[测试设备原理] ATE测试中的Tabei-Ueda插值算法 日期：2026-09-04 23:02:07 点击：129 好评：0
PLL频率测试，怎么就卡在频率分辨率上 做PLL频率测试时，最常见的手段是把输出信号采样后做FFT，然后在频谱里找峰值。这个方法简单粗暴，但对FFT的固有缺陷视而不见： 频率分辨率...
[测试设备原理] 校准与相关性：同一颗芯片换台机器测，结果凭 日期：2026-08-27 22:39:48 点击：173 好评：0
摘要：芯片测出来合不合格，结论其实来自一台机器的读数。机器会老化，读数会漂，两台机器之间也会有偏差。校准解决的是单台机器准不准，相关性解决的是机器之间像不像。这两...
[测试设备原理] ATE 配件科普：芯片测试座 Socket 详解 日期：2026-08-25 21:16:00 点击：97 好评：0
一、什么是芯片测试座 测试座（Socket）是 ATE 与封装芯片的中转连接载体 ，无需焊接即可快速装夹 DUT，搭建稳定电气通路，完成芯片功能、DC/AC 参数量产测试。 核心特点 1. 可反复复用...
[测试设备原理] 第三篇：芯片测试设备&治具通用技术标准与行业 日期：2026-07-12 18:10:48 点击：234 好评：0
芯片测试设备与治具并非按需选用即可，所有硬件的选型、验收、使用、校准、老化验证，都必须遵循 通用行业基础标准+细分场景专项合规标准 。技术标准的核心意义，是统一测试精...
[测试设备原理] V93k ReleaseNote数据要求 日期：2026-06-28 09:45:00 点击：131 好评：0
V93k ReleaseNote数据要求，仅供参考，借鉴。 Item 数据格式 Remark Single site pass datalog EventFormatter Full sites pass datalog EventFormatter 50xloop result Stdf Test time TP360 report or Uireport+stdf 有TP360优先使用...
[测试设备原理] 半导体设备系列 Vol.15 | 先进封装量检测与KGD测试 日期：2026-05-06 22:31:42 点击：424 好评：0
讲先进封装时，大家最容易把焦点放在怎么做互连、怎么堆叠、怎么键合。但真到量产现场，另一个问题不得不值得大家关注： 如果一颗坏 die 被装进一个昂贵的 HBM 、2.5D 中介层或 c...
[测试设备原理] V93000学习入门(11) 日期：2025-03-19 20:56:00 点击：880 好评：0
在使用V93K测试设备进行芯片测试时，整个测试流程可以分为以下八个关键步骤： 1. Test Plan（测试计划）：首先明确测试目标，规划需要验证的功能和性能指标，包括功能测试、扫描测...
[测试设备原理] V93000学习入门(13) 日期：2025-03-19 19:31:00 点击：766 好评：0
V93K FlexDC API是用于在V93K测试平台上生成直流（DC）测试程序的接口，以实现高效的并行测试和多站点（multi-site）测量。 本文目录 oPin Scale测试系统 oSPMU_TASK API oDPS_TASK API oFlexDC APIs 1. P...
[测试设备原理] 第三十期芯片测试培训开课通知~ 日期：2024-12-10 19:31:00 点击：555 好评：0
随着国家对集成电路产业的大力支持，目前整个行业发展如火如荼，一路高歌猛进，国内芯片设计公司，晶圆厂，封测厂等相关企业的数量急剧增加，由此带来了行业人才的空前匮乏，...
[测试设备原理] V93000学习入门 日期：2024-11-05 22:17:41 点击：1600 好评：-10
文章介绍了V93k这种高级ATE机台，用于半导体测试，具备高速、多功能、高可靠性和灵活性等特点。硬件包括测试头、板卡等，软件基于Linux但易用。DPS64和PS1600是两种重要的板卡资源，...
