[测试机台/ATE] ATE加流测压及加压测流的设计 日期：2015-02-07 11:40:27 点击：5250 好评：375
自动测试设备 是用于测试分立器件、集成电路、混合信号电路直流参数、交流参数和功能的测试设备。主要通过测试系统软件控制测试设备各单元对被测器件进行测试，以判定被测器件...
[测试设备原理] 高阻抗微弱信号测量的保护电路设计 日期：2014-10-22 09:08:10 点击：1215 好评：280
空气质量检测、光电信号探测、加速度计、压电传感器以及生物体信号等 高阻抗 信号测量，易受到来自测量系统输入电阻、输入偏置电流的影响，实际测量系统中主要有与信号路径相并...
[测试设备原理] 负载电流的测量方法分析 日期：2014-10-22 08:51:34 点击：1635 好评：256
引言 电流 测量 可用于监测许多不同的参数，输入功率就是其中之一。有许多采样元件都可用来测量 负载电流 ，但没有一种元件能够覆盖所有应用。每种采样元件都有其优点和缺点。...
[测试元器件] 元器件基础知识：电容器是如何工作的？ 日期：2014-10-17 10:47:13 点击：1586 好评：303
一篇不错的电容知识，原理介绍 电路是道路，电荷是车 如果将一个电路比作马路的话，电荷的移动就好像车流一样。 阻抗是崎岖的道路 道路凹凸不平的情况下，车的行驶速度虽然会减...
[测试基础理论] 关于Cpk的一些知识 日期：2014-05-30 09:22:02 点击：13729 好评：319
关于 Cpk 的一些常识 现在很多的客户要求了解你生产设备的能力，都要求看你的Cpk值。什么是Cpk值？我这里传载一些介绍给大家，要详细的了解，还是要看SPC。 SPC相关术语解释 您知道...
[测试基础理论] 集成稳压器调整率参数的测试 日期：2014-05-24 21:23:29 点击：2133 好评：344
集成稳压器调整率参数的测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 赵建平 摘要 本文介绍了集成稳压器调整率参数的测量原理和方法，分析了影响调整率参数测量精度的各种原因以及为此而采...
[测试基础理论] 半导体分立器件参数的脉冲测试 日期：2014-05-24 21:01:53 点击：2021 好评：334
半导体分立器件参数的脉冲测试 北京华峰测控技术公司 孙 铣 钟晓红 内 容 摘 要 本文介绍了半导体分立器件参数脉冲测试的必要性，有关标准对脉冲测试的要求及实现的方法。并介绍...
[测试基础理论] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---关于pattern 日期：2014-02-19 19:40:55 点击：3052 好评：319
argee 12:31:12 饭后说说pattern，从TE角度，pattern还是要理解的，否则没办法调试 argee 12:32:29 pattern从VCD,WGL，STIL转化过来，也有纯手工写的 鹏程兄弟 12:33:52 继续 argee 12:34:12 pattern的一行你可...
[芯片相关原理] 集成电路latch up简介 日期：2013-05-03 16:30:35 点击：4485 好评：922
SCR结构可控硅及闩锁效应 一、SCR可控硅介绍 可控硅又称晶闸管(thyristor)，最早由美国贝尔实验室发明，是由三个及以上pn结组成、具有开关特性的半导体器件的总称，通常使用最多的是...
[开发经验] 小电流（高电阻）的测量技巧 日期：2013-04-18 20:30:16 点击：3197 好评：813
小电流的定义 IC测试机因为是高端测量，会受到内部开关，引线，pcb板等影响，所以最小电流量程一般为1UA左右；JUNO机等一些分立器件专用测试机，采用低端测量，加上特殊的布线等方...
