[可靠性测试] RA可靠性测试｜芯片寿命测试：确保电子设备可靠 日期：2024-11-24 18:21:00 点击：235 好评：0
在当今高度数字化的时代，芯片的可靠性对于各类电子设备的性能和稳定性起着至关重要的作用。CTI华测检测 可提供芯片寿命测试，为芯片的可靠性提供了全面而精准的评估方案。 H...
[可靠性测试] 对两个“可靠度”的思考 日期：2024-11-18 19:37:00 点击：104 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（匿名）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 我们在设计试验确认可靠度是否达到目标要求时，产品在试验工况下的可靠度跟实际...
[可靠性测试] 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第一篇） 日期：2024-11-15 19:17:00 点击：193 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（黄永兆）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 1、前言 MLCC（Multi-layer Ceramic Capacitors）片式多层陶瓷电容器，引起MLCC失效的原因...
[可靠性测试] 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第二篇） 日期：2024-11-15 19:03:00 点击：163 好评：2
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（黄永兆）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 第一篇链接： 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第一篇） 3、MLCC不当使用失效原因...
[测试工程] 芯片可靠性测试与设计讨论 日期：2024-11-15 18:28:09 点击：206 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（湛灿辉）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 芯片的寿命试验HTOL（high temperature operation life）测试，曾经被认为某个芯片通过了...
[测试工程] 一文讲透芯片测试 日期：2024-11-15 17:13:00 点击：194 好评：2
本文就芯片测试做详细的讲解和介绍。 芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chip probering)和FT(final test)，某些芯片还会加入SLT（system leve test）。 CP测试 CP测试也叫wafer test，也就是在芯...
[可靠性测试] 元器件可靠性技术（DPA与失效分析） 日期：2024-11-14 19:33:00 点击：170 好评：0
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[测试工程] HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试 日期：2024-11-14 19:13:00 点击：152 好评：0
HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验) 是测定IC等产品可靠性的一种方法。 随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。 参考标准：M...
[测试工程] HTOL 日期：2024-11-14 17:20:00 点击：204 好评：0
HTOL/ LTOL：高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life ） 目的 : 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力 测试条件 : 125℃，1.1VCC, 动态测试 失效机制：电子迁移，氧...
[测试工程] IC 测试入门--测试数据基本介绍 日期：2024-11-12 20:47:00 点击：198 好评：0
题图来源于网络 RightNow(NaNaNa) ,Akon-Freedom 之前说过，一个测试工程师不做数据分析，基本上也就是说他根本就还没理解一个测试工程师的基本职责。这里把一些测试数据的名词做一些介...
