[可靠性测试] 复杂工况下车载控制软硬件的高性能与高可靠设 日期：2023-10-16 21:47:30 点击：256 好评：0
前言 本文中针对复杂行驶条件恶劣工况下车载控制基础软硬件的高性能与高安全可靠设计的技术需求，围绕车载核心控制芯片、车控操作系统和车载高速 分布式 光纤通信，介绍了复杂...
[可靠性测试] 如何提高硬件的可靠性 日期：2023-10-10 19:34:02 点击：422 好评：0
关于硬件的可靠性，我们写了很多文档，也输出了相应的视频课程。同时也给很多对可靠性要求高的企业进行了可靠性设计的相关培训。 虽然做了很多工作，但是可靠性是个系统性的工...
[可靠性测试] 功率器件高温可靠性测试加速老化模型及其测试 日期：2023-10-09 19:15:24 点击：1622 好评：10
摘要 高温可靠性测试如高温栅偏 ( High Temperature Gate Bias，HTGB) 、高温反偏( High Temperature Ｒeverse Bias，HTＲB) 、高温高湿反偏 ( High Humidity High Temperature Ｒeverse Bias，H3TＲB) 是器件出厂和寿...
[测试工程] 硬件开发流程（3）——硬件测试及维护 日期：2023-10-08 15:40:44 点击：528 好评：0
今天我们聊一聊硬件测试及维护。 测试是每个产品的必要环节，硬件测试是评估产品质量的重要方法。硬件测试包括以下内容： 硬件调试：单板关键信号流，实现基本互联互通功能；...
[测试工程] 怎么通过SPICE仿真来预测VDS开关尖峰？ 日期：2023-10-07 19:00:56 点击：356 好评：0
高VDS尖峰可能会导致MOSFET雪崩，进而导致器件性能下降和可靠性问题 电源行业的主要目标之一是为数据中心和5G等应用中的电源设备带来更高的电源转换效率和功率密度。与具有单独驱...
[可靠性测试] 芯片可靠性测试-预处理PC 日期：2023-09-29 11:01:58 点击：474 好评：2
Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing 参考标准：JESD22-A113F 一， Introduction The typical use of surface mount devices (SMD) involves subjecting the SMDs to elevated temperatures during bo...
[可靠性测试] 芯片封装可靠性测试-高温存储HTSL 日期：2023-09-27 11:15:10 点击：712 好评：-2
HTSL：High Temperature Storage Life 参考标准：JESD22-A103C 1 Scope The test is applicable for evaluation, screening, monitoring, and/or qualification of all solid state devices. High Temperature storage test is typically used to deter...
[测试工程] 32 Gbps 高速SerDes 量产测试方案 日期：2023-09-26 21:02:04 点击：1037 好评：12
内容摘要： 随着SerDes芯片集成度、复杂度、传输速率的不断提高，传统的自动化测试系统已经无法满足SerDes测试速率需求。但通过Nautilus UDI方案的导入，成功实现了32 Gbps SerDes的量产测...
[测试工程] IC测试基本原理与ATE测试向量生成 日期：2023-09-26 20:39:54 点击：2006 好评：8
IC测试 主要的目的是将合格的芯片与不合格的芯片区分开，保证产品的质量与可靠性。随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的...
[可靠性测试] 可靠性测试的流程和核心 日期：2023-09-26 18:29:47 点击：499 好评：2
1. 产品测试 产品测试是公司产品品质的有效保障，它贯穿于整个产品生命周期，主要包括以下三大类： 产品功能/性能测试： 验证产品是否达到设计规格书中的功能和性能指标； 可靠...
