[测试工程] ESD Latch up测试简介 日期：2022-05-04 10:35:08 点击：648 好评：10
本文详细讲解了ESD 和latch up测试的技术要点，敬请参考...
[可靠性测试] 芯片ESD的原理和测试介绍 日期：2022-05-03 21:14:10 点击：1117 好评：8
静电放电(ESD: Electrostatic Discharge)，应该是造成所有电子元器件或集成电路系统造成过度电应力(EOS: Electrical Over Stress)破坏的主要元凶。因为静电通常瞬间电压非常高(几千伏)，所以这种损...
[测试工程] 集成电路(IC)可靠性测试简介 日期：2022-04-25 18:52:55 点击：585 好评：14
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[测试工程] MIPI测试详解 日期：2022-04-20 14:03:29 点击：2168 好评：10
前言： 大家好，本期内容将聚焦于MIPI D-PHY测试，其中的内容汇集了诸位资深工程师的一手经验，摘要如下： 1. MIPI 简介 2. MIPID-PHY 技术概览 3. MIPID-PHY 物理层CTS测试 4. MIPID-PHY 实测难点...
[测试工程] 系统级测试（SLT）详解 日期：2022-04-18 14:38:07 点击：9484 好评：68
前言 在半导体晶体管尺寸越来越小、芯片功能日益复杂的趋势下，系统级测试（简称SLT）变得至关重要。那什么是SLT？SLT是如何帮助提高产品质量并缩短上市时间的？我们将从本文开始...
[测试工程] AEC Q100车用芯片可靠性测试标准详解 日期：2022-03-26 13:07:40 点击：1188 好评：12
AEC(Automotive Electronics Council)汽车电子委员会，由美国三大汽车公司（Chrysler / Ford / GM）联合发起，并于1994年创立，会员分布于全球车厂、汽车电子模组厂和元器件厂商。 AEC Q100是基于失...
[测试工程] 芯片测试之HTOL UHAST BHAST简介 日期：2021-05-12 14:23:00 点击：8842 好评：28
芯片测试过程中，芯片可靠性是非常重要的一环，ESD和Latchup等可靠性测试时间比较短，表征只是瞬间的芯片性能，那么芯片长期运行性能表征要怎么测试呢？ HTOL，uHAST，BHAST的测试就是...
[测试工程] 芯片测试之ESD详解 日期：2021-05-08 13:51:00 点击：1611 好评：6
在芯片测试过程中，ESD是一项非常关键的指标来表征芯片的可靠性。ESD在生活中随处可见，但在芯片测试中，将其归于几种模型，在保证其可靠性的同时，方便测试。 ESD测试归于两个大...
[测试工程] LatchUp测试详解 日期：2021-05-07 13:28:00 点击：5167 好评：20
大家都知道IC芯片的可靠性是芯片能不能正常量产的重要指标，那么IC的可靠性都包括哪些呢？ESD（HBM，CDM），HTOL（老化测试）,HAST(封装可靠性测试),BHAST（偏压可靠性测试），当然还有...
[测试工程] 浅谈IC测试向量（pattern)及其转换 日期：2021-05-04 14:01:00 点击：2405 好评：10
随着集成电路的飞速发展，其规模越来越大，对电路的质量与可靠性要求进一步提高，集成电路的测试方法也变得越来越困难，为了实现芯片的快速测试和筛选，ATE设备为其提供了强有...
