[测试工程] IC测试项目一般有哪些？ 日期：2024-11-06 20:20:00 点击：223 好评：0
IC测试是保证集成电路产品在实际应用中能稳定运行的关键环节。IC测试项目的相关内容包括直流(DC)测试、交流(AC)测试、功能测试以及混合信号测试。 1. 直流(DC)参数测试 直流(DC)参数测...
[测试工程] Advantest 93000测试机中CLOCK DOMAIN 详解 日期：2024-11-05 21:06:00 点击：384 好评：0
爱德万测试（Advantest）的V93000系列测试系统是一个高度模块化和可扩展的平台，专为复杂和高性能的半导体器件测试而设计，包括系统级芯片（SoC）、存储器、射频（RF）和混合信号器...
[测试工程] CP测试系统的构成 日期：2024-11-05 20:44:00 点击：371 好评：0
CP测试系统可以类比为一个精密的医设备，用于检查晶圆上的芯片是否健康，确保它们在最后加工成成品之前符合规格。这个测试系统主要由以下几个核心部分组成： 测试机（ATE）：就...
[测试工程] 如何测试时钟芯片 日期：2024-11-05 19:04:00 点击：349 好评：0
时钟芯片的测试可以从时钟生成的过程和芯片的关键模块入手。时钟芯片的核心功能是产生稳定、准确的频率输出，并能根据系统的需求调整输出频率。因此，测试主要聚焦在芯片内部...
[可靠性测试] HTOL与LTOL的相关标准与失效模式详解 日期：2024-11-03 20:41:00 点击：692 好评：0
一、HTOL（高温寿命试验） 1. 定义与目的 HTOL（High Temperature Operating Life Test）即高温寿命试验，是一种通过加速热激活失效机制来确定产品可靠性的测试方法。该测试在模拟高温工作环境...
[可靠性测试] IC 产品的质量与可靠性测试 日期：2024-11-03 19:31:38 点击：257 好评：0
IC 产品的质量与可靠性测试 (IC Quality Reliability Test ) 质量（Quality）和可靠性（Reliability）在一定程度上可以说是IC 产品的生命，好的 品质，长久的耐力往往就是一颗优秀IC产品的竞争力所...
[可靠性测试] IC芯片老化测试以及方案详解 日期：2024-11-03 18:27:00 点击：252 好评：0
芯片老化试验是一种对芯片进行长时间运行和负载测试的方法，以模拟芯片在实际使用中的老化情况。 1. 目的：芯片老化试验的目的是评估芯片在长时间使用和负载情况下的可靠性和性...
[测试工程] 晶圆生产中工艺参数监控和测试相关的术语 日期：2024-10-31 21:14:36 点击：279 好评：0
1. Monitor 在晶圆生产中，Monitor指的是对设备、工艺或产品进行实时或定期的监控，以确保其处于正常的运行状态。例如，某些设备或工艺步骤需要通过monitor数据来判断是否可以继续生产...
[测试工程] IC测试键（Test Key） 日期：2024-10-31 20:46:58 点击：667 好评：0
IC测试键（Test Key）是集成电路（IC）测试中的重要概念。 1. 什么是IC测试键？ IC测试键可以看作是芯片设计中的窗口或探针点，这些特定位置的电路接口，能够让你在制造或测试阶段窥...
[测试工程] CP测试和WAT测试的区别 日期：2024-10-31 19:30:00 点击：467 好评：0
在集电路的制造和测试过程中，CP测试（Chip Probing）和WAT测试（Wafer Acceptance Test）是两个非常重要的测试环节。尽管它们都在晶圆（Wafer）阶段进行，但二者的目的、测试对象、测试内容...
