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  • [测试工程] 一文讲透芯片测试 日期:2024-11-15 17:13:00 点击:448 好评:2

    本文就芯片测试做详细的讲解和介绍。 芯片的测试大致可以分成两大部分。CP(chip probering)和FT(final test),某些芯片还会加入SLT(system leve test)。 CP测试 CP测试也叫wafer test,也就是在芯...

  • [可靠性测试] 元器件可靠性技术(DPA与失效分析) 日期:2024-11-14 19:33:00 点击:327 好评:0

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  • [测试工程] HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试 日期:2024-11-14 19:13:00 点击:480 好评:-2

    HTSL: High temperature storage life test (高温保存寿命试验) 是测定IC等产品可靠性的一种方法。 随着温度条件的不同,IC产品保持正常性能直至失效前时间的参考标准也不一样。 参考标准:M...

  • [测试工程] HTOL 日期:2024-11-14 17:20:00 点击:332 好评:0

    HTOL/ LTOL:高/低温操作生命期试验(High/ Low Temperature Operating Life ) 目的 : 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力 测试条件 : 125℃,1.1VCC, 动态测试 失效机制:电子迁移,氧...

  • [测试工程] IC 测试入门--测试数据基本介绍 日期:2024-11-12 20:47:00 点击:330 好评:0

    题图来源于网络 RightNow(NaNaNa) ,Akon-Freedom 之前说过,一个测试工程师不做数据分析,基本上也就是说他根本就还没理解一个测试工程师的基本职责。这里把一些测试数据的名词做一些介...

  • [测试工程] 集成电路测试(四)——基于V93000的Digital Captu 日期:2024-11-12 19:32:00 点击:317 好评:0

    1、 概念 ENJOY LIFE 数字捕获(Digital Capture)是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能,其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出,并将这些数据存储以供后续分析与处...

  • [测试工程] 集成电路测试技术 -“概述” 日期:2024-11-12 18:15:00 点击:170 好评:0

    集成电路测试技术 概述 芯片/科普 集成电路测试技术在现代电子产业中扮演着至关重要的角色。它不仅确保了芯片的质量和可靠性,还对提升生产效率、降低成本以及推动技术创新具有...

  • [测试工程] 浅谈ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 日期:2024-11-11 21:58:00 点击:278 好评:0

    ATS内部结构 数字集成电路直流参数测试原理 集成电路测试(一) 01. ATS内部结构 1、第三代自动测试系统的构成 ATS:自动测试系统,表示在计算机控制下,能自动进行量测、处理数据,...

  • [测试工程] 集成电路测试(二)——功能测试及码型格式 日期:2024-11-11 20:46:00 点击:335 好评:0

    测试概 功能测试用于验证IC是否能完成设计所预期的工作或功能。功能测试的基本过程是应用一有序或随机组合的测试图形,以电路规定的速率作用于被测器件,并通过观察被测器件输...

  • [测试工程] 集成电路测试(三)——基于V93000的交流参数测 日期:2024-11-11 19:16:00 点击:242 好评:0

    在探索集成电路的奥秘中,机台V93000里的交流参数测试扮演着至关重要的角色。今天将带你深入了解如何通过测试方法,如搜索法,来测量器件的时序关系,确保它们在正确的时间点上...

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