[测试基础理论] VLSI芯片－数字信号测试 日期：2005-07-03 16:22:59 点击：760 好评：415
数字信号测试作为VLSI芯片测试的基础，已经是一项应用十分广泛的技术。各个EDA供应商、ATE供应商都有着十分成熟的解决方案，包括功能测试仿真向量的产生，转换和实际测试操作，以...
[测试基础理论] IC测试简述 日期：2005-03-02 08:53:25 点击：955 好评：518
随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构相当复杂、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度，多功能的集成块仅是通过数目有限的引脚完成和外部电路...
[混合信号芯片] 通信类SoC－Base Band测试方案 日期：2005-02-25 09:33:32 点击：1451 好评：691
通信类SoC测试方案Base Band 徐勇，魏炜，川端雅之，小圆祐一，浅见幸司 ADVANTEST 摘要：本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题，在此将介绍基于...
