[可靠性测试] IC 产品的质量与可靠性测试 日期：2024-11-03 19:31:38 点击：198 好评：0
IC 产品的质量与可靠性测试 (IC Quality Reliability Test ) 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC 产品的生命，好的 品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所...
[可靠性测试] IC芯片老化测试以及方案详解 日期：2024-11-03 18:27:00 点击：168 好评：0
芯片老化试验是一种对芯片进行长时间运行和负载测试的方法，以模拟芯片在实际使用中的老化情况。 1. 目的：芯片老化试验的目的是评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性...
[测试工程] 晶圆生产中工艺参数监控和测试相关的术语 日期：2024-10-31 21:14:36 点击：174 好评：0
1. Monitor 在晶圆生产中，Monitor指的是对设备、工艺或产品进行实时或定期的监控，以确保其处于正常的运行状态。例如，某些设备或工艺步骤需要通过monitor数据来判断是否可以继续生产...
[测试工程] IC测试键（Test Key） 日期：2024-10-31 20:46:58 点击：332 好评：0
IC测试键（Test Key）是集成电路（IC）测试中的重要概念。 1. 什么是IC测试键？ IC测试键可以看作是芯片设计中的窗口或探针点，这些特定位置的电路接口，能够让你在制造或测试阶段窥...
[测试工程] CP测试和WAT测试的区别 日期：2024-10-31 19:30:00 点击：249 好评：0
在集电路的制造和测试过程中，CP测试（Chip Probing）和WAT测试（Wafer Acceptance Test）是两个非常重要的测试环节。尽管它们都在晶圆（Wafer）阶段进行，但二者的目的、测试对象、测试内容...
[可靠性测试] ATE测试工程师是干啥的？ 日期：2024-10-31 18:22:00 点击：307 好评：0
ATE（自动测试设备）测试师，你的主要职责就是使用特定的测试机台和工具，确保集成电路（IC）在量产阶段的质量和可靠性。在这一角色中，ATE测试工程师需要结合理论知识和实际操...
[测试工程] SoC芯片设计系列---晶圆测试（CP测试）概述与流程 日期：2024-10-30 20:10:00 点击：347 好评：0
SoC芯片 . 领先的芯片技术资讯平台！提供最新的行业新闻、技术突破以及SoC芯片设计专业技术知识，致力于为工程师、技术爱好者和行业分析师提供价值。 一、什么是CP测试？ CP测试（...
[可靠性测试] 芯片封装可靠性术语 日期：2024-10-28 21:02:00 点击：182 好评：0
### 芯片封装可靠性术语解析 在芯片封装领域，为了确保封装后的芯片能够在各种恶劣环境中稳定工作，需要对其进行一系列的可靠性试验。这些试验旨在模拟实际应用中的极端情况，...
[测试工程] ATE测试—新手入门学习（二）【6-10】 日期：2024-10-28 20:24:00 点击：281 好评：2
、 6、测试机的介绍 （1）数字模拟 （2）测试机 1：测试器件类别 2：多站并发测试模式 3：通用测试系统内部结构 7、ProberHandler （1）探针台（Prober） （2）分选机（Handler） 8、ProbeCar...
[测试工程] ATE测试—新手入门学习（一）【1-5】 日期：2024-10-28 19:00:00 点击：543 好评：4
1、什么是ATE测试 2、为什么要做ATE测试 3、CP测试 （1）简要介绍 （2）CP测试流程 4、FT测试 5、BI测试 ATE测试新手入门学习（二）【6-10】 ATE测试新手入门学习（三）【11-14】 1、什么是...
