[可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期：2024-04-25 19:32:31 点击：347 好评：0
近几年新能源汽车的发展异常迅速，随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮，但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻，基本以国外芯片供应商为主，国产芯片能进入汽车领域的不...
[测试工程] 芯片测试人才为何火热 日期：2024-04-24 18:36:45 点击：335 好评：0
行业最近流行一句话，上市的芯片设计公司在建测试产线，没有上市芯片设计公司也要建测试产线。 芯片公司自建芯片测试产线，不仅催生繁荣ATE市场，也造成了芯片测试人才需求的紧...
[测试工程] AEC-Q温湿度试验 日期：2024-04-22 11:08:00 点击：277 好评：0
温湿度试验（Temperature with Humidity）是一种测试方法，通过在高温、高湿、高压的加速条件下验证和评估非密封性包装的电子零部件中，封装材料和内部线路对湿气腐蚀的抵抗能力。针对...
[可靠性测试] 电源模块可靠性测试实战指南 日期：2024-04-22 10:41:52 点击：397 好评：0
前言 随着现代科技的迅速发展，市场对产品质量的要求不断提高，产品质量已成为企业核心竞争力的关键因素。在这个品质为王的时代，电源制造商们也面临着更高的要求，只有经过多...
[可靠性测试] PCB电路板的可靠性测试 日期：2024-04-16 21:08:00 点击：285 好评：0
前言 随着时代的发展，PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用，产品竞争日益激烈，因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。在设计可靠的电路板时，需要遵循严谨的PCB设计过程...
[可靠性测试] 三代半SiC-MOSFET的可靠性---基础篇(14) 日期：2024-04-16 18:13:00 点击：464 好评：0
本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外，包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展日新月异，如果有不明之处或希望确认现在...
[可靠性测试] 半导体IGBT可靠性测试的详解； 日期：2024-04-16 17:16:53 点击：762 好评：2
随着电力电子技术的发展，IGBT已被广泛应用在各大领域。为了确保其质量和稳定性，IGBT测试是必不可少的环节。通过测试可以发现问题，并采取措施解决问题，从而顺利进入设计和生...
[可靠性测试] SiC可靠性验证，这些不得不做的测试 日期：2024-04-15 21:58:46 点击：585 好评：-2
1940年，贝尔实验室在研究雷达探测整流器时，发现硅存在PN结效应，1958年，美国通用电气（GE）公司研发出世界上第一个工业用普通晶闸管，标志着电力电子技术的诞生。 从此功率半导...
[可靠性测试] Aehr Test Solutions：在SiC晶圆级测试和老化测试市场 日期：2024-04-15 20:23:00 点击：240 好评：0
Aehr Test Solutions，美国一家拥有独特测试解决方案的小公司，其技术用于苹果的Face ID、英特尔硅光子学，以及最目前对他们业务影响最重要的SiC（碳化硅）市场。 前不久他们发布了自己...
[测试工程] 【资料】能芯半导体姜南：SiC产品测试现状及相 日期：2024-04-15 19:03:00 点击：440 好评：0
6月15日，2023碳化硅功率器件应用及测试技术大会在无锡锡山召开，为了响应会议主题，现场我们邀请到了广东能芯半导体科技有限公司总经理姜南博士出席并发表了《SiC产品测试现状及...
