[可靠性测试] HTOL寿命试验后的MTTF数值如何判读? 日期：2025-09-15 13:53:48 点击：269 好评：0
HTOL（High Temperature Operating Life，高温工作寿命）试验后的MTTF（Mean Time To Failure，平均失效前时间）数值是评估芯片长期可靠性的关键指标。正确判读它至关重要。 一、 核心概念：MTTF 和...
[测试工程] 一次性讲透！降压转换器的 PCB 布局设计方法 日期：2025-09-12 15:45:12 点击：95 好评：0
在开关电源的设计中，PCB 布局设计与电路设计同样重要。合理的布局可以避免电源电路引起的各种问题。不合理的布局可能导致的问题有输出和开关信号叠加引起噪声量增加、调节性能...
[测试工程] SOI集成电路技术 日期：2025-09-11 15:16:00 点击：202 好评：0
SOI集成电路技术 概述 2025 本文将介绍特殊的SOI集成电路，从器件类型与工作原理、器件与电路特性优势、衬底材料制备方法及集成制造工艺等维度展开系统阐述。 SOI器件类型和工作原...
[测试工程] 浅谈其I2C总线工作原理与应用 日期：2025-09-10 11:14:13 点击：189 好评：0
硬件工程师一枚，专职打杂，偶尔做下Layout，偶尔做下EMC，偶尔做下SI/PI仿真和测试。业余收集、分享电子行业技术文章和信息 一、简介 I2C（Inter－Integrated Circuit）总线是一种由Philip...
[测试工程] ATE测试机电源板卡-VI源功率曲线 日期：2025-09-09 19:23:00 点击：206 好评：2
今天继续聊聊DPS电源板卡的参数功率曲线。 如果查看一个DPS板卡的性能指标，除了档位，精度，分辨率以外，估计最能代表板卡性能的就是功率曲线了。 这篇文章以初学者的角度，试...
[可靠性测试] DFT（Design for Test）可测试性设计概述：芯片质量 日期：2025-08-28 19:28:00 点击：339 好评：0
一、DFT的本质与价值 1. 核心定义 在当今数字化时代，芯片作为现代科技的核心，其复杂度和重要性都在不断攀升。从智能手机到AI，从汽车电子到IOT，芯片无处不在，而其质量的优劣直...
[测试工程] ATE测试机电源板卡-共地源和浮动源 日期：2025-08-27 22:00:13 点击：295 好评：2
DPS板卡通常有两种类型，一种是共地源，一种是浮动源。通过今天的分享，我们试图搞清楚以下几个问题： 1.什么是共地源，什么是浮动源？ 2.共地源，浮动源的优缺点有哪些？ 3.浮动...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.1——Guardband 日期：2025-08-27 21:50:01 点击：185 好评：0
防护带（Guardband）设计是ATE测试中的关键环节，其核心是通过压缩测试限值窗口来确保： 生产测试（FT）通过的器件100%符合规格书（Spec）要求 器件在后续测试（如QA验证、客户复测等...
[测试工程] 什么是 LVDS？ 日期：2025-08-27 20:29:00 点击：219 好评：2
本文旨在为需要应用或测试高速接口的工程师提供关于低压差分信号（LVDS：Low Voltage Differential Signal）技术的相关科普。文章将尽量深入浅出地讲解LVDS的基本工作原理、其相较于其他接...
[测试工程] ATE测试中的Handler是什么？ 日期：2025-08-27 19:07:00 点击：315 好评：0
待测器件（集成电路）被装载到测试头中进行测量。但需要测量的器件数量极其庞大，每天可达数千甚至数万件。这样的数量超出了我们的处理能力。 所以，Handler（机械手/分选机）的...
