[可靠性测试] 可靠性试验中几个寿命加速模型 日期：2025-05-06 20:45:00 点击：243 好评：0
在可靠性工程领域，寿命加速模型是预测产品寿命的关键工具。 通过合理选择加速模型，可将传统耗时数年的寿命试验缩短至几周，显著提升研发效率。 实际应用中需结合失效机理验...
[测试工程] 半导体测试板（ATE）介绍和分类 日期：2025-05-06 19:26:00 点击：337 好评：0
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[可靠性测试] 一文理解芯片可靠性测试项目 日期：2025-05-05 14:43:33 点击：162 好评：0
可靠性试验，是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种...
[测试工程] 晶圆接受测试（WAT）：Vth测试解析 日期：2025-04-27 22:38:08 点击：349 好评：2
引言：WAT为什么要测Vth？ 在芯片制造的纳米世界里，阈值电压（Threshold Voltage, Vth）如同人体的血压值微小偏差即可导致系统性崩溃。作为晶圆接受测试（WAT）的核心指标之一，Vth直接...
[测试工程] 芯片测试中 ，与漏电相关的测试项有哪些？ 日期：2025-04-27 21:12:00 点击：268 好评：0
下面是关于芯片测试中与漏电相关的测试项的详细介绍，涵盖了测试原理、方法、参数以及应用背景。 1. 漏电现象的背景 1.1 漏电流的定义 漏电流是指在 器件非导通或静态状态下 ，由...
[测试工程] 芯片测试中的“Trim”项是什么？为什么需要进行 日期：2025-04-24 21:40:31 点击：367 好评：0
01. Trim 的定义 修调（Trim）是芯片制造后道环节的核心校准技术，通过物理或逻辑手段调整芯片内部结构，使其关键性能参数达到设计目标。在CP和FT阶段，工程师利用修调技术对因制造...
[可靠性测试] 可靠性验证标准AEC-Q102 日期：2025-04-24 19:22:00 点击：190 好评：0
AEC-Q102是汽车电子委员会（AEC）针对光电半导体元器件制定的国际可靠性验证标准，其核心目标是通过一系列严苛的测试确保器件在汽车极端环境下的长期稳定性和安全性。 对于半导体...
[测试工程] 2025年第三届上海新质生产力集成电路产教融合大 日期：2025-04-23 19:12:00 点击：256 好评：0
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[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 22:44:09 点击：144 好评：0
一、新器件认证与变更器件认证 上期主要围绕AEC-Q100中的GROUP A~GROUP G的7组测试项目展开，对应的是标准文档表2的内容。 针对新器件的认证，AEC-Q100规定 ： 对于每个资格认证，供应商必...
[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 21:27:00 点击：114 好评：0
AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等，具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...
