[可靠性测试] 老化机台及一些测试 日期：2024-05-07 22:24:00 点击：407 好评：4
我们之前对HTOL有不少介绍，这次标题没有用HTOL，在老化测试中，有不同的Burn in和老化机台，本期对不同的机台稍作整理，方便大家在产品应用中选择。 高温炉 高温炉是最简单的一种...
[可靠性测试] 老化寿命计算 日期：2024-05-07 21:20:23 点击：479 好评：2
寿命这个概念，严格来讲属于耐久性的范畴，是产品耐久性的一种度量方式。耐久性怎么理解呢？可以认为是可靠性的一种特殊情况，表示产品在规定时间内抵抗腐蚀、热冲击、磨损、...
[可靠性测试] 其他可靠性实验 日期：2024-05-07 20:22:00 点击：299 好评：0
之前我们介绍了HTOL、ESD和HAST等相关内容，今天汇总聊聊其他可靠性实验。 芯片设计公司常做的可靠性实验列表如下： HTOL介绍参考： 老化寿命计算62 赞同 55 评论文章 老化机台及一些...
[可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期：2024-04-25 19:32:31 点击：184 好评：0
近几年新能源汽车的发展异常迅速，随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮，但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻，基本以国外芯片供应商为主，国产芯片能进入汽车领域的不...
[可靠性测试] 电源模块可靠性测试实战指南 日期：2024-04-22 10:41:52 点击：250 好评：0
前言 随着现代科技的迅速发展，市场对产品质量的要求不断提高，产品质量已成为企业核心竞争力的关键因素。在这个品质为王的时代，电源制造商们也面临着更高的要求，只有经过多...
[可靠性测试] PCB电路板的可靠性测试 日期：2024-04-16 21:08:00 点击：175 好评：0
前言 随着时代的发展，PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用，产品竞争日益激烈，因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。在设计可靠的电路板时，需要遵循严谨的PCB设计过程...
[可靠性测试] 三代半SiC-MOSFET的可靠性---基础篇(14) 日期：2024-04-16 18:13:00 点击：216 好评：0
本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外，包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展日新月异，如果有不明之处或希望确认现在...
[可靠性测试] 半导体IGBT可靠性测试的详解； 日期：2024-04-16 17:16:53 点击：357 好评：2
随着电力电子技术的发展，IGBT已被广泛应用在各大领域。为了确保其质量和稳定性，IGBT测试是必不可少的环节。通过测试可以发现问题，并采取措施解决问题，从而顺利进入设计和生...
[可靠性测试] SiC可靠性验证，这些不得不做的测试 日期：2024-04-15 21:58:46 点击：327 好评：0
1940年，贝尔实验室在研究雷达探测整流器时，发现硅存在PN结效应，1958年，美国通用电气（GE）公司研发出世界上第一个工业用普通晶闸管，标志着电力电子技术的诞生。 从此功率半导...
[可靠性测试] Aehr Test Solutions：在SiC晶圆级测试和老化测试市场 日期：2024-04-15 20:23:00 点击：164 好评：0
Aehr Test Solutions，美国一家拥有独特测试解决方案的小公司，其技术用于苹果的Face ID、英特尔硅光子学，以及最目前对他们业务影响最重要的SiC（碳化硅）市场。 前不久他们发布了自己...
