[测试工程] 通俗理解芯片测试相关常见术语 日期：2026-08-20 21:16:00 点击：186 好评：0
你可以把芯片测试理解成： 芯片出厂前的体检 + 考试 + 分班先看它能不能正常工作，再看它能跑多快、耐不耐热、耗不耗电，最后决定它是高端版、普通版，还是不合格品。 一、芯片...
[测试工程] MEMS传感器测试，为什么离不开振动台、转台和压 日期：2026-08-17 22:43:15 点击：159 好评：0
摘要： MEMS传感器干的是把物理量变成电信号。加速度、角速率、压力都看不见摸不着，测它不能像数字芯片那样灌向量读响应，得先造一个已知的物理世界，再读它的输出对不对。今...
[测试工程] 大芯片拆成小裸片 测试这笔账反而更难算 日期：2026-08-17 20:09:00 点击：178 好评：0
Chiplet 把一颗大芯片拆成多颗小裸片分别制造再先进封装，单颗裸片的制造良率确实更高。但测试端迎来一道新账：多颗裸片的良率要相乘，封装前每颗都得是已知良好裸片，封装后裸...
[测试工程] 同一颗芯片，不同测试厂良率差好几个点：问题 日期：2026-08-12 20:58:44 点击：155 好评：0
摘要： 设计公司把同一批晶圆分给两家测试厂，回来良率一个九十五、一个八十八，这种事在行业里太常见。先别急着怪工艺，良率这个数字本身，有一大半是测试过程造出来的。今天...
[测试工程] 输出功率、EVM、ACLR：射频芯片测试到底在卡什么 日期：2026-08-09 22:09:41 点击：136 好评：0
摘要： 数字电路测的是 0 和 1，模拟电路测的是准不准，射频芯片测的又不一样。它要在 GHz 级的频率上，把一个调制信号从天线前一级送出去，看它够不够强、调制够不够准、有没有...
[测试工程] 导通电阻、Qg、双脉冲：功率器件测试到底在卡什 日期：2026-08-09 20:02:00 点击：67 好评：0
摘要： 一颗功率器件不处理逻辑信号，也不处理调制波形，它干的是把电能高效地搬来搬去。MOSFET、SiC、GaN 在电源、电机、快充、车载充电机里反复开关，测试它们的重点始终绕不开...
[可靠性测试] 可靠性—HAST介绍 日期：2026-08-09 18:37:00 点击：98 好评：0
什么是HAST？ （Highly Accelerated Temperature And Humidity Stress Testing）即高加速应力测试。通过对样品施加高温高湿以及高压的方式，实现对产品加速老化的一种试验方法。广泛用于PCB、IC半导...
[测试工程] ATE测试解惑：低温低压到底是不是最坏测试工况 日期：2026-07-29 21:25:00 点击：164 好评：0
做过芯片ATE量产测试的朋友基本都有同感：芯片的大部分功能性失效、测试良率波动、临界报错，很少出现在高温高压的常规可靠性测试场景里，反而大多集中在低温、低压的组合测试...
[可靠性测试] 车规芯片可靠性解析：为何严苛的BHAST仍无法替代 日期：2026-07-27 23:17:51 点击：219 好评：0
在AEC-Q100车规芯片认证体系中，BHAST与UHAST是两项核心的高加速湿热可靠性测试。行业内普遍公认，带电压偏置的BHAST测试环境更苛刻、失效触发力度更强，能快速暴露芯片通电工况下的...
[可靠性测试] 栅极可靠性老化研究——第三部分 HTGB DGS退化特 日期：2026-07-24 19:36:00 点击：175 好评：0
AccoPower 在第二部分，我们对HTGB和DGS的老化机理进行了阐述，包含缺陷生成、俘获-去俘获过程等，有了深浅能级缺陷的概念。 可靠性研究 | 从静态偏压到动态应力：功率半导体栅极可靠...
