[测试基础理论] IDDQ测试解析 日期：2010-08-13 15:13:06 点击：2334 好评：366
IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要，本文将详细阐述IDDQ测试原理，测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...
[测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期：2010-08-10 20:13:31 点击：844 好评：832
本文详细介绍了差分信号的各种特性，从原理，PCB设计，仿真等各方面阐述了差分信号的特点，为intel内部培训资料，不可多得，值得参考，强烈推荐，以下为资料主要内容： Different...
[测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期：2010-07-10 15:36:45 点击：111 好评：406
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理，方法，是一本非常难得的IC测试书籍，被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料，适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...
[测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期：2010-07-07 16:04:50 点击：3989 好评：420
本站收集了一些memory测试资料，其中包括memory原理及测试介绍，另外包括一个测试程序的demo，以供测试工程师参考。详见如下： Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...
[测试机台/ATE] 一种简易IC测试机的实现方案 日期：2010-04-24 14:11:42 点击：1243 好评：588
集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...
[测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期：2010-03-02 15:27:55 点击：2865 好评：360
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
[测试机台/ATE] Credence D10 Application Training 日期：2010-01-24 19:19:21 点击：2256 好评：552
Credence Diamond10規格表 在台灣這兒, D10的價位約只有同配備J750的50%~66%, 測試成本低廉許多. D10也是使用x86 PC host, OS用的是RedHat的Linux, 測試語言是文字型態的C++, GUI化的只有Analog及debuging...
[测试基础理论] 总谐波失真简介 日期：2010-01-14 10:11:44 点击：529 好评：463
总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号比输入信号多出的额外谐波成分。谐波失真是由于系统不是完全线性造成的，它通常用百分数来表示。所有附加谐波电平之和称为总谐波失真...
[测试机台/ATE] 如何评价、比较和选择小型数字集成电路测试系 日期：2010-01-04 19:30:06 点击：772 好评：602
对数字集成电路测试系统如何进行评价、比较和选择是一个相当复杂的问题。应该对测试要求、系统性能、资金能力和技术支持能力几方面进行综合平衡。 就系统性能来说，即便是小型...
[芯片相关原理] 开关功率mos管介绍 日期：2009-11-20 16:54:26 点击：670 好评：855
在使用MOS管设计开关电源或者马达驱动电路的时候，大部分人都会考虑MOS的导通电阻，最大电压等，最大电流等，也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的，但并不...
