[测试机台/ATE] 一种简易IC测试机的实现方案 日期：2010-04-24 14:11:42 点击：1292 好评：588
集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...
[测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期：2010-03-02 15:27:55 点击：2987 好评：360
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
[测试机台/ATE] Credence D10 Application Training 日期：2010-01-24 19:19:21 点击：2371 好评：552
Credence Diamond10規格表 在台灣這兒, D10的價位約只有同配備J750的50%~66%, 測試成本低廉許多. D10也是使用x86 PC host, OS用的是RedHat的Linux, 測試語言是文字型態的C++, GUI化的只有Analog及debuging...
[测试基础理论] 总谐波失真简介 日期：2010-01-14 10:11:44 点击：535 好评：463
总谐波失真是指用信号源输入时，输出信号比输入信号多出的额外谐波成分。谐波失真是由于系统不是完全线性造成的，它通常用百分数来表示。所有附加谐波电平之和称为总谐波失真...
[测试机台/ATE] 如何评价、比较和选择小型数字集成电路测试系 日期：2010-01-04 19:30:06 点击：791 好评：602
对数字集成电路测试系统如何进行评价、比较和选择是一个相当复杂的问题。应该对测试要求、系统性能、资金能力和技术支持能力几方面进行综合平衡。 就系统性能来说，即便是小型...
[芯片相关原理] 开关功率mos管介绍 日期：2009-11-20 16:54:26 点击：683 好评：855
在使用MOS管设计开关电源或者马达驱动电路的时候，大部分人都会考虑MOS的导通电阻，最大电压等，最大电流等，也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的，但并不...
[测试基础理论] TI内部测试培训资料 日期：2009-11-14 12:47:17 点击：223 好评：451
本文为国际大公司--TI 的内部培训资料，共分几章，分别讲述模拟测试方法、线性ＬＤＯ测试、运放测试、DAC及ADC测试，虽然为英文资料，但讲的通俗易懂，值得研读一下，强烈推荐！...
[测试基础理论] 蓝牙收发器IC测试 日期：2009-11-05 10:24:55 点击：1260 好评：659
蓝牙规范的第一个正式版本1.0版已于1999年7月发布，之后许多厂商都推出了支持蓝牙产品的高性价比集成电路芯片。随着蓝牙产品越来越普及，制造商需要以较低的成本完成大量测试工...
[测试基础理论] 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析 日期：2009-08-18 16:56:51 点击：1768 好评：305
摘要:介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法，包括电气特性测试原理和功能测试原理，详细地介绍了通 用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法，并以一个功能较为...
[测试基础理论] 无向量测试是测试高速I/O的最佳方法 日期：2009-07-03 16:51:14 点击：468 好评：372
大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题，即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭...
