[测试工程] ESD Latch up测试简介 日期：2022-05-04 10:35:08 点击：112 好评：0
本文详细讲解了ESD 和latch up测试的技术要点，敬请参考...
[可靠性测试] 芯片ESD的原理和测试介绍 日期：2022-05-03 21:14:10 点击：120 好评：4
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损...
[相关技术] SMT生产中锡珠的产生原因及控制方法 日期：2022-05-02 17:33:37 点击：103 好评：2
二十多年来，随着电子信息产品的轻、薄、省电、小型化、平面化的不断发展，促使不同用途的电子产品必须采用表面贴装（SMT）技术。而锡珠对于电子产品具有严重的危害性，因此如...
[测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期：2022-04-25 18:52:55 点击：140 好评：2
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[测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期：2022-04-25 09:42:52 点击：153 好评：8
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期：2022-03-26 13:07:40 点击：161 好评：4
AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...
[测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期：2021-05-12 14:23:00 点击：1110 好评：0
芯片测试过程中，芯片可靠性是非常重要的一环，ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短，表征只是瞬间的芯片性能，那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢？ HTOL，uHAST，BHAST的测试就是...
[测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期：2021-05-08 13:51:00 点击：102 好评：2
在芯片测试过程中，ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见，但在芯片测试中，将其归于几种模型，在保证其可靠性的同时，方便测试。 ESD测试归于两个大...
[测试工程] LatchUp测试详解 日期：2021-05-07 13:28:00 点击：1011 好评：2
大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标，那么IC的可靠性都包括哪些呢？ESD（HBM，CDM），HTOL（老化测试）,HAST(封装可靠性测试),BHAST（偏压可靠性测试），当然还有...
[可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期：2018-05-28 10:23:19 点击：2026 好评：137
失效分析基本概念 定义：对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...
