[可靠性测试] 三代半SiC-MOSFET的可靠性---基础篇(14) 日期：2024-04-16 18:13:00 点击：260 好评：0
本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外，包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展日新月异，如果有不明之处或希望确认现在...
[可靠性测试] 半导体IGBT可靠性测试的详解； 日期：2024-04-16 17:16:53 点击：425 好评：2
随着电力电子技术的发展，IGBT已被广泛应用在各大领域。为了确保其质量和稳定性，IGBT测试是必不可少的环节。通过测试可以发现问题，并采取措施解决问题，从而顺利进入设计和生...
[可靠性测试] SiC可靠性验证，这些不得不做的测试 日期：2024-04-15 21:58:46 点击：372 好评：0
1940年，贝尔实验室在研究雷达探测整流器时，发现硅存在PN结效应，1958年，美国通用电气（GE）公司研发出世界上第一个工业用普通晶闸管，标志着电力电子技术的诞生。 从此功率半导...
[可靠性测试] Aehr Test Solutions：在SiC晶圆级测试和老化测试市场 日期：2024-04-15 20:23:00 点击：175 好评：0
Aehr Test Solutions，美国一家拥有独特测试解决方案的小公司，其技术用于苹果的Face ID、英特尔硅光子学，以及最目前对他们业务影响最重要的SiC（碳化硅）市场。 前不久他们发布了自己...
[可靠性测试] AEC-Q006 标准解读及可靠性要求研究 日期：2024-04-09 13:28:41 点击：496 好评：0
摘要： 探讨了铜线键合器件在汽车电子认证中的可靠性要求。铜线键合器件在电子封装域已得到一定的推广及应用，然而，相比金线键合，由于铜线特殊的材料属性和键合工艺，其可靠...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证B1：HTOL - 高温工作寿命实验 日期：2024-04-06 19:09:00 点击：818 好评：4
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证 本文将重点对B组的第1项HTOL - High Temperature Operating Life 高温...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证B2：ELFR - 早期寿命失效（早夭 日期：2024-04-06 17:57:00 点击：643 好评：0
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 B组验证是ACCELERATED LIFETIME SIMULATION TESTS 加速生命周期模拟验证 本文将重点对B组的第2项ELFR - Early Life Failure Rate早期寿命失...
[可靠性测试] AEC-Q100车规芯片验证E1：TEST 测试/回测 日期：2024-04-06 17:34:23 点击：468 好评：0
AEC-Q100文件，是芯片开展车规等级验证的重要标准和指导文件。 E组验证是ELECTRICAL VERIFICATION TESTS电气特性验证测试 本文将重点对E组的第1项TEST ---- Pre- and Post-Stress Function/Parameter 应力验...
[可靠性测试] 可测性设计(DFT)技术详解(71页PPT) 日期：2024-03-26 18:51:00 点击：300 好评：0
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[可靠性测试] 可靠性试验培训 日期：2024-03-09 20:15:00 点击：251 好评：0
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