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  • [测试工程] 芯片封测|半导体ATE:国内装备的前进之路 日期:2024-04-27 20:22:00 点击:308 好评:0

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  • [可靠性测试] 汽车电子可靠性测试详解---AEC-Q100/101 日期:2024-04-25 19:32:31 点击:224 好评:0

    近几年新能源汽车的发展异常迅速,随之而来的车用芯片的发展同样会迎来一波高潮,但汽车电子对IC质量的要求非常苛刻,基本以国外芯片供应商为主,国产芯片能进入汽车领域的不...

  • [测试工程] 芯片测试人才为何火热 日期:2024-04-24 18:36:45 点击:280 好评:0

    行业最近流行一句话,上市的芯片设计公司在建测试产线,没有上市芯片设计公司也要建测试产线。 芯片公司自建芯片测试产线,不仅催生繁荣ATE市场,也造成了芯片测试人才需求的紧...

  • [测试工程] AEC-Q温湿度试验 日期:2024-04-22 11:08:00 点击:174 好评:0

    温湿度试验(Temperature with Humidity)是一种测试方法,通过在高温、高湿、高压的加速条件下验证和评估非密封性包装的电子零部件中,封装材料和内部线路对湿气腐蚀的抵抗能力。针对...

  • [可靠性测试] 电源模块可靠性测试实战指南 日期:2024-04-22 10:41:52 点击:280 好评:0

    前言 随着现代科技的迅速发展,市场对产品质量的要求不断提高,产品质量已成为企业核心竞争力的关键因素。在这个品质为王的时代,电源制造商们也面临着更高的要求,只有经过多...

  • [可靠性测试] PCB电路板的可靠性测试 日期:2024-04-16 21:08:00 点击:201 好评:0

    前言 随着时代的发展,PCB电路板在各种终端产品中发挥着重要作用,产品竞争日益激烈,因此对PCB产品的可靠性提出了更高的要求。在设计可靠的电路板时,需要遵循严谨的PCB设计过程...

  • [可靠性测试] 三代半SiC-MOSFET的可靠性---基础篇(14) 日期:2024-04-16 18:13:00 点击:278 好评:0

    本文就SiC-MOSFET的可靠性进行说明。这里使用的仅仅是ROHM的SiC-MOSFET产品相关的信息和数据。另外,包括MOSFET在内的SiC功率元器件的开发与发展日新月异,如果有不明之处或希望确认现在...

  • [可靠性测试] 半导体IGBT可靠性测试的详解; 日期:2024-04-16 17:16:53 点击:447 好评:2

    随着电力电子技术的发展,IGBT已被广泛应用在各大领域。为了确保其质量和稳定性,IGBT测试是必不可少的环节。通过测试可以发现问题,并采取措施解决问题,从而顺利进入设计和生...

  • [可靠性测试] SiC可靠性验证,这些不得不做的测试 日期:2024-04-15 21:58:46 点击:385 好评:0

    1940年,贝尔实验室在研究雷达探测整流器时,发现硅存在PN结效应,1958年,美国通用电气(GE)公司研发出世界上第一个工业用普通晶闸管,标志着电力电子技术的诞生。 从此功率半导...

  • [可靠性测试] Aehr Test Solutions:在SiC晶圆级测试和老化测试市场 日期:2024-04-15 20:23:00 点击:178 好评:0

    Aehr Test Solutions,美国一家拥有独特测试解决方案的小公司,其技术用于苹果的Face ID、英特尔硅光子学,以及最目前对他们业务影响最重要的SiC(碳化硅)市场。 前不久他们发布了自己...

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