[可靠性测试] 芯片常见的可靠性测试方法有哪些 日期：2024-08-14 19:09:00 点击：209 好评：0
芯片的可靠性测试是确保其在各种条件下正常工作的重要环节。常见的可靠性测试方法包括： 1. 温度循环测试 目的：评估芯片在高温和低温环境中的性能，以测试其耐热和耐冷能力。...
[可靠性测试] IC芯片可靠性测试技术简介( PPT版） 日期：2024-08-08 20:22:00 点击：232 好评：0
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[可靠性测试] 半导体集成电路可靠性测试和数据处理探析 日期：2024-08-08 19:07:00 点击：223 好评：0
前 言 可靠性是当前衡量产品质量的一个重要因素，属于产品使用年限分析的一门全新学科。现阶段工艺技术手段不断提升，使用材料也越来越新型化，半导体集成电路线宽有所降低，...
[可靠性测试] 聊一聊芯片中的那些可靠性测试项目 日期：2024-08-07 21:59:11 点击：415 好评：0
芯片制造是一个复杂且成本高昂的过程，包括设计、制造、封装和测试这几个关键步骤。在整个成本结构中，人工成本占了20%，制造（也称为流片）占40%，封装占30%，而测试占10%。在使...
[可靠性测试] 半导体芯片封装的“可靠性测试”的详解； 日期：2024-08-07 20:45:00 点击：516 好评：0
可靠性通常是指芯片封装组件在特定使用环境下以及一定时间内的损坏概率，换言之即表明组件的质量状况，也是电子产品未被商业化量产前与实际上市使用期间，产品性能和价值水平...
[可靠性测试] 详细解读丨芯片老化测试为何如此重要？ 日期：2024-08-06 20:45:00 点击：287 好评：0
随着科技的进步和电子产品的广泛应用，人们对芯片的可靠性要求日益增高，因此老化测试是不可或缺的一个环节。 今天就带大家详细了解集成电路芯片老化测试系统的原理、测试方法...
[可靠性测试] 华为工艺可靠性设计方法与实践 日期：2024-08-01 19:08:00 点击：282 好评：2
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[可靠性测试] 半导体可靠性测试 日期：2024-07-31 22:16:17 点击：251 好评：0
可靠性测试 以下是 TI 对产品进行的各种可靠性测试的相关信息： 加速测试 大多数半导体器件的寿命在正常使用下可超过很多年。但我们不能等到若干年后再研究器件；我们必须增加施...
[可靠性测试] IC封装可靠性的测试标准 日期：2024-07-31 21:00:00 点击：200 好评：0
上传测试标准之前，多说两句。一般可靠性测试主要考察两部分，一是环境压力测试，二是机械压力测试，相关的主要测试项目如下表。 提到测试，就要统一标准。相关的行业协会制定...
[可靠性测试] 微电子封装材料及其可靠性研究进展 日期：2024-07-04 21:47:00 点击：268 好评：0
摘要 随着微电子产业的发展，各种封装技术不断涌现，对于封装材料的内应力、导热性、电性能都提出了更高的要求。本文介绍了聚合物微电子封装的主要材料，包括环氧树脂、有机硅...
