[测试工程] 芯片OS的测试方法 日期：2024-01-13 18:16:00 点击：1788 好评：8
OS（Open-Short）测试是芯片测试的第一个环节，又称之为ContinuityTest 或 Contact Test。用来确认所有的信号管脚是否有openshort的情况，如果出现openshort，接下来的测试也是没有意义的，因此...
[测试工程] Leakage测试 日期：2024-01-13 16:30:27 点击：1154 好评：4
Leakage的含义是漏电，测试的对象是input pin，即测量输入管脚在输入时是否存在漏电，以及漏电的大小是否在设计要求之内。有两点问题需要注意下，一是确定测试对象，二是有没有上下...
[测试工程] 干货 | 如何测试电源的效率 日期：2024-01-11 17:51:15 点击：199 好评：0
▲更多精彩内容请点击上方蓝字关注我们吧！ 效率是电源测试中十分常见的测试项，高效的电源表现是众多厂家一直追求的目标。在芯片的规格书中，一般会提供几种常见输入输出应用...
[测试工程] SI-list【中国】牛X ▏32G+ SerDes可以上93K机台批量测 日期：2024-01-11 17:36:35 点击：444 好评：0
随着信息通信技术的发展，对数据传输的速率、效率要求越来越高，传统并行接口的速度已经达到一个瓶颈，速度更快的串行接口是技术发展趋势。于是原本用于光纤通信的SerDes技术成...
[测试工程] 芯片测试简介 日期：2024-01-10 13:33:52 点击：342 好评：4
芯片这一词想必大家并不陌生，生活中芯片的应用随处可见，数码产品，医疗设备，家用电器，汽车电子等能看到它的影子。从功能上来说有CPU，GPU，MCU，FPGA等计算芯片。 DRAM，NAND，...
[测试工程] J750 prebody,body,postbody执行内容以及调用关系 日期：2024-01-10 13:28:49 点击：167 好评：2
所有的IG-XL测试模板都有相同基本结构，每个部分在运行时需要执行三个部分，即：prebody，body，postbody。下面介绍这三种测试体的概念以及调用关系。 Prebody: Prepares for the testing. Typica...
[可靠性测试] IDD&IDDQ测试 日期：2024-01-10 13:16:54 点击：1325 好评：4
IDD测试分为静态IDD和动态IDD测试，测试电源pin的电流。静态IDD是指芯片处于低功耗状态下的一种测试模式，而动态IDD可以理解为处于高功耗状态下的测试模式，无论哪种模式都需要配置...
[可靠性测试] 关于半导体IC老化测试过程中您需要了解的内容！ 日期：2024-01-02 19:02:00 点击：258 好评：0
第 1 部分 简介 无论我们走到哪里，我们都时刻被科技所包围。事实上，我们的智能手机已经成为我们日常生活中不可或缺的工具。如果不使用此设备，您将很难过一天。这些不同类型...
[测试工程] 93k测试机使用教程_01 日期：2023-12-29 21:02:00 点击：468 好评：4
一、测试万法程予介绐 对于标准测试函数未涵盖的应用程序 ,您可以创建原始的测试程序,称为测试方法程序。SmarTest软件提供各种自定义功能,这些功能是标准C++编程语言的扩展,用于编...
[可靠性测试] 可靠性试验（HALT）及可靠性评估技术 日期：2023-12-27 19:19:00 点击：226 好评：0
什么是可靠性试验？ 可靠性试验是指通过试验测定和验证产品的可靠性。研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可...
