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  • [测试工程] ESD Latch up测试简介 日期:2022-05-04 10:35:08 点击:112 好评:0

    本文详细讲解了ESD 和latch up测试的技术要点,敬请参考...

  • [可靠性测试] 芯片ESD的原理和测试介绍 日期:2022-05-03 21:14:10 点击:120 好评:4

    静电放电(ESD: Electrostatic Discharge),应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏),所以这种损...

  • [相关技术] SMT生产中锡珠的产生原因及控制方法 日期:2022-05-02 17:33:37 点击:103 好评:2

    二十多年来,随着电子信息产品的轻、薄、省电、小型化、平面化的不断发展,促使不同用途的电子产品必须采用表面贴装(SMT)技术。而锡珠对于电子产品具有严重的危害性,因此如...

  • [测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期:2022-04-25 18:52:55 点击:140 好评:2

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  • [测试理论] 芯片测试的分类讲解 日期:2022-04-25 09:42:52 点击:153 好评:8

    做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试,芯片成本构成一般为人力成本20%,流片40%,封装35%,测试5%【对于先进工艺,流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...

  • [测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期:2022-03-26 13:07:40 点击:161 好评:4

    AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会,由美国三大汽车公司(Chrysler / Ford / GM)联合发起,并于1994年创立,会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...

  • [测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期:2021-05-12 14:23:00 点击:1110 好评:0

    芯片测试过程中,芯片可靠性是非常重要的一环,ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短,表征只是瞬间的芯片性能,那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢? HTOL,uHAST,BHAST的测试就是...

  • [测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期:2021-05-08 13:51:00 点击:102 好评:2

    在芯片测试过程中,ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见,但在芯片测试中,将其归于几种模型,在保证其可靠性的同时,方便测试。 ESD测试归于两个大...

  • [测试工程] LatchUp测试详解 日期:2021-05-07 13:28:00 点击:1011 好评:2

    大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标,那么IC的可靠性都包括哪些呢?ESD(HBM,CDM),HTOL(老化测试),HAST(封装可靠性测试),BHAST(偏压可靠性测试),当然还有...

  • [可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期:2018-05-28 10:23:19 点击:2026 好评:137

    失效分析基本概念 定义:对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...

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