[S0C系列] 基于ADVANTest T66XX的Base Band通信类SoC测 日期：2010-09-15 13:59:18 点击：2347 好评：694
摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于ADVANTest(爱德万测试)SoC测试系统的高速高精度的任意波形发生器(WVFG)、波形数字...
[混合信号芯片] 基于自动测试系统的ADC测试开发 日期：2010-08-17 11:09:08 点击：3332 好评：610
作者：张建强 北京大学深圳研究生院 冯建华 北京大学微电子学系 冯建科 北京自动测试技术研究所 摘 要: A /D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器...
[优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期：2010-08-15 20:58:18 点击：2508 好评：842
本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...
[开发经验] 集成电路测试程序优化技术分析 日期：2010-08-15 20:54:47 点击：1420 好评：842
冯蕊，于祥苓，周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所，沈阳ll0032) 摘要：介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
[测试生产工程] 测试厂CP及FT测试流程规范 日期：2010-08-10 16:57:34 点击：8214 好评：852
对于测试厂来说，CP以及FT的测试流程尤为重要，一个良好的测试流程不仅能够提高测试厂的产能，测试效率，而且能够提高客户的认可，好评，本文介绍将分别介绍CP及FT的测试流程，...
[测试生产工程] 测试厂产品测试CORRELATION规范 日期：2010-08-10 14:29:17 点击：3810 好评：1281
Correlation作为IC量产测试中一个非常重要的环节，其规范的制定也非常之重要，下面将介绍一种correlation规范的一种，供大家学习参考之用： 1.0 目的 制定產品測試correlation規範，以確保...
[开发经验] 浅谈测试方案（test plan）的建立过程 日期：2010-05-06 21:30:16 点击：1570 好评：878
作为测试工程师，测试方案(Test Plan 我们暂时将TP作为它的简称)的建立是我们一项必不可少的工作，那么如何才能建立一个比较完美的TP呢，接下来我们将简单阐述一下TP的相关问题，以...
[测试座/socket] IC测试socket基础知识 日期：2010-04-03 16:35:44 点击：4208 好评：896
Socket 是广大测试工程师所经常用到测试夹具，它的好坏直接关系到调试的进度，量产测试的成本以及测试的效率，那么如何针对你的IC选取合适的socket呢？本文将阐述socket的一些基础知...
[开发经验] 测试程序及测试板开发注意事项 日期：2009-06-12 21:26:22 点击：1554 好评：762
编者按：测试程序及测试板（loadboard）的开发是测试工程师最主要的工作，作为一个测试新手，你开发的东西也许在工程阶段看不出什么问题，但一旦进入大批量生产阶段，就有可能会...
[开发经验] 浅谈基于ATE的IC测试精确度及稳定性问题 日期：2008-12-10 21:19:09 点击：2085 好评：797
随着IC产业的飞速发展，IC的复杂度及其电气参数的性能也日益提高，同时也给IC测试带来了众多难题，其中测试的精确度及稳定性是一直困扰工程师的两大难题，尤其在量产ATE测试时表...
