[可靠性测试] HBM & MM & CDM & Latch-Up 日期：2023-06-06 11:29:34 点击：567 好评：2
1、HBM （Human Body model）：正常2000V JEDEC document JEP155 states that 500-V HBM allows safe manufacturing with a standard ESD control process。 HBM VS System ESD 2、MM（Machine Model），已经被JEDEC JEP172废弃 3、 CDM （...
[可靠性测试] HTOL（High Temp Operating Life）/OLT（Operating Life Test） 日期：2023-06-06 09:51:30 点击：3493 好评：28
1、HTOL测试相关规范 JESD22-A108F-2017 ：Temperature, Bias, and Operating Life JESD85 ：METHODS FOR CALCULATING FAILURE RATES IN UNITS OF FITS JESD47K ：Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits JESD74：Early Life Fa...
[可靠性测试] 高功率ASIC，处理器的测试挑战及解决方案 日期：2023-06-05 11:18:00 点击：418 好评：0
芯片的制程工艺一直在不断演进，如今，这个以纳米为单位的数字已进入到一位数时代。这一端缩小的同时也引发着另一端的提升，即集成度以及与之而来更加复杂的功耗方案和供电系...
[可靠性测试] 汽车车灯检测范围和可靠性试验方法 日期：2023-05-30 14:31:44 点击：288 好评：0
在科学技术日益高超的今天，灯具作为汽车装饰中的一环，已渐渐成为许多人关注的零部件之一。而且汽车车灯面临着空气中氧，水，酸性物质等腐蚀因素的影响，加之温度，湿度灯周...
[可靠性测试] 半导体老化测试的重要性以及两种测试方式和相 日期：2023-05-30 11:53:34 点击：260 好评：0
关键要点 老化测试是对半导体器件施加电应力和热应力以引起固有故障的尽早突显的测试方式。 在半导体中，故障一般可分为早期故障、随机故障或磨损故障。 老化测试的类型包括静...
[可靠性测试] 几种常见的芯片可靠性测试方法 日期：2023-05-25 10:59:31 点击：717 好评：0
芯片可靠性测试的种类 2.高温存储测试 3.跌落测试...
[可靠性测试] 四种老化测试方案以及对应的测试标准 日期：2023-05-22 16:31:44 点击：493 好评：0
高温工作寿命 (HTOL) 测试 高温工作寿命（HTOL）测试是通过加速热激活失效机制来确定产品的可靠性。客户零件在有偏差的操作条件下会受到高温的影响。通常，动态信号被施加到处于压...
[可靠性测试] 关于芯片研发过程中的可靠性测试 日期：2023-05-19 17:40:44 点击：291 好评：4
芯片的质量主要取决于 市场、性能和可靠性因素 。 首先，在芯片开发的早期阶段，需要对市场进行充分的研究，以定义 满足客户需求的SPEC ；其次是 性能 ，IC设计工程师设计的电路需...
[可靠性测试] 芯片可靠性要求及商规、工规、车规 日期：2023-05-19 10:02:46 点击：564 好评：0
在芯片的国产化浪潮下，国产芯片的出货量和替代率近年来迅速飙升。按出货量比率看，消费电子领域，电源管理芯片和射频前端芯片国产替代率已超过70%；工控通信领域，电源管理和...
[可靠性测试] 一文理解芯片可靠性测试项目 日期：2023-05-18 16:23:20 点击：3532 好评：28
高温工作寿命（HTOL, High Temperature Operating Life） HTOL是一种常见的半导体器件可靠性测试方法，用于评估芯片在高温和电压条件下的长期稳定性和寿命。该测试通过在高温下加速芯片老化...
