[可靠性测试] ATE测试工程师是干啥的？ 日期：2024-10-31 18:22:00 点击：181 好评：0
ATE（自动测试设备）测试师，你的主要职责就是使用特定的测试机台和工具，确保集成电路（IC）在量产阶段的质量和可靠性。在这一角色中，ATE测试工程师需要结合理论知识和实际操...
[可靠性测试] 芯片封装可靠性术语 日期：2024-10-28 21:02:00 点击：121 好评：0
### 芯片封装可靠性术语解析 在芯片封装领域，为了确保封装后的芯片能够在各种恶劣环境中稳定工作，需要对其进行一系列的可靠性试验。这些试验旨在模拟实际应用中的极端情况，...
[可靠性测试] 可靠性测试-JEDEC 日期：2024-10-26 19:19:00 点击：84 好评：0
可靠性测试 以下是 TI 对产品进行的各种可靠性测试的相关信息： 加速测试 大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。但我们不能等到若干年后再研究器件；我们必须增加施...
[可靠性测试] 电容可靠性及常见电容概述 日期：2024-10-14 20:15:00 点击：229 好评：0
本文讨论了DC-DC转换器中常用的电容类型，如MLCC的高电容值和稳定性，但易受电压、频率和温度影响；钽电容容量大且稳定，但有热击穿风险；电解电容用于滤波和尖峰电流处理，强调...
[可靠性测试] 【可靠性试验】环境应力筛选 日期：2024-09-20 19:05:00 点击：161 好评：2
按GJB450A《装备可靠性工作通用要求》的规定，可靠性试验共分为6个工作项目。 除GJB 450A规定的可靠性试验工作项目外，从当前可靠性试验技术发展与应用的趋势看，可靠性研制试验包...
[可靠性测试] 芯片研发过程中的可靠性测试有哪些 日期：2024-09-05 22:48:33 点击：300 好评：2
芯片的质量主要取决于市场、性能和可靠性因素。 首先，在芯片开发的早期阶段，需要对市场进行充分的研究，以定义满足客户需求的SPEC；其次是性能，IC设计工程师设计的电路需要通...
[可靠性测试] B5 芯片/IC (Integrated Circuit)初探及其可靠性测试/ 日期：2024-09-05 21:35:00 点击：262 好评：2
前言：俺木有IC 研发工作经验，工作中有涉及IC失效分析；本文all refer from books and websites, 仅供参考。 一、制造过程 1. 硅片制备 - 将硅从沙中提炼并纯化经过特殊工艺产生硅锭切割为薄...
[可靠性测试] AEC-Q102高温工作寿命中关于降额曲线的介绍 日期：2024-08-24 21:27:17 点击：114 好评：0
在产品规格书中，降额曲线对于高温操作寿命（HTOL）测试具有重要影响。HTOL测试是一种评估半导体器件在高温和偏置条件下的可靠性的方法。以下是对HTOL测试中降额曲线影响的详细解...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片可靠性测试介绍 日期：2024-08-14 21:28:36 点击：382 好评：2
AEC是Automotive Electronics Council汽车电子协会的简称，AEC-Q则是汽车电子协会制定的一系列电子元器件质量标准和规范，旨在确保汽车电子产品在极端环境下的可靠性和稳定性。 AEC-Q包括多...
[可靠性测试] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2024-08-14 20:08:00 点击：183 好评：0
AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等，具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...
