[芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之三 日期：2010-08-14 09:17:57 点击：2332 好评：521
2-2-4光刻工艺 1光刻的目的在氧化层和金属化层上刻蚀出各种图形，以便下一步进行定域扩散或引出电极。（形成图形） 2光刻的工艺过程：（图27 ） 图27光刻的工艺过程示意 3 光刻的原...
[芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之二 日期：2010-08-14 09:10:55 点击：2450 好评：538
图17共发射极输出特性的三个工作区 3输出特性曲线的几种异常情况 1）大电流特性差（图18a）2）小电流特性压缩（图18b） 3）饱和压降大（图18c）4）特性曲线倾斜（图18d） 5）两段饱和...
[芯片制造] 半导体基础知识与晶体管工艺原理之一 日期：2010-08-14 08:55:55 点击：2700 好评：547
本文讲解了半导体的一些基本概念和晶体管的制造工艺方面的原理，非常适合初入微电子行业的新人学习之用，可以说是半导体行业入门的通用教材，其实对于半导体行业，基础知识非...
[测试基础理论] IDDQ测试解析 日期：2010-08-13 15:13:06 点击：2438 好评：366
IDDQ测试在大规模集成电路测试中尤为重要，本文将详细阐述IDDQ测试原理，测试方法。 IDDQ TUTORIAL Goals: To show how a quiescent current supply test, Iddq, contributes to ICdefect isolation. To understand the c...
[测试基础理论] 差分信号介绍--intel内部培训资料 日期：2010-08-10 20:13:31 点击：878 好评：832
本文详细介绍了差分信号的各种特性，从原理，PCB设计，仿真等各方面阐述了差分信号的特点，为intel内部培训资料，不可多得，值得参考，强烈推荐，以下为资料主要内容： Different...
[测试基础理论] Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems 日期：2010-07-10 15:36:45 点击：111 好评：406
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理，方法，是一本非常难得的IC测试书籍，被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料，适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅...
[测试基础理论] memory原理及测试介绍 日期：2010-07-07 16:04:50 点击：4064 好评：420
本站收集了一些memory测试资料，其中包括memory原理及测试介绍，另外包括一个测试程序的demo，以供测试工程师参考。详见如下： Memory Testing and Pattern Introduction Brief Introduction Memory Clas...
[测试机台/ATE] 一种简易IC测试机的实现方案 日期：2010-04-24 14:11:42 点击：1277 好评：588
集成电路的测试技术随着集成电路开发应用的飞速发展而发展。集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路。集成电路测试仪按测试门...
[测试基础理论] 大规模集成电路测试方法研究-边界扫描测试方法 日期：2010-03-02 15:27:55 点击：2961 好评：360
目 录 1 边界扫描测试方法 1 1.1边界扫描基本状况1 1.2 IEEE STD 1149.1 1 1.3 IEEE STD 1149.4 3 1.4 IEEE STD 1149.5 5 1.5 IEEE STD 1149.6 6 1.6边界扫描测试的发展前景 9 1.7 本章小结 9 2 全扫描可测试性实现方...
[测试机台/ATE] Credence D10 Application Training 日期：2010-01-24 19:19:21 点击：2338 好评：552
Credence Diamond10規格表 在台灣這兒, D10的價位約只有同配備J750的50%~66%, 測試成本低廉許多. D10也是使用x86 PC host, OS用的是RedHat的Linux, 測試語言是文字型態的C++, GUI化的只有Analog及debuging...
