[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第11期】测试向量Pa 日期：2026-07-15 20:31:00 点击：166 好评：0
开篇闲聊 很多ATE工程师写程序，只会调电压、调电流、改限值， 但最核心的芯片怎么跑、怎么测、怎么判完全搞不懂 。 量产测试真正的灵魂，不是ATE设备，而是 测试向量 Pattern 。 简...
[测试工程] 数字半导体测试入门连载【第 10 期】芯片规格书 日期：2026-07-15 19:26:00 点击：269 好评：0
开篇导语 做芯片ATE测试，规格书就是我们的 唯一标准答案。不少新人写程序踩坑：判据设置出错、测试项漏测、良率批量异常，根源都是看不懂、读不全规格书。很多人只扫功能描述...
[测试工程] 发现测试机台异常，别急着改程序，先按顺序查 日期：2026-07-13 23:13:00 点击：115 好评：0
发现机台异常，先别动程序。 工程师的第一反应往往是改程序把Fail的那台机台调松一点，或者把Pass的那台调严一点，让良率数据对得上。这个动作一旦做了，测试结果就不可信了。因...
[测试工程] 开关电源测试指导书 日期：2026-07-13 19:17:00 点击：214 好评：0
1. POWER FACTOR EFFICIENCY TEST / 功率因素和效率测试 一、目的: 测试S.M.P.S.的功率因素POWER FACTOR,效率EFFICIENCY(规格依客户要求设计). 二.使用仪器设备: (1). AC SOURCE /交流电源; (2). ELECTRONIC LOAD...
[测试工程] 高速PCB布线专家答疑：6个核心问题，一次讲透！ 日期：2026-07-12 21:29:38 点击：75 好评：0
一、关于高速差分信号布线 问： 在PCB上靠近平行走高速差分信号线对时，在阻抗匹配的情况下，由于两线的相互耦合会带来很多好处。但有观点认为这样会增大信号的衰减，影响传输...
[可靠性测试] 芯片高温测试避坑指南 日期：2026-07-12 21:03:20 点击：182 好评：0
结温・环温差异管控与温差超标排查 作为芯片制程与量产测试工程师，在 HTOL老化、高温烘烤、量产高温终测、可靠性摸底 制程中，最隐蔽、最易造成批量质量事故的问题，并非设备报...
[测试工程] 新手必读之半导体CP测试全流程闭坑指南 日期：2026-07-10 21:42:00 点击：345 好评：0
适合人群： 半导体新人、产线操作员、制程工程师、品质管控、设备维护 阅读收益 ： 一篇搞懂晶圆CP测试是什么、设备怎么跑、操作怎么规范、不良怎么预防、高翘曲晶圆怎么处理。...
[测试工程] 四线开尔文测试 日期：2026-07-10 19:12:00 点击：280 好评：0
上一篇我们介绍了浮动源和共地源的原理及差异，本篇我们继续聊一下VI源的四线开尔文测试。 VI源(不论是浮动源还是共地源) 有正端FORCE_H，SENSE_H, 和负端FORCE_L(AGND)和SENSE_L(DGS), 我们在...
[测试工程] 一文吃透爱德万 93K（V93000）ATE 测试机：选型、程 日期：2026-07-09 20:05:00 点击：841 好评：0
做芯片 CP/FT 测试的工程师，几乎没人绕开爱德万 V93000（业内简称 93K）。从消费 MCU、PMIC到车载 SoC、毫米波射频、高速算力芯片，这台综合 ATE 贯穿芯片研发验证与大规模量产。 本文从...
[测试工程] 集成电路测试技术全面解析 日期：2026-07-07 22:54:36 点击：474 好评：2
哈喽芯片测试行业的同行、工程师小伙伴们��不管是刚入行的测试新人，还是深耕 ATE 量产、芯片验证多年的老手，集成电路测试都是贯穿芯片设计、流片、封装、量产全流程的核心...
