可靠性测试结构设计 层次化版图设计通过模块化分解和系统级优化,显著提升了设计效率、布局优化和失配控制。然而,工艺偏差和复杂设计仍是挑战。结合Dummy Layer技术、工艺参数控...
在智能手机、电脑和自动驾驶汽车等高科技产品的背后,隐藏着一项至关重要的半导体制造技术 晶圆接受测试(Wafer Acceptance Test, WAT) 。它如同芯片的全身体检,确保每一片晶圆在出厂...
磁特性应用SOC芯片测试的磁角度测试原理与方法 磁性角度传感器是一种广泛应用且性能优越的测量设备。它能够快速精准地测量物体的角度位置,并将其转换为数字信号输出。在该技术...
在半导体芯片测试中, CP测试 (Chip Probing, 晶圆测试)和 FT测试 (Final Test, 成品测试)是两个十分关键的阶段。它们分别对应于芯片在封装前后的测试,确保产品的质量和性能。下面详...
1. 什么是 IDDQ 测试? IDDQ(Quiescent Supply Current Test,静态电流测试) 是一种通过测量CMOS 电路在静态状态下的电源电流来检测芯片缺陷的测试方法。 在 CMOS 逻辑电路的正常工作状态下,...
作为电子产品之母的PCB板,是整个电子产品产业链中关键的基础性环节。而作为PCB的生产材料,更是基础中的基础,可以说是现代电子工业这座大厦的砂石。 PCB板是什么意思? PCB (Pr...
什么是双脉冲测试? 为了评估功率器件的动态参数,通常采取的测量方法是双脉冲测试。那什么是双脉冲测试呢?顾名思义,是通过两个脉冲,去控制器件的开关,然后测试在开关过程...
上次以一个初学者的角度,写了一篇何为ATE测试机的文章。超出我预期的阅读量与留言,让我有动力继续写下去。话说我去年才接触这个行业时,听人前辈交流,全是些专业术语,听得...
可靠性考核是芯片量产前的极限压力测试,本质是验证芯片在极端环境下的生存能力与性能衰减规律。对于90纳米技术节点,由于器件尺寸缩小带来的量子隧穿效应、热载流子注入等问...
1. 选择合适的电容类型和容量 电容滤波的关键在于选择合适的电容类型和容量。一般来说,高频干扰需要使用低电感的陶瓷电容,而低频干扰可以使用电解电容。 对于高频信号,建议...