欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

当前位置: 网站主页 > 测试工程 >
  • [开发经验] 测试程序量产导入的一般方法 日期:2013-12-23 17:06:13 点击:683 好评:17

    我前面写的几篇长微博斗是关于测试及产品品质管理的概念性讨论,而这次我想实打实地写一份干货,一份具有实践操作意义的指导说明 --测试程序量产导入的一般方法 我之所以要写这份...

  • [优化经验] 设计公司应该如何充分利用量产测试数据 日期:2013-12-19 17:10:14 点击:439 好评:2

    中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...

  • [开发经验] 集成电路IC测试开发流程规范 日期:2012-04-14 20:48:27 点击:870 好评:9

    第一章 测试规范流程 第二章 确定测试开发进度 第三章 测试前期的准备 第四章 测试方案及相关输出文件 第五章 量产测试调试阶段 第六章 测试程序及测试板验证 第七章 编写测试报告...

  • [S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期:2010-09-15 13:59:18 点击:885 好评:30

    摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...

  • [混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期:2010-08-17 11:09:08 点击:1405 好评:2

    作者:张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...

  • [优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期:2010-08-15 20:58:18 点击:1212 好评:16

    本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...

  • [开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期:2010-08-15 20:54:47 点击:657 好评:7

    冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...

  • [测试生产工程] 测试厂CP及FT测试流程规范 日期:2010-08-10 16:57:34 点击:3811 好评:21

    对于测试厂来说,CP以及FT的测试流程尤为重要,一个良好的测试流程不仅能够提高测试厂的产能,测试效率,而且能够提高客户的认可,好评,本文介绍将分别介绍CP及FT的测试流程,...

  • [测试生产工程] 测试厂产品测试CORRELATION规范 日期:2010-08-10 14:29:17 点击:1058 好评:8

    Correlation作为IC量产测试中一个非常重要的环节,其规范的制定也非常之重要,下面将介绍一种correlation规范的一种,供大家学习参考之用: 1.0 目的 制定產品測試correlation規範,以確保...

  • [开发经验] 浅谈测试方案(test plan)的建立过程 日期:2010-05-06 21:30:16 点击:463 好评:20

    作为测试工程师,测试方案(Test Plan 我们暂时将TP作为它的简称)的建立是我们一项必不可少的工作,那么如何才能建立一个比较完美的TP呢,接下来我们将简单阐述一下TP的相关问题,以...

栏目列表