本文详细介绍了差分信号的各种特性,从原理,PCB设计,仿真等各方面阐述了差分信号的特点,为intel内部培训资料,不可多得,值得参考,强烈推荐,以下为资料主要内容: Different...
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理,方法,是一本非常难得的IC测试书籍,被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料,适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...
本站收集了一些memory测试资料,其中包括memory原理及测试介绍,另外包括一个测试程序的demo,以供测试工程师参考。详见如下: Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...
集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
Credence Diamond10規格表 在台灣這兒, D10的價位約只有同配備J750的50%~66%, 測試成本低廉許多. D10也是使用x86 PC host, OS用的是RedHat的Linux, 測試語言是文字型態的C++, GUI化的只有Analog及debuging...
总谐波失真是指用信号源输入时,输出信号比输入信号多出的额外谐波成分。谐波失真是由于系统不是完全线性造成的,它通常用百分数来表示。所有附加谐波电平之和称为总谐波失真...
对数字集成电路测试系统如何进行评价、比较和选择是一个相当复杂的问题。应该对测试要求、系统性能、资金能力和技术支持能力几方面进行综合平衡。 就系统性能来说,即便是小型...
在使用MOS管设计开关电源或者马达驱动电路的时候,大部分人都会考虑MOS的导通电阻,最大电压等,最大电流等,也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的,但并不...
本文为国际大公司--TI 的内部培训资料,共分几章,分别讲述模拟测试方法、线性LDO测试、运放测试、DAC及ADC测试,虽然为英文资料,但讲的通俗易懂,值得研读一下,强烈推荐!...