[测试工程] 一种基于ATE的SerDes物理层测试方法 日期：2023-07-31 18:47:47 点击：364 好评：0
串行传输技术特别是串行解串器（SerDes）能提供比并行传输技术更高的带宽，被广泛应用于嵌入式高速传输领域。SerDes 物理层的测试需要设备的带宽大于信号速率，测试指标高且测试端...
[可靠性测试] IC芯片到底需要做哪些测试？ 日期：2023-07-25 21:58:32 点击：428 好评：2
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[可靠性测试] 寿命测试 日期：2023-07-25 19:27:00 点击：250 好评：0
1.概念 组件，子系统或系统通常会在其预期/指定的使用寿命条件下进行测试。这些条件可能包括时间，温度，振动，冲击，电压等的组合。测试结果可用于证明物品的可靠性并纠正系统...
[可靠性测试] 半导体后端工艺：了解半导体测试（下） 日期：2023-07-25 12:49:53 点击：361 好评：0
晶圆测试 晶圆测试的对象是晶圆，而晶圆由许多芯片组成，测试的目的便是检验这些芯片的特性和品质。为此，晶圆测试需要连接测试机和芯片，并向芯片施加电流和信号。完成封装的...
[可靠性测试] 半导体后端工艺：了解半导体测试（上） 日期：2023-07-22 20:27:37 点击：344 好评：0
半导体制作工艺可分为前端和后端：前端主要是晶圆制作和光刻（在晶圆上绘制电路）；后端主要是芯片的封装。随着前端工艺微细化技术逐渐达到极限，后端工艺的重要性愈发突显。...
[可靠性测试] 高度加速寿命测试 日期：2023-07-21 22:47:31 点击：215 好评：0
高度加速寿命测试 1.概念 高度加速寿命测试（HALT）是一种加速的环境测试过程，用于评估和提高产品设计和组件/材料的耐用性。产品的坚固性是最终可靠性性能的直接指标。高度加速...
[测试工程] 每次提出一个bug都让测试重现 日期：2023-07-19 18:30:00 点击：264 好评：0
开发的工作就是按照PM的设计将产品最终造出来，而测试则是在开发已完成的工作里纠错。so，测试的工作会让开发很不爽，人之常情，谁都不喜欢自己的劳动成果被别人挑毛病。 如果...
[可靠性测试] 芯片测试问答 日期：2023-07-18 20:30:51 点击：1151 好评：2
Q1 请问一下大家做HTOL时有加信号吗？ 要根据芯片需要来决定。大部分芯片是跑老化Pattern， 有些芯片是需要通过总线配置寄存器，比如I2C，SPI，JTAG 来启动内部老化模式。还有些芯片是...
[测试工程] 消费类音视频SoC系统ATE测试要求 日期：2023-07-16 14:30:29 点击：296 好评：0
消费类音视频SoC系统ATE测试要求 ICtest [导读] 随着大批量消费类行业中SoC与SIP日趋复杂化，低成本与高器件寿命周期这两个基本要求的矛盾更加突出。消费者要求在相同或更低成本基础...
[可靠性测试] 集成电路测试中的BIST技术研究与应用 日期：2023-07-15 12:27:10 点击：328 好评：0
摘要： 随着集成电路技术的不断发展，芯片的复杂度和规模呈指数级增长，对测试技术提出了更高的要求。BIST（Built-In Self-Test）技术作为一种集成测试电路在芯片内部的自动测试方法...
