[可靠性测试] 芯片能用多少年？从HTOL到TDDB，揭秘半导体寿命预 日期：2026-09-07 20:01:00 点击：174 好评：2
芯片在实验室里通过了CP、FT，并不意味着它可以在实际产品中稳定工作10年、15年甚至更久。对于汽车电子、工业控制、通信设备以及服务器等产品而言，真正重要的问题是：芯片在长...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第17期】｜看懂量产良 日期：2026-08-25 22:23:30 点击：210 好评：2
开篇：为什么你看的良率，永远比别人浅一层？ 做ATE量产，所有人每天都在看良率。 但大部分人的状态是：良率正常就安心，良率跌了就慌乱。 只看一个百分比数字，涨了就稳、跌了...
[测试工程] 测试报 fail 之后：失效分析如何把坏芯片追到根 日期：2026-08-25 19:06:00 点击：243 好评：0
一颗芯片在测试机上被判 fail，故事其实才刚开始。测试程序只负责发现芯片不符合规格，却不负责解释它为什么坏。要把失效追到物理根上，靠的是失效分析。它用电性复现锁定症状...
[测试工程] 边界扫描（Boundary Scan）测试原理：通俗解读（含 日期：2026-08-21 22:09:44 点击：234 好评：0
我们可以把芯片想象成一座精密的微型工厂，核心逻辑（比如CPU、FPGA的核心电路）是工厂的生产车间，芯片的I/O引脚是工厂的大门车间里的产品（电信号）通过大门进出，实现芯片与外...
[测试工程] 什么是CHAR测试？AECQ003详解 日期：2026-08-21 19:43:00 点击：122 好评：0
在半导体芯片测试流程里，很多人容易把量产ATE筛选测试和CHAR特性测试混为一谈，但两者的核心目的、测试逻辑和执行标准完全不同。日常量产ATE测试只做规格内的合格性筛选，快速挑...
[测试工程] 通俗理解芯片测试相关常见术语 日期：2026-08-20 21:16:00 点击：282 好评：0
你可以把芯片测试理解成： 芯片出厂前的体检 + 考试 + 分班先看它能不能正常工作，再看它能跑多快、耐不耐热、耗不耗电，最后决定它是高端版、普通版，还是不合格品。 一、芯片...
[测试工程] MEMS传感器测试，为什么离不开振动台、转台和压 日期：2026-08-17 22:43:15 点击：174 好评：0
摘要： MEMS传感器干的是把物理量变成电信号。加速度、角速率、压力都看不见摸不着，测它不能像数字芯片那样灌向量读响应，得先造一个已知的物理世界，再读它的输出对不对。今...
[测试工程] 大芯片拆成小裸片 测试这笔账反而更难算 日期：2026-08-17 20:09:00 点击：211 好评：0
Chiplet 把一颗大芯片拆成多颗小裸片分别制造再先进封装，单颗裸片的制造良率确实更高。但测试端迎来一道新账：多颗裸片的良率要相乘，封装前每颗都得是已知良好裸片，封装后裸...
[测试工程] 同一颗芯片，不同测试厂良率差好几个点：问题 日期：2026-08-12 20:58:44 点击：176 好评：0
摘要： 设计公司把同一批晶圆分给两家测试厂，回来良率一个九十五、一个八十八，这种事在行业里太常见。先别急着怪工艺，良率这个数字本身，有一大半是测试过程造出来的。今天...
[测试工程] 输出功率、EVM、ACLR：射频芯片测试到底在卡什么 日期：2026-08-09 22:09:41 点击：163 好评：0
摘要： 数字电路测的是 0 和 1，模拟电路测的是准不准，射频芯片测的又不一样。它要在 GHz 级的频率上，把一个调制信号从天线前一级送出去，看它够不够强、调制够不够准、有没有...
