[可靠性测试] 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第二篇） 日期：2024-11-15 19:03:00 点击：338 好评：2
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（黄永兆）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 第一篇链接： 元器件可靠性失效分析系列-MLCC（第一篇） 3、MLCC不当使用失效原因...
[测试工程] 芯片可靠性测试与设计讨论 日期：2024-11-15 18:28:09 点击：282 好评：0
以下内容为可靠性知识共享学习会的会员朋友（湛灿辉）的经验分享，非常感谢其支持与共享，谢谢！ 芯片的寿命试验HTOL（high temperature operation life）测试，曾经被认为某个芯片通过了...
[测试工程] 一文讲透芯片测试 日期：2024-11-15 17:13:00 点击：474 好评：2
本文就芯片测试做详细的讲解和介绍。 芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chip probering)和FT(final test)，某些芯片还会加入SLT（system leve test）。 CP测试 CP测试也叫wafer test，也就是在芯...
[可靠性测试] 元器件可靠性技术（DPA与失效分析） 日期：2024-11-14 19:33:00 点击：334 好评：0
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[测试工程] HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试 日期：2024-11-14 19:13:00 点击：515 好评：-2
HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验) 是测定IC等产品可靠性的一种方法。 随着温度条件的不同，IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。 参考标准：M...
[测试工程] HTOL 日期：2024-11-14 17:20:00 点击：344 好评：0
HTOL/ LTOL：高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life ） 目的 : 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力 测试条件 : 125℃，1.1VCC, 动态测试 失效机制：电子迁移，氧...
[测试工程] IC 测试入门--测试数据基本介绍 日期：2024-11-12 20:47:00 点击：348 好评：-2
题图来源于网络 RightNow(NaNaNa) ,Akon-Freedom 之前说过，一个测试工程师不做数据分析，基本上也就是说他根本就还没理解一个测试工程师的基本职责。这里把一些测试数据的名词做一些介...
[测试工程] 集成电路测试（四）——基于V93000的Digital Captu 日期：2024-11-12 19:32:00 点击：325 好评：0
1、 概念 ENJOY LIFE 数字捕获（Digital Capture）是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能，其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出，并将这些数据存储以供后续分析与处...
[测试工程] 集成电路测试技术 -“概述” 日期：2024-11-12 18:15:00 点击：178 好评：0
集成电路测试技术 概述 芯片/科普 集成电路测试技术在现代电子产业中扮演着至关重要的角色。它不仅确保了芯片的质量和可靠性，还对提升生产效率、降低成本以及推动技术创新具有...
[测试工程] 浅谈ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 日期：2024-11-11 21:58:00 点击：287 好评：0
ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 集成电路测试（一） 01. ATS内部结构 1、第三代自动测试系统的构成 ATS：自动测试系统，表示在计算机控制下，能自动进行量测、处理数据，...
