[可靠性测试] 激光器芯片的寿命可靠性问题 日期：2023-05-15 10:48:52 点击：301 好评：0
激光芯片的可靠性是一项十分关键的指标，无论是小功率的激光笔还是要求较高的激光通信芯片，都需要进行芯片的老化和可靠性的测试。 相比于传统的电子类的芯片，激光的测试比较...
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[可靠性测试] 从流程到方法，详解芯片老化测试 日期：2023-05-15 10:19:37 点击：735 好评：0
芯片老化测试是评估芯片可靠性的重要方法之一，它在设计、制造和维护芯片产品的生命周期中具有至关重要的作用。芯片老化测试是通过模拟芯片在长时间使用过程中受到的各种环境...
[可靠性测试] IGBT 可靠性与寿命评估研究 日期：2023-05-12 13:51:39 点击：514 好评：0
《汽车电器》 摘要 IGBT作为新能源汽车电机控制器的核心部件，直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。本文主要介 绍采用热敏感电参数法提取IGBT结温，并结合CLTC等试验工况得出对应...
[可靠性测试] 老化验证和封装形式有关系吗？ESD测试与寄生电 日期：2023-05-11 13:43:26 点击：189 好评：0
以下题目来自芯片检测尖端技术线上研讨观众的踊跃提问，可靠性验证相关题目，请RA实验室主管Nily来为各位解答。 Q1 老化验证和封装形式有关系吗？ A: 无关，任何形式的封装，皆需...
[可靠性测试] HTOL硬件设计该有的考量 日期：2023-05-11 10:16:02 点击：71 好评：0
打造成功的芯片可靠性试验环境，准备合适的测试硬件为必要条件。蔚思博检测一站式芯片检测服务，提供专业的硬件设计与制造服务，设计团队拥有丰富的经验，为客户量身定制经济...
[可靠性测试] 什么是芯片老化测试？ 日期：2023-05-10 17:07:34 点击：171 好评：0
随着半导体电子技术的进步，老化测试已成为保证产品质量的关键流程。除了半导体元件外，PCB、IC 和处理器部件也都需要在老化条件下进行测试。本篇文章纳米软件Namisoft小编将带大...
[可靠性测试] 元器件知识-集成电路好坏检测的方法有哪些 日期：2023-02-17 14:17:08 点击：434 好评：0
集成电路的型号很多，内部电路千变万化，故检测集成电路好坏较为复杂。下面介绍一些常用集成电路好坏检测的方法。 1.开路测量电阻法 开路测量电阻法是指在集成电路未与其他电路...
[可靠性测试] 芯片封装&测试流程 日期：2023-02-17 11:47:56 点击：727 好评：0
IC Package (IC的封装形式)指芯片(Die)和不同类型的框架(L/F)和塑封料(EMC)形成的不同外形的封装体。 IC Package种类很多，可以按以下标准分类： 按封装材料划分为： 金属封装、陶瓷封装、塑...
[可靠性测试] EMC共模测试和差模测试简介 日期：2023-02-15 13:57:20 点击：804 好评：0
一、共模信号和差模信号 通常电源线有三根线(单相)，火线L，零线N和地线PE。 电压和电流的变化通过导线传输时有两种形态, 一种是两根导线分别做为往返线路传输, 我们称之为差模...
[可靠性测试] 什么是芯片老化测试？ 日期：2023-02-15 10:58:39 点击：524 好评：-2
芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据...
