[测试工程] 芯片测试中的“Trim”项是什么？为什么需要进行 日期：2025-04-24 21:40:31 点击：351 好评：0
01. Trim 的定义 修调（Trim）是芯片制造后道环节的核心校准技术，通过物理或逻辑手段调整芯片内部结构，使其关键性能参数达到设计目标。在CP和FT阶段，工程师利用修调技术对因制造...
[可靠性测试] 可靠性验证标准AEC-Q102 日期：2025-04-24 19:22:00 点击：175 好评：0
AEC-Q102是汽车电子委员会（AEC）针对光电半导体元器件制定的国际可靠性验证标准，其核心目标是通过一系列严苛的测试确保器件在汽车极端环境下的长期稳定性和安全性。 对于半导体...
[测试工程] 2025年第三届上海新质生产力集成电路产教融合大 日期：2025-04-23 19:12:00 点击：248 好评：0
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[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 22:44:09 点击：132 好评：0
一、新器件认证与变更器件认证 上期主要围绕AEC-Q100中的GROUP A~GROUP G的7组测试项目展开，对应的是标准文档表2的内容。 针对新器件的认证，AEC-Q100规定 ： 对于每个资格认证，供应商必...
[测试工程] AEC-Q100《汽车级应用中基于失效机理的集成电路应 日期：2025-04-22 21:27:00 点击：104 好评：0
AEC Q100针对每个测试项目都注释了其使用范围、破坏性或非破坏性的属性等，具体定义见Table2。 B:仅要求焊球表面贴装(BGA)器件。 C: 铜线器件的测试条件和样品大小应该按照AEC-Q006。 D...
[测试工程] 集成电路测试（二）——功能测试及码型格式 日期：2025-04-20 21:29:46 点击：247 好评：0
集成电路测试（二） 功能测试及码型格式 一、功能测试概念 功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试的基本过程是应用一有序或随机组合的测试图形，以电...
[测试工程] 集成电路测试（三）——基于V93000的交流参数测 日期：2025-04-20 20:11:00 点击：238 好评：0
在探索集成电路的奥秘中，机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法，如搜索法，来测量器件的时序关系，确保它们在正确的时间点上...
[测试工程] 集成电路测试（四）——基于V93000的Digital Captu 日期：2025-04-20 19:06:00 点击：146 好评：0
1、 概念 数字捕获（Digital Capture）是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能，其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出，并将这些数据存储以供后续分析与处理。在实...
[测试工程] 封装半导体器件的热特性与三温测试 日期：2025-04-18 21:54:12 点击：192 好评：0
封装半导体器件的热特性与三温测试 随着行业趋势向更小、更快和更高功率的设备发展，热管理变得越来越重要。毕竟，如果不对热问题进行仔细权衡，则更高的器件性能可能会付出代...
[测试工程] ATE-芯片漏电流测试Leakage Test 日期：2025-04-18 18:32:00 点击：210 好评：0
ATE-芯片漏电流测试Leakage Test 输入漏电流测试（IIL和IIH ） IIH/IIL是属于直流DC测试中leakage测试范畴，IIH和IIL是两个测试，测试方式都是针对输入管脚进行加压测流。 IIH（input current high）...
