 IDD测试分为静态IDD和动态IDD测试，测试电源pin的电流。静态IDD是指芯片处于低功耗状态下的一种测试模式，而动态IDD可以理解为处于高功耗状态下的测试模式，无论哪种模式都需要配置到相对应的状态。这里还介绍一种Gross IDD测试，与静态IDD和动态IDD测试不同，Gross IDD测试只是“粗略”的测量电源pin的电流，因此不需要Run pattern配置状态，下图介绍了Gross IDD的测试方法。 测试步骤： 1：设置DPS电流clamp 2：使用DPS 给电源pin施加VDDmax电压 3：等待5ms左右 4：测量电源pin电流 5：与limit比较 下图是静态IDD的测试步骤  测试步骤： 1：设置DPS电流clamp 2：使用DPS 给电源pin施加VDDmax电压 3：Run pattern（pattern跑完） 4：等待5ms左右 5：测量电源pin电流 6：与limit比较 下图是动态IDD的测试步骤  测试步骤： 1：设置DPS电流clamp 2：使用DPS 给电源pin施加VDDmax电压 3：Run pattern（pattern一直处于跑状态,使芯片处于高功耗状态） 4：等待5ms左右 5：测量电源pin电流 6：Stop pattern 7：与limit比较 下面是实例测量动态IDD的程序  IDDQ测试是指当 CMOS 集成电路中的所有管子都处于静止状态时的电源总电流。IDDQ 测试目的是测量逻辑状态验证时的静止（稳定不变）的电流，并与标准静态电流相比较以提升测试覆盖率。IDDQ 测试运行一组静态 IDD 测试的功能序列，在功能序列内部的各个独立的断点，进行 6-12 次独立的电流测量。此时要求pattern要停6~12次进行测量是关键，下图是J750测试IDDQ实例。  |
