[测试基础理论] 基于扫描的DFT对芯片测试的影响 日期：2006-07-03 16:47:24 点击：667 好评：372
引言 随着ASIC电路结构和功能的日趋复杂，与其相关的测试问题也日益突出。在芯片测试方法和测试向量生成的研究过程中,如何降低芯片的测试成本已经成为非常重要的问题。DFT(可测性...
[测试相关新闻] IC测试新技术新标准发展动向 日期：2006-07-03 16:30:24 点击：512 好评：370
一、降低测试成本提高测试速度势在必行 任何一种电子产品都离不开体积小、功能强的芯片，正是芯片推动着IC飞速发展，同时，也推动着IC电子设计自动化和测试技术的发展，但是测...
[测试基础理论] 低压差线性稳压器简介 日期：2006-03-02 13:01:55 点击：724 好评：467
什么是LDO？ 什么是 LDO? LDO 是一种线性稳压器。线性稳压器使用在其线性区域内运行的晶体管或 FET，从应用的输入电压中减去超额的电压，产生经过调节的输出电压。所谓压降电压，是...
[测试基础理论] 电压比较器VIO的开环测试 日期：2005-07-03 16:45:43 点击：609 好评：381
输入失调电压(VIO)是电压比较器(以下简称比较器)一个重要的电性能参数，GB/T 6798－1996中，将其定义为使输出电压为规定值时，两输入端间所加的直流补偿电压。传统测试设备大都采用...
[测试基础理论] VLSI芯片－数字信号测试 日期：2005-07-03 16:22:59 点击：642 好评：415
数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础，已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案，包括功能测试仿真向量的产生，转换和实际测试操作，以...
[测试基础理论] IC测试简述 日期：2005-03-02 08:53:25 点击：866 好评：518
随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度，多功能的集成块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路...
[混合信号芯片] 通信类SoC－Base Band测试方案 日期：2005-02-25 09:33:32 点击：1318 好评：691
通信类SoC测试方案Base Band 徐勇，魏炜，川端雅之，小圆祐一，浅见幸司 ADVANTEST 摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于...
