提示信息
[收藏此文档]
[会员中心]
[返回首页]
错误具体提示信息：
这篇文档需要
注册会员
才能访问，你目前是：
游客或没权限会员
！
文档标题：
Arithmetic Built-in Self Test for Embedded Systems
发布时间：
2010-07-10 15:36:45
文档简介：
本书详细介绍了超大规模集成电路的内建自测试的原理，方法，是一本非常难得的IC测试书籍，被誉为IC测试必备书籍之一。本书为英文版资料，适合具有一定测试基础的IC测试工程师阅
