[测试工程] 集成电路测试（四）——基于V93000的Digital Captu 日期：2024-11-12 19:32:00 点击：237 好评：0
1、 概念 ENJOY LIFE 数字捕获（Digital Capture）是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能，其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出，并将这些数据存储以供后续分析与处...
[测试工程] 集成电路测试技术 -“概述” 日期：2024-11-12 18:15:00 点击：87 好评：0
集成电路测试技术 概述 芯片/科普 集成电路测试技术在现代电子产业中扮演着至关重要的角色。它不仅确保了芯片的质量和可靠性，还对提升生产效率、降低成本以及推动技术创新具有...
[测试工程] 浅谈ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 日期：2024-11-11 21:58:00 点击：181 好评：0
ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 集成电路测试（一） 01. ATS内部结构 1、第三代自动测试系统的构成 ATS：自动测试系统，表示在计算机控制下，能自动进行量测、处理数据，...
[测试工程] 集成电路测试（二）——功能测试及码型格式 日期：2024-11-11 20:46:00 点击：110 好评：0
测试概 功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试的基本过程是应用一有序或随机组合的测试图形，以电路规定的速率作用于被测器件，并通过观察被测器件输...
[测试工程] 集成电路测试（三）——基于V93000的交流参数测 日期：2024-11-11 19:16:00 点击：162 好评：0
在探索集成电路的奥秘中，机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法，如搜索法，来测量器件的时序关系，确保它们在正确的时间点上...
[测试工程] IC测试项目一般有哪些？ 日期：2024-11-06 20:20:00 点击：212 好评：0
IC测试是保证集成电路产品在实际应用中能稳定运行的关键环节。IC测试项目的相关内容包括直流(DC)测试、交流(AC)测试、功能测试以及混合信号测试。 1. 直流(DC)参数测试 直流(DC)参数测...
[测试工程] Advantest 93000测试机中CLOCK DOMAIN 详解 日期：2024-11-05 21:06:00 点击：255 好评：0
爱德万测试（Advantest）的V93000系列测试系统是一个高度模块化和可扩展的平台，专为复杂和高性能的半导体器件测试而设计，包括系统级芯片（SoC）、存储器、射频（RF）和混合信号器...
[测试工程] CP测试系统的构成 日期：2024-11-05 20:44:00 点击：271 好评：0
CP测试系统可以类比为一个精密的医设备，用于检查晶圆上的芯片是否健康，确保它们在最后加工成成品之前符合规格。这个测试系统主要由以下几个核心部分组成： 测试机（ATE）：就...
[测试工程] 如何测试时钟芯片 日期：2024-11-05 19:04:00 点击：256 好评：0
时钟芯片的测试可以从时钟生成的过程和芯片的关键模块入手。时钟芯片的核心功能是产生稳定、准确的频率输出，并能根据系统的需求调整输出频率。因此，测试主要聚焦在芯片内部...
[可靠性测试] HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解 日期：2024-11-03 20:41:00 点击：353 好评：0
一、HTOL（高温寿命试验） 1. 定义与目的 HTOL（High Temperature Operating Life Test）即高温寿命试验，是一种通过加速热激活失效机制来确定产品可靠性的测试方法。该测试在模拟高温工作环境...
