 在探索集成电路的奥秘中，机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法，如搜索法，来测量器件的时序关系，确保它们在正确的时间点上进行状态转换。从输出上升/下降时间到信号传输延迟，每一步都至关重要。准备好深入了解这些复杂而精细的测试技术了吗？让我们一起去揭开交流参数的神秘面纱吧~1.测试目的 交流参数测试是测量器件转换状态时的时序关系，保证器件在正确的时间发生状态转换，即输入指定的输入边沿，特定的时间后在输出端检测预期的状态转换。 2.测试原理图 如图V93000输出时间参数测试的测试原理图，在规定的条件下，ATE向被测器件的输入端发送测试激励，被测器件输出端产生输出的型号，在电平比较器对输出信号逐个时间点进行电平比较，验证功能测试在哪个时间点Fail,Fail前通过的时间点即为要测的时间参数。  3.测试方法——搜索法 搜索法是指在规定的测试条件下，在一定的选通范围内对选通时间进行搜索。搜索算法分为线性搜索、二分搜索及线性二分搜索。线性搜索（Linear Search）是一种简单直观的搜索算法，用于在数据结构（如数组或列表）中查找特定元素的位置。它的工作原理是逐个检查数据结构中的每个元素，直到找到所需要元素或遍历完整个数据结构。线性搜索不需要数据结构是有序的，它可以应用于任何类型的数据集合。但在大数据集上效率较低，特别是在最坏的情况下，可能需要检查每个元素，而且由于其线性的特性，很难通过优化来显著提高搜索速度。  如上图，线性搜索的算法步骤为：从数据结构的第一个元素开始，将当前元素与目标值进行比较。如果当前元素与目标值匹配，则返回当前元素的索引，表示搜索成功。如果当前元素与目标值不匹配，移动到下一个元素继续搜索。如果已经检查了所有元素且没有找到匹配项，表示搜索失败，返回一个特定值，表示目标值不在数据结构中。 二分搜索算法（Binary Search）：每次将数组中间值与目标值相比较，若相同，则该元素就是要寻找的元素，若不相同，二分搜索法通过一定的方法抛弃一半的待搜索区间，在剩余的区间中继续以相同方法搜索目标值。 如下图，在二分搜索算法的实现中,抛弃一半区间所依据的是目标值与搜索区间中间值大小的比较,因此二分搜索算法要求数组是有序的,当目标值大于中间值时,抛弃小于中间值的一半区间，反之亦然。 二分搜索算法的查找时间相对线性搜索来说，效率显著提高，而且在处理大量数据且需要频繁查找的场景中特别有用；性能也不会受到数组初始排列顺序（只要是有序的）的影响，每次查找的时间复杂度都是O(logn)。  线性/二分搜索（Linear /Binary Search）:是一种在有序数组中查找特定元素的高效搜索策略。它结合了二分查找的思想和顺序查找的特点。线性/二分搜索首先执行线性搜索，如果找到转换点，则对找到的范围进行二分搜索。  4.常测的交流参数 （1）输出上升/下降时间（TR和TF） 定义：上升时间是指脉冲瞬时值最初到达规定下限和规定上限的两瞬时之间的时间间隔，一般上限和下限分别为90%和10%，也有的规定80%和20%，下降时间指从脉冲峰值幅度的90%下降到10%所经历的时间间隔。如下图T1为上升时间，T2为下降时间。  测试方法：使用搜索法搜索采样沿，设置输出脚的输出比较电平（VOH/VOL）分别为输出电压的90%和10%，每次逐步改变采样沿的时间，更改时间后测试功能pattern，直到该功能pattern不再fail，通过计算VOH和VOL功能通过时的采样沿相减即为要测的上升/下降时间。  （2）输出信号传输延迟时间（TPHL和TPLH） 定义：传输延迟指的是输入信号变化到相应输出信号反应之间的时间间隔。 测试方法：使用搜索法搜索采样沿，设置输出脚的输出比较电平（VOH/VOL）为输出电压的50%，每次逐步改变采样沿的时间，更改时间后测试功能pattern，直到该功能pattern不再fail,那么此时的采样沿时间即为要测的传输延迟时间。  （3）输入信号建立时间（Set_up Time） 定义：从规定的输入端施加上需保持的信号开始，到与另一个输入端上随之发生规定的有效转换之间的时间间隔。如下图为输入脚CLK到输出脚O有效输出数据所需要的时间。  测试方法：在Timing文件设置时钟频率为1MHz,CLK的驱动沿为d1、d2，d1为0ns、d2为50ns，使用搜索法搜索驱动沿d2，设置搜索的范围为0-1000ns，每次逐步改变驱动沿d2的时间，更改时间后测试功能pattern，直到该功能pattern不再fail，那么此时的驱动沿时间即为要测的建立时间 。 （4）输入信号保持时间（Hold Time） 定义：保持时间指的是参考信号到达一定电压点后，为了保证读取无误，数据保持当前状态所必需持续的最小时间，如下图为输入脚CLK的保持时间。  测试方法：在Timing文件设置时钟频率为1MHz,CLK的驱动沿为d1、d2,d1为0ns、d2为50ns，使用搜索法搜索驱动沿d2，设置搜索的范围为0-1000ns，每次逐步改变驱动沿d2的时间，更改时间后测试功能pattern，直到该功能pattern不再fail，那么所需测试的保持时间即为1000ns减去功能测试Fail的前一个通过的时间点 。 5.测试案例 以SN74HC138N器件为例，测试从使能输入引脚G2A到输出引脚Y，由高电平到低电平转换的传输延迟时间。测试步骤大致如下： 如图，在Pin文件中定义管脚名和通道号；Level文件设置电源电压、输入电平值和输出电平值；Timing文件设置测试周期、驱动沿、采样沿及波形模式；Pattern文件编写测试向量，在Testflow文件调用Search方法，设置搜索边沿、范围、步距、算法、搜索管脚、输出管脚。 如图1，设置输出脚的输出比较电平VOH和VOL为输出电压的50%；如图4，设置输出脚的采样沿，搜索范围为0ns到200ns，步距设为1ns，选定输出脚Y，运行后测试输出脚从高变低的功能pattern，直到该功能pattern不再fail，那么此时的采样沿时间即为要测的tPHL 。  图1：Level文件  图2：Timing文件  图3：功能pattern  图4：Test method |
