欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 测试工程 >
  • [测试工程] 产品可靠性&封装可靠性项目 日期:2024-08-16 21:50:06 点击:307 好评:0

    预处理(Precondition Test: Pre-con) 测试目的:芯片吸收一定水分,并进入Reflow,然后查看芯片是否有脱层、爆米花效应等;此实验用于模拟芯片在生产、运输、上板使用等过程。 参考规范...

  • [测试工程] 可靠性试验:盐雾试验的测试标准及测试流程 日期:2024-08-15 21:54:58 点击:301 好评:0

    1 . 什么是可靠性试验 1.可靠性的定义:产品在规定时间内完成规定功能的能力2.一般定义:产品在规定时间内能够完成规定功能的能力。3.狭义解释:产品在各种使用条件下发生故障的...

  • [测试工程] AEC-Q102之凝露试验 日期:2024-08-15 20:14:00 点击:195 好评:0

    随着汽车电子产品在车辆中的广泛应用,对这些产品的可靠性和稳定性要求也越来越高。湿度作为汽车工作环境中的关键因素,可能对电子元件造成腐蚀和损坏。因此,AEC-Q102凝露试验...

  • [可靠性测试] AEC-Q100车规芯片可靠性测试介绍 日期:2024-08-14 21:28:36 点击:556 好评:2

    AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称,AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范,旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...

  • [可靠性测试] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期:2024-08-14 20:08:00 点击:253 好评:0

    AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等,具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...

  • [可靠性测试] 芯片常见的可靠性测试方法有哪些 日期:2024-08-14 19:09:00 点击:270 好评:0

    芯片的可靠性测试是确保其在各种条件下正常工作的重要环节。常见的可靠性测试方法包括: 1. 温度循环测试 目的:评估芯片在高温和低温环境中的性能,以测试其耐热和耐冷能力。...

  • [测试工程] 先进封装测试企业名录 日期:2024-08-12 21:17:00 点击:316 好评:0

    175家中国先进封装测试厂营收排行 175家中国先进封装测试厂2023年度营收排行,以下数据随着完善和修订,以下数据不代表最终的样本。 来源:未来半导体...

  • [测试工程] ADVANTEST爱德万测试简介 日期:2024-08-09 19:32:00 点击:1217 好评:0

    爱德万测试 (英语: Advantest Corporation ,全称: 株式会社爱德万测试 ),日本的上市公司,成立于1954年7月1日,当时称为武田理研工业株式会社,1985年才改为现今的名称 [1] 。爱德万...

  • [测试工程] 芯片出厂测试&ATE测试实施 日期:2024-08-08 21:35:13 点击:451 好评:0

    芯片的出厂测试 出厂测试是芯片生产流程中的最后一道质量关卡,其目的是确保每一颗出厂的芯片都符合预定的性能指标和质量要求。出厂测试通常包括以下几个步骤: 一、初步目检...

  • [可靠性测试] IC芯片可靠性测试技术简介( PPT版) 日期:2024-08-08 20:22:00 点击:305 好评:0

    ...

栏目列表