[可靠性测试] 元器件可靠性技术（DPA与失效分析） 日期：2024-11-14 19:33:00 点击：184 好评：0
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[测试工程] HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试 日期：2024-11-14 19:13:00 点击：189 好评：0
HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验) 是测定IC等产品可靠性的一种方法。 随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。 参考标准：M...
[测试工程] HTOL 日期：2024-11-14 17:20:00 点击：216 好评：0
HTOL/ LTOL：高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life ） 目的 : 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力 测试条件 : 125℃，1.1VCC, 动态测试 失效机制：电子迁移，氧...
[测试工程] IC 测试入门--测试数据基本介绍 日期：2024-11-12 20:47:00 点击：221 好评：0
题图来源于网络 RightNow(NaNaNa) ,Akon-Freedom 之前说过，一个测试工程师不做数据分析，基本上也就是说他根本就还没理解一个测试工程师的基本职责。这里把一些测试数据的名词做一些介...
[测试工程] 集成电路测试（四）——基于V93000的Digital Captu 日期：2024-11-12 19:32:00 点击：244 好评：0
1、 概念 ENJOY LIFE 数字捕获（Digital Capture）是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能，其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出，并将这些数据存储以供后续分析与处...
[测试工程] 集成电路测试技术 -“概述” 日期：2024-11-12 18:15:00 点击：97 好评：0
集成电路测试技术 概述 芯片/科普 集成电路测试技术在现代电子产业中扮演着至关重要的角色。它不仅确保了芯片的质量和可靠性，还对提升生产效率、降低成本以及推动技术创新具有...
[测试工程] 浅谈ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 日期：2024-11-11 21:58:00 点击：192 好评：0
ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 集成电路测试（一） 01. ATS内部结构 1、第三代自动测试系统的构成 ATS：自动测试系统，表示在计算机控制下，能自动进行量测、处理数据，...
[测试工程] 集成电路测试（二）——功能测试及码型格式 日期：2024-11-11 20:46:00 点击：128 好评：0
测试概 功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试的基本过程是应用一有序或随机组合的测试图形，以电路规定的速率作用于被测器件，并通过观察被测器件输...
[测试工程] 集成电路测试（三）——基于V93000的交流参数测 日期：2024-11-11 19:16:00 点击：172 好评：0
在探索集成电路的奥秘中，机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法，如搜索法，来测量器件的时序关系，确保它们在正确的时间点上...
[测试工程] IC测试项目一般有哪些？ 日期：2024-11-06 20:20:00 点击：215 好评：0
IC测试是保证集成电路产品在实际应用中能稳定运行的关键环节。IC测试项目的相关内容包括直流(DC)测试、交流(AC)测试、功能测试以及混合信号测试。 1. 直流(DC)参数测试 直流(DC)参数测...
