[可靠性测试] 高温烘烤对金线键合性能的影响及改善研究 日期：2024-06-20 19:15:00 点击：283 好评：0
摘要 ： 微电子行业中，一般使用引线键合工艺完成微电子器件中固态电路内部互连接线的连接。在引线键合工艺前，需要先把芯片焊接在器件上，但是，芯片焊接（Die Bond, DB）工艺中...
[可靠性测试] 量产导入 | 一文理解芯片可靠性测试项目 及 各种 日期：2024-06-19 20:44:00 点击：1806 好评：6
可靠性试验，是指通过试验测定和验证产品的可靠性。 研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。 可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各...
[可靠性测试] 量产导入 | DFT可测试性设计：SCAN和ATPG 日期：2024-06-19 19:06:00 点击：668 好评：0
目标 完成本文的阅读后，您应该能够： Describe the difference between engineering test and manufacturing test. Explain what scan test is. Describe the basic scan test process.Explain what manufacturing defects are. List the c...
[可靠性测试] 量产导入 | DFT可测试性设计：Tessent Scan 和 ATPG 日期：2024-06-17 20:56:00 点击：527 好评：0
目标 Upon completion of this module, you should be able to: Use Tessent Scan to insert full scan. Write a scan-inserted netlist file. Write ATPG setup files. lnsert test logic. Create, configure, and balance scan chains. Edit a scan chain...
[可靠性测试] 量产导入 | 产品可靠性测试标准完整大集合（J 日期：2024-06-11 19:14:00 点击：515 好评：0
产品可靠性测试标准完整大集合（JEDEC/IEC/SAE） 产品可靠性测试是产品质量保证中的重要一环， 包含有Pre-con, aging(寿命）和ESD(静电）等， 下面就收集了权威标准JEDEC全系列， 请参照如...
[可靠性测试] CDM 测试（2） 日期：2024-05-07 23:12:00 点击：270 好评：4
这是一个从case开启的故事。前段时间跟一个同行聊CDM测试，一颗产品CDM只能pass 200V。参考以往测试经验，虽说一些射频相关或带高速接口的芯片，接口的ESD能力会稍差，但小封装一般...
[可靠性测试] 老化机台及一些测试 日期：2024-05-07 22:24:00 点击：535 好评：2
我们之前对HTOL有不少介绍，这次标题没有用HTOL，在老化测试中，有不同的Burn in和老化机台，本期对不同的机台稍作整理，方便大家在产品应用中选择。 高温炉 高温炉是最简单的一种...
[可靠性测试] 老化寿命计算 日期：2024-05-07 21:20:23 点击：635 好评：4
寿命这个概念，严格来讲属于耐久性的范畴，是产品耐久性的一种度量方式。耐久性怎么理解呢？可以认为是可靠性的一种特殊情况，表示产品在规定时间内抵抗腐蚀、热冲击、磨损、...
[可靠性测试] 其他可靠性实验 日期：2024-05-07 20:22:00 点击：351 好评：0
之前我们介绍了HTOL、ESD和HAST等相关内容，今天汇总聊聊其他可靠性实验。 芯片设计公司常做的可靠性实验列表如下： HTOL介绍参考： 老化寿命计算62 赞同 55 评论文章 老化机台及一些...
[可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期：2024-04-25 19:32:31 点击：239 好评：0
近几年新能源汽车的发展异常迅速，随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮，但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻，基本以国外芯片供应商为主，国产芯片能进入汽车领域的不...
