[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证B2：ELFR - 早期寿命失效（早夭 日期：2024-04-06 17:57:00 点击：1628 好评：4
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证 本文将重点对B组的第2项ELFR - Early Life Failure Rate早期寿命失...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证E1：TEST 测试/回测 日期：2024-04-06 17:34:23 点击：771 好评：0
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 E组验证是ELECTRICAL VERIFICATION TESTS电气特性验证测试 本文将重点对E组的第1项TEST ---- Pre- and Post-Stress Function/Parameter 应力验...
[可靠性测试] 可测性设计(DFT)技术详解(71页PPT) 日期：2024-03-26 18:51:00 点击：455 好评：0
...
[可靠性测试] 可靠性试验培训 日期：2024-03-09 20:15:00 点击：329 好评：0
...
[可靠性测试] 可测性设计DFT----生产测试简介 日期：2024-03-04 20:13:00 点击：509 好评：4
本章先简单介绍芯片的生产测试。 在古代，我们的祖先就掌握了测试技术，例如农民发明吹风机测试稻谷，把饱满的谷粒和谷壳分离开来，这就是早期的测试机器。 生产测试的目的是...
[可靠性测试] 干货！如何装作很懂芯片测试... 日期：2024-03-04 19:33:56 点击：582 好评：2
师爷之前讲过关于集成电路设计、晶圆代工、封装等，但对于芯片测试这一块较少涉及，今天就来给大家科普下吧！ 为什么要进行芯片测试? 芯片测试是一个比较大的问题，直接贯穿整...
[可靠性测试] JESD22-A117 EEPROM写入/擦除耐力和数据保留可靠性测 日期：2024-02-29 19:54:02 点击：1084 好评：2
EEPROM全称是ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLERead-Only Memory(EEPROM)，电子可擦可编程ROM，也就是说信息一旦写入即便断电状态下也不会丢失，一般存放芯片的固件等重要代码。 JESD22-A117文档，就是...
[可靠性测试] AEC Q101中文版及内容解读 日期：2024-02-29 14:36:40 点击：1369 好评：4
AEC-Q101文件名称是 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS 翻译过来是 基于失效机制对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试 AEC-Q101最新的版...
[可靠性测试] 塑封SIP集成模块封装可靠性分析 日期：2024-02-27 20:46:00 点击：632 好评：2
摘要： 塑封器件具有体积小、成本低的优点，逐步替代气密性封装器件，广泛地应用于我国军用产品中。军用塑封SIP（System In Package）产品集成度高、结构复杂、可靠性要求高等特点，...
[可靠性测试] IDD&IDDQ测试 日期：2024-01-10 13:16:54 点击：2458 好评：4
IDD测试分为静态IDD和动态IDD测试，测试电源pin的电流。静态IDD是指芯片处于低功耗状态下的一种测试模式，而动态IDD可以理解为处于高功耗状态下的测试模式，无论哪种模式都需要配置...
