[测试基础理论] IC测试原理解析(第四部分) 日期：2008-08-18 16:43:52 点击：685 好评：359
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是最后一章。第一章介绍了芯片测试的基本原理，第二章介绍了这些基本原理在存储器...
[测试基础理论] IC测试原理解析(第三部分) 日期：2008-08-18 16:39:45 点击：905 好评：364
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第三章。我们在第一章介绍了芯片测试的基本原理；第二章讨论了怎么把这些基本原...
[测试基础理论] IC测试原理解析(第二部分) 日期：2008-08-18 16:36:31 点击：1133 好评：333
芯片测试原理讨论在芯片开发和生产过程中芯片测试的基本原理，一共分为四章，下面将要介绍的是第二章。我们在第一章介绍了芯片的基本测试原理，描述了影响芯片测试方案选择的...
[测试基础理论] IC测试原理解析(第一部分) 日期：2008-08-18 16:33:16 点击：1789 好评：343
本系列一共四章，下面是第一部分，主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理， 内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 第一章 数字集...
[测试基础理论] 开短路测试简介 日期：2008-08-02 10:00:33 点击：1443 好评：535
开短路测试(openshort) 开短路测试(open_short_test)又叫continuity test 或contact test,它是一种非常快速发现芯片的各个引脚间的是否有短路，及在芯片封装时是否missing bond wires.通常都会被放测试...
[测试基础理论] ADC/DAC测试基础知识 日期：2008-07-24 10:33:36 点击：900 好评：409
Outline A/D、D/A原理与指标 A/D、D/A转换器结构综述 高速A/D转换器设计 流水线结构 高精度A/D转换器设计 Delta-Sigma结构 世界是模拟的 但我们需要数字信号处理 模拟信号处理的问题； 数字...
[测试基础理论] 清华大学芯片测试讲义 日期：2008-03-02 12:34:52 点击：99 好评：417
本资料为清华大学芯片测试培训资料，包括DFT,FAULTSIM,FUNDAMENTAILS,IDDQ, MEMORY TEST,SEQUENTIALTG,TM等，非常好的资料，值得学习参考！ 下载参考： 清华大学芯片测试讲义.part1.rar 清华大学芯片测...
[测试基础理论] ASIC测试简介 日期：2008-02-24 10:19:38 点击：1230 好评：477
目录： ------------------------------ 1、测量可重复性和可复制性(GRR) 2、电气测试可信度(ElectricalTestConfidence) 3、电气测试的限值空间(Guardband) 4、电气测试参数CPK 5、电气测试良品率模型(tes...
[测试机台/ATE] AGILENT-93K的混合信号测试解决方案 日期：2008-02-04 21:43:29 点击：3394 好评：502
1 前言 具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中。通讯领域的 MODEM、 CODEC 和飞速发展的手机芯片，视频处理器领域的MPEG、DVD芯片，带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片...
[测试基础理论] 基本电子知识 日期：2008-02-02 10:24:43 点击：569 好评：424
电 流：电荷的定向移动叫做电流。电路中，电流常用I表示。电流分直流和交流两种。电流的大小和方向不随时间变化的叫做直流。电流的大小和方向随时间变化的叫做交流。电流的单...
