[可靠性测试] 可测性设计(DFT)技术详解(71页PPT) 日期：2024-03-26 18:51:00 点击：310 好评：0
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[可靠性测试] 可靠性试验培训 日期：2024-03-09 20:15:00 点击：258 好评：0
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[可靠性测试] 可测性设计DFT----生产测试简介 日期：2024-03-04 20:13:00 点击：386 好评：4
本章先简单介绍芯片的生产测试。 在古代，我们的祖先就掌握了测试技术，例如农民发明吹风机测试稻谷，把饱满的谷粒和谷壳分离开来，这就是早期的测试机器。 生产测试的目的是...
[可靠性测试] 干货！如何装作很懂芯片测试... 日期：2024-03-04 19:33:56 点击：389 好评：2
师爷之前讲过关于集成电路设计、晶圆代工、封装等，但对于芯片测试这一块较少涉及，今天就来给大家科普下吧！ 为什么要进行芯片测试? 芯片测试是一个比较大的问题，直接贯穿整...
[可靠性测试] JESD22-A117 EEPROM写入/擦除耐力和数据保留可靠性测 日期：2024-02-29 19:54:02 点击：547 好评：0
EEPROM全称是ELECTRICALLY ERASABLE PROGRAMMABLERead-Only Memory(EEPROM)，电子可擦可编程ROM，也就是说信息一旦写入即便断电状态下也不会丢失，一般存放芯片的固件等重要代码。 JESD22-A117文档，就是...
[可靠性测试] AEC Q101中文版及内容解读 日期：2024-02-29 14:36:40 点击：656 好评：0
AEC-Q101文件名称是 FAILURE MECHANISM BASED STRESS TEST QUALIFICATION FOR DISCRETE SEMICONDUCTORS IN AUTOMOTIVE APPLICATIONS 翻译过来是 基于失效机制对汽车领域应用中分立半导体器件的认证测试 AEC-Q101最新的版...
[可靠性测试] 塑封SIP集成模块封装可靠性分析 日期：2024-02-27 20:46:00 点击：367 好评：2
摘要： 塑封器件具有体积小、成本低的优点，逐步替代气密性封装器件，广泛地应用于我国军用产品中。军用塑封SIP（System In Package）产品集成度高、结构复杂、可靠性要求高等特点，...
[可靠性测试] IDD&IDDQ测试 日期：2024-01-10 13:16:54 点击：1734 好评：4
IDD测试分为静态IDD和动态IDD测试，测试电源pin的电流。静态IDD是指芯片处于低功耗状态下的一种测试模式，而动态IDD可以理解为处于高功耗状态下的测试模式，无论哪种模式都需要配置...
[可靠性测试] 关于半导体IC老化测试过程中您需要了解的内容！ 日期：2024-01-02 19:02:00 点击：325 好评：0
第 1 部分 简介 无论我们走到哪里，我们都时刻被科技所包围。事实上，我们的智能手机已经成为我们日常生活中不可或缺的工具。如果不使用此设备，您将很难过一天。这些不同类型...
[可靠性测试] 可靠性试验（HALT）及可靠性评估技术 日期：2023-12-27 19:19:00 点击：264 好评：0
什么是可靠性试验？ 可靠性试验是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可...
