级晶体管的芯片战场上， DFT测试Pattern 就是工程师的诊断听诊器。本文浓缩产线实战精华，聚焦ATE最核心的三大Pattern： BSCAN （边界扫描） ScanDC （静态缺陷检测） ScanAC （动态时...
