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  • [测试优化工程] RELAY关断时波形对比 日期:2014-05-22 22:07:11 点击:849 好评:14

    RELAY 关断时感应波形对比 一、对象 RELAY_A:OMRON 2097N2 +12V 双刀双掷白色继电器 RELAY_B:TPM 20R-1A11N1 +5V 单刀单掷银色继电器 RELAY 线包可等效为电阻与电感并联,RELAY_A电阻约1K,RELAY_B电阻...

  • [优化经验] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---测试良品的标准 日期:2014-02-19 19:11:17 点击:455 好评:11

    IC测试QQ群经典讨论之测试良品的标准 Dragon 11:34:46 求助: 有没有这个标准,说出货的良品里面不良品的百分比是多少算合格? 万分之一? Richard 11:35:38 不是有AQL吗 按GB2828 Dragon 11:35:5...

  • [优化经验] 为什么你的测试测不准—浅谈测试里的误差问题 日期:2014-01-20 15:44:27 点击:784 好评:26

    今天之所以要讲这个话题,主要是因为我看到现在还有不少的测试工程师还在把测试开发当作一个纯软件的工作.从软件的角度来看,输入固定的信息一般总是可以获得确定的结果,无论重复...

  • [优化经验] 设计公司应该如何充分利用量产测试数据 日期:2013-12-19 17:10:14 点击:337 好评:0

    中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...

  • [优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期:2010-08-15 20:58:18 点击:922 好评:2

    本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...

  • [开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期:2010-08-15 20:54:47 点击:523 好评:0

    冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...

  • [开发经验] CSP封装量产测试的问题及解决办法 日期:2008-05-30 21:38:31 点击:562 好评:0

    在当前下游整机厂家对IC封装尺寸及性能的要求日益提高的情况下,无疑,目前的CSP封装以其超小的封装尺寸、优良的散热性能以及较高的性价比,当为众多消费类芯片的封装首选,但...

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