[测试工程] 系统级测试（SLT）详解 日期：2022-04-18 14:38:07 点击：9352 好评：68
前言 在半导体晶体管尺寸越来越小、芯片功能日益复杂的趋势下，系统级测试（简称SLT）变得至关重要。那什么是SLT？SLT是如何帮助提高产品质量并缩短上市时间的？我们将从本文开始...
[测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期：2022-03-26 13:07:40 点击：1159 好评：12
AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...
[测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期：2021-05-12 14:23:00 点击：8674 好评：28
芯片测试过程中，芯片可靠性是非常重要的一环，ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短，表征只是瞬间的芯片性能，那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢？ HTOL，uHAST，BHAST的测试就是...
[测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期：2021-05-08 13:51:00 点击：1587 好评：6
在芯片测试过程中，ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见，但在芯片测试中，将其归于几种模型，在保证其可靠性的同时，方便测试。 ESD测试归于两个大...
[测试工程] LatchUp测试详解 日期：2021-05-07 13:28:00 点击：5024 好评：20
大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标，那么IC的可靠性都包括哪些呢？ESD（HBM，CDM），HTOL（老化测试）,HAST(封装可靠性测试),BHAST（偏压可靠性测试），当然还有...
[测试工程] 浅谈IC测试向量（pattern)及其转换 日期：2021-05-04 14:01:00 点击：2344 好评：10
随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难，为了实现芯片的快速测试和筛选，ATE设备为其提供了强有...
[测试工程] AEC-Q100认证流程和测试方法 日期：2020-02-12 10:55:00 点击：603 好评：8
AEC-Q100认证流程和测试方法 通用测试 测试流程如图1:AEC-Q100认证流程 所示，测试细则如表1:AEC-Q100认证测试方法所列。并不是所有测试都适用于一切器件，例如某些测试只适用于陶瓷封装...
[可靠性测试] 元器件失效分析方法 日期：2018-05-28 10:23:19 点击：2462 好评：137
失效分析基本概念 定义：对失效电子元器件进行诊断过程。 1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 2、失效分析的目的是确定失效模式和失...
[测试优化工程] 测试不稳定怎么办 日期：2018-04-16 10:47:54 点击：9312 好评：271
最近遇到好几起测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问...
[测试机台/ATE] 低成本、高效率8site MOSFET/IC 量产测试解决方案 日期：2017-09-27 17:55:15 点击：4849 好评：268
众所周知，近几年，国内集成电路的飞速发展，让国外友商们刮目相看，其中分立器件的发展并没有因为芯片的集成度越来越高而衰落，反而出现了越来越好的行情，究其原因在于大功...
