本书详细介绍了半导体测试技术，主要针对晶圆测试技术，如PCM相关参数测试，方块电阻测试，晶圆缺陷等，另外详细讲解了测试技术，是本不错的半导体测试方面的参考书籍，非常值得研究、参考，主要内容如下：
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