[测试工程] ESD防护——二极管的应用（二） 日期：2023-03-14 14:42:23 点击：337 好评：0
这期继续讲解二极管在ESD防护中的应用。上期讲解了Polysilicon-Bound diode针对ESD防护的优势以及工作机理，这期继续分析，器件结构参数对其ESD性能的影响. 图一.Polysilicon-Bound diode结构参数...
[测试工程] ESD防护—二极管的应用（一） 日期：2023-03-14 14:14:53 点击：271 好评：0
二极管在早期IC电路的ESD防护中一直扮演着重要角色。即便现在二极管依然在ESD防护中发挥着重要的作用。这期就讲一下二极管在ESD防护中的作用。在ESD防护中所应用的二极管分为两种...
[测试工程] 浅谈ESD防护—CDM（三）防护设计篇 日期：2023-03-09 13:50:03 点击：761 好评：14
前几期讲了CDM的机理与测试方法，这一期就探讨一下如何对CDM进行防护。目前测试CDM的详规都是要求封装后测试，所以提升芯片CDM防护能力的途径有两种：封装和片内设计。这两者就如...
[测试工程] 浅谈ESD防护—CDM（二） 日期：2023-03-09 13:40:17 点击：1358 好评：6
上一期讲到了CDM的原因与机理，这一期继续探讨CDM的测试与失效分析。 三.CDM测试 目前针对CDM的测试规模主要有：ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2018 /IEC 60749-28/AEC-Q100-11。这三个详规都是 针对封装后...
[测试工程] 浅谈ESD防护—CDM（一） 日期：2023-03-09 13:24:05 点击：5075 好评：40
浅谈ESD防护CDM（一） 之前文章讲的ESD防护电路或器件，都是针对HBM波形，针对CDM波形提及的较少。这一期就专门针对CDM防护进行探讨。 CDM(Charge Device Model) ，与MM与HBM一起作为ESD的三种...
[可靠性测试] 元器件知识-集成电路好坏检测的方法有哪些 日期：2023-02-17 14:17:08 点击：368 好评：0
集成电路的型号很多，内部电路千变万化，故检测集成电路好坏较为复杂。下面介绍一些常用集成电路好坏检测的方法。 1.开路测量电阻法 开路测量电阻法是指在集成电路未与其他电路...
[可靠性测试] 芯片封装&测试流程 日期：2023-02-17 11:47:56 点击：579 好评：0
IC Package (IC的封装形式)指芯片(Die)和不同类型的框架(L/F)和塑封料(EMC)形成的不同外形的封装体。 IC Package种类很多，可以按以下标准分类： 按封装材料划分为： 金属封装、陶瓷封装、塑...
[可靠性测试] EMC共模测试和差模测试简介 日期：2023-02-15 13:57:20 点击：512 好评：0
一、共模信号和差模信号 通常电源线有三根线(单相)，火线L，零线N和地线PE。 电压和电流的变化通过导线传输时有两种形态, 一种是两根导线分别做为往返线路传输, 我们称之为差模...
[可靠性测试] 什么是芯片老化测试？ 日期：2023-02-15 10:58:39 点击：406 好评：-2
芯片老化测试是一种采用电压和高温来加速器件电学故障的电应力测试方法。老化过程基本上模拟运行了芯片整个寿命，因为老化过程中应用的电激励反映了芯片工作的最坏情况。根据...
[可靠性测试] 为您整理的九个芯片老化测试经验 日期：2023-02-10 13:29:25 点击：246 好评：0
芯片老化测试对于芯片测试至关重要 ，但是需要 注意些什么关键点，这次的文章内容 ，我们就来聊聊 。依据以往的经验 ，谷易电子为您总结出困扰 DFT技术工程师的问题 ,可根据这些...
