[测试工程] 浅谈ATE DC 测试--IIH/IIL 串行测试 日期：2025-07-11 19:16:00 点击：242 好评：0
书接上文，咱们接着聊 ATE 的常规DC测试项目--IIH/IIL 静态测试。 一.参数定义 IIH: 输入处于 高电平（H） 时 流入DUT(-) 的 电流（I） ，I/O管脚处于 输入状态 时，输入管脚 到地 的阻抗。...
[可靠性测试] 半导体器件的失效分析及可靠性测试 日期：2025-07-07 22:08:00 点击：253 好评：0
本文重要介绍半导体器件的失效分析及可靠性测试，分述如下： 失效分析概述 封装缺陷与失效 加速失效的因素 可靠性测试 失效分析概述 失效分析实质是对器件的电特性失效采取分析...
[可靠性测试] AEC-Q104认证：芯片模组的可靠性与质量标准 日期：2025-07-04 22:14:26 点击：201 好评：0
车用多芯片模块的可靠性测试标准 随着汽车电子技术的快速发展，车载系统的复杂性不断增加，尤其是电子控制部件、导航系统和多媒体设备等的广泛应用，使得多芯片模块（MCM）的可...
[可靠性测试] AEC-Q102 认证体系中的机械可靠性测试 日期：2025-07-04 19:14:00 点击：206 好评：0
在自动驾驶与电动化技术的驱动下，光电半导体器件（如激光雷达、车用 LED、光传感器等）已成为汽车感知环境的核心组件。 然而，车辆在行驶中面临的机械应力包括高频振动、路面...
[测试工程] 浅谈ATE PCIe 测试 --5 日期：2025-07-03 22:06:00 点击：137 好评：2
当PCIe技术以几何级数突破带宽极限，从Gen3一路奔袭至Gen6甚至更高，其测试复杂度也如同攀登陡峭的指数曲线。封装（Package）和ATE（自动测试设备）负载板（LoadBoard）作为芯片测试的...
[测试工程] IC信号与电源引脚对比解析 日期：2025-07-02 22:13:33 点击：281 好评：0
在芯片设计与测试领域，信号引脚和电源引脚是最核心的引脚类型，它们承载着芯片功能实现与稳定运行的关键职责。深入理解各类引脚的功能特性及其在电路中的作用，不仅有助于我...
[测试工程] 半导体 ATE 测试全流程简介 日期：2025-07-02 20:35:00 点击：306 好评：0
半导体测试的主要目的是确保交付给客户的芯片质量符合Datasheet(产品规格手册)的相关内容，ATE (Automated Test Equipment)是实现批量化自动半导体测试仪器的简称。 常见的消费类半导体ATE测...
[测试工程] 浅谈ATE PCIe 测试 --4 日期：2025-07-02 19:41:00 点击：167 好评：0
高速数字通信技术日新月异，传统NRZ（非归零码）已逐渐难以满足更高数据速率的需求，PAM4（四电平脉冲幅度调制）编码应运而生，成为PCIe 6.0+、DDR5、400G/800G以太网等新一代接口的关...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.8——多级DAC测试 日期：2025-07-01 22:32:33 点击：229 好评：2
在测试多级DAC的积分非线性（INL）和微分非线性（DNL）时，通常不需要对所有代码进行全量测试，而是可以通过精心选择部分关键代码子集来完成验证。 举个栗子：一颗 16-bit 3-stage （...
[测试工程] ATE唠唠嗑No.9——多道ATE测试的Trim方案 日期：2025-07-01 22:13:45 点击：195 好评：0
ATE测试有时候会遇到某些产品的Trim需要多道测试（比如CP1/CP2, FT1/FT2等等）获取数据后，才能通过计算进行烧写EFuse的情况。今天分享一些与之相关的项目经验供大家参考。 【多道ATE...
