[可靠性测试] 量产导入 | DFT可测试性设计：Tessent Scan 和 ATPG 日期：2024-06-17 20:56:00 点击：1004 好评：0
目标 Upon completion of this module, you should be able to: Use Tessent Scan to insert full scan. Write a scan-inserted netlist file. Write ATPG setup files. lnsert test logic. Create, configure, and balance scan chains. Edit a scan chain...
[可靠性测试] 量产导入 | 产品可靠性测试标准完整大集合（J 日期：2024-06-11 19:14:00 点击：825 好评：0
产品可靠性测试标准完整大集合（JEDEC/IEC/SAE） 产品可靠性测试是产品质量保证中的重要一环， 包含有Pre-con, aging(寿命）和ESD(静电）等， 下面就收集了权威标准JEDEC全系列， 请参照如...
[可靠性测试] CDM 测试（2） 日期：2024-05-07 23:12:00 点击：380 好评：4
这是一个从case开启的故事。前段时间跟一个同行聊CDM测试，一颗产品CDM只能pass 200V。参考以往测试经验，虽说一些射频相关或带高速接口的芯片，接口的ESD能力会稍差，但小封装一般...
[可靠性测试] 老化机台及一些测试 日期：2024-05-07 22:24:00 点击：846 好评：4
我们之前对HTOL有不少介绍，这次标题没有用HTOL，在老化测试中，有不同的Burn in和老化机台，本期对不同的机台稍作整理，方便大家在产品应用中选择。 高温炉 高温炉是最简单的一种...
[可靠性测试] 老化寿命计算 日期：2024-05-07 21:20:23 点击：941 好评：10
寿命这个概念，严格来讲属于耐久性的范畴，是产品耐久性的一种度量方式。耐久性怎么理解呢？可以认为是可靠性的一种特殊情况，表示产品在规定时间内抵抗腐蚀、热冲击、磨损、...
[可靠性测试] 其他可靠性实验 日期：2024-05-07 20:22:00 点击：522 好评：0
之前我们介绍了HTOL、ESD和HAST等相关内容，今天汇总聊聊其他可靠性实验。 芯片设计公司常做的可靠性实验列表如下： HTOL介绍参考： 老化寿命计算62 赞同 55 评论文章 老化机台及一些...
[可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期：2024-04-25 19:32:31 点击：335 好评：0
近几年新能源汽车的发展异常迅速，随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮，但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻，基本以国外芯片供应商为主，国产芯片能进入汽车领域的不...
[可靠性测试] 电源模块可靠性测试实战指南 日期：2024-04-22 10:41:52 点击：380 好评：0
前言 随着现代科技的迅速发展，市场对产品质量的要求不断提高，产品质量已成为企业核心竞争力的关键因素。在这个品质为王的时代，电源制造商们也面临着更高的要求，只有经过多...
[可靠性测试] PCB电路板的可靠性测试 日期：2024-04-16 21:08:00 点击：273 好评：0
前言 随着时代的发展，PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用，产品竞争日益激烈，因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。在设计可靠的电路板时，需要遵循严谨的PCB设计过程...
[可靠性测试] 三代半SiC-MOSFET的可靠性---基础篇(14) 日期：2024-04-16 18:13:00 点击：438 好评：0
本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外，包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展日新月异，如果有不明之处或希望确认现在...
