[可靠性测试] 可靠性测试-JEDEC 日期：2024-10-26 19:19:00 点击：84 好评：0
可靠性测试 以下是 TI 对产品进行的各种可靠性测试的相关信息： 加速测试 大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。但我们不能等到若干年后再研究器件；我们必须增加施...
[测试工程] 测试IC芯片的全流程详解，准备工作和测试步骤 日期：2024-10-22 21:05:10 点击：179 好评：0
测试IC芯片是确保其性能和可靠性的重要步骤。在进行测试之前，必须做好充分的准备。以下是测试IC芯片的全流程详解，包括准备工作和测试步骤。 1. 测试前的准备工作 a. 确定测试需...
[测试工程] 芯片老化实验，第三方芯片老化实验机构 日期：2024-10-22 20:47:12 点击：139 好评：0
芯片老化实验是一种用于评估芯片在长期使用过程中可靠性和稳定性的测试方法。该实验通过模拟芯片在实际使用环境中的工作条件，对芯片进行长时间的加速老化测试，以检测芯片是...
[可靠性测试] 电容可靠性及常见电容概述 日期：2024-10-14 20:15:00 点击：229 好评：0
本文讨论了DC-DC转换器中常用的电容类型，如MLCC的高电容值和稳定性，但易受电压、频率和温度影响；钽电容容量大且稳定，但有热击穿风险；电解电容用于滤波和尖峰电流处理，强调...
[测试工程] 半导体封装技术基础详解(PPT） 日期：2024-10-12 19:03:00 点击：208 好评：0
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[测试工程] AEC-Q102标准解析:分立光电半导体元件测试指南 日期：2024-10-11 19:22:00 点击：218 好评：0
汽车光电半导体元件的测试基准 在汽车电子领域，随着技术的进步和汽车功能的日益增多，对电子元件的可靠性和性能要求也越来越高。特别是在汽车照明、传感器、显示技术等方面，...
[测试工程] 电容可靠性及常见电容概述 日期：2024-10-10 19:07:41 点击：228 好评：0
本文讨论了DC-DC转换器中常用的电容类型，如MLCC的高电容值和稳定性，但易受电压、频率和温度影响；钽电容容量大且稳定，但有热击穿风险；电解电容用于滤波和尖峰电流处理，强调...
[测试工程] 晶振原理详解及测试方法 日期：2024-10-10 17:10:00 点击：214 好评：0
一、有源晶振和无源晶振工作原理： 1.无源晶振工作原理： 在石英水晶片的两边镀上电极，通过在两电极上加一定的电压，因为石英有压电效应，电压形成了，自然就会产生形变，从而...
[测试工程] 芯片测试方法及流程概述 日期：2024-10-09 20:38:54 点击：290 好评：0
芯片从设计到成品有几个重要环节，分别是设计-流片-封装-测试，但芯片成本构成的比例确大不相同，一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%。测试是芯片各个环节中最便宜的一...
[测试工程] AEC Q101中文版及内容解读（正文部分） 日期：2024-10-09 18:05:00 点击：189 好评：-2
AEC-Q101文件名称是 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS 翻译过来是 基于失效机制对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试 AEC-Q101最新的版...
