 HTOL（高温工作寿命测试）和 Burn-in（老化测试）在半导体可靠性测试中关系密切，它们有显著的重叠，但侧重点不同。简单来说，Burn-in 是 HTOL 的一种应用形式。主要区别: 以下是HTOL（高温工作寿命测试）与Burn-in（老化筛选测试）的核心差异分析： 1. 测试目的 2. 测试参数 Burn-in的电压范围，覆盖1.1V到1.5倍额定电压，根据产品添加Burn-in需要的电压。
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HTOL（高温工作寿命测试）和 Burn-in（老化测试）在半导体可靠性测试中关系密切，它们有显著的重叠，但侧重点不同。简单来说，Burn-in 是 HTOL 的一种应用形式。主要区别: 以下是HTOL（高温工作寿命测试）与Burn-in（老化筛选测试）的核心差异分析： 1. 测试目的 2. 测试参数 Burn-in的电压范围，覆盖1.1V到1.5倍额定电压，根据产品添加Burn-in需要的电压。
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