随着IC产业的飞速发展,IC的复杂度及其电气参数的性能也日益提高,同时也给IC测试带来了众多难题,其中测试的精确度及稳定性是一直困扰工程师的两大难题,尤其在量产ATE测试时表...
传统的Fuse主要有三种:以大电流烧断的金属熔线(Metal Fuse)和多晶硅熔线(Poly Fuse),或是以激光烧断之金属熔线(Laser Fuse)。Fuse为电子产品中之关键性零组件,其功能为掌管备用内存(Redu...
随着第三代DVD播放机的面世,支持DVD-AUDIO的24 bit 96 kHz的音频DAC被大量使用。面对如此众多的产品,如何根据数据手册中参差不齐的动态指标进行对比和评估?又如何选择以期达到最优...
在经过短期的修整之后,接下来将为大家推出的是一款5通道DVD马达驱动芯片的测试实例,此款芯片也柔和了多种功能,本文以流行的DVD马达驱动芯片AM5868为例,详细介绍其wafer测试和...
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一。因此,集成电路测试仪(或测试系统,下同)作为一个测试门类...
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理,一共分为四章,下面将要介绍的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原理,第二章介绍了这些基本原理在存储器...
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理,一共分为四章,下面将要介绍的是第三章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理;第二章讨论了怎么把这些基本原...
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理,一共分为四章,下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理,描述了影响芯片测试方案选择的...
本系列一共四章,下面是第一部分,主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理, 内容覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集...
开短路测试(openshort) 开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路,及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试...