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  • [测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期:2018-06-14 09:41:22 点击:849 好评:56

    半导体生产流程由晶圆制造,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆制造和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...

  • [测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期:2018-06-13 09:20:39 点击:285 好评:13

    拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力(注意:拉、灌都是对输出端而言的,所以是驱动能力)的参数,这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明,芯片手册中的拉、灌电流是...

  • [测试基础理论] DFT,可测试性设计--概念理解 日期:2018-05-11 10:29:23 点击:306 好评:46

    工程会接触DFT。需要了解DFT知识,但不需要深入。 三种基本的测试(概念来自参考文档): 1. 边界扫描测试;boundary scan test。测试目标是IO-PAD,利用jtag接口互连以方便测试。(jtag接口...

  • [测试基础理论] 工程师必须搞清DCDC和LDO的区别 日期:2018-05-09 10:28:52 点击:404 好评:44

    LDO:LOW DROPOUT VOLTAGE LDO(是low dropout voltage regulator的缩写,整流器) 低压差线性稳压器,故名思意,为线性的稳压器,仅能使用在降压应用中。也就是输出电压必需小于输入电压。 优点:...

  • [测试基础理论] 射频测试基础——网络分析与网络分析仪 日期:2018-05-07 10:56:32 点击:338 好评:0

    若干电气元件相互连接形成的系统叫做网络。网络可以作为电路的代名词,网络分析就是电路分析,只是平常很少这样说,由此增添了几分神秘色彩。到了射频通信领域,可以把任何具...

  • [测试基础理论] 集成电路中的测试概述(一) 日期:2018-05-03 10:00:57 点击:447 好评:64

    这篇文章主要讲一下芯片设计中测试环节以及相关的概念。芯片设计中的测试分为以下几类: 1)验证:在芯片量产之前,验证设计是否正确和符合规范。在验证时,主要进行功能测试...

  • [测试基础理论] ADC的动与静 日期:2018-04-26 10:39:39 点击:298 好评:0

    我们经常发现,同样一块load board,测出来的ADC的SNR似乎总是不如DAC的好。但是从routing上,又看不出太大的差异。无论是电源、地的设计,还是信号的shield,relay的选择,基本都一样。从...

  • [测试基础理论] IGBT基础与运用知识,建议收藏 日期:2018-04-25 12:13:08 点击:191 好评:9

    筹备了一段时间,也找了不少的资料将准备开始整理和学习IGBT的材料。 IGBT的资料有很多,如果想找,可以在baidu文档里面找中文的资料,也可以在google找pdf的英文资料。粗略看起来较...

  • [测试基础理论] DC/DC Converter(Switch Regulator) 日期:2018-04-19 11:51:19 点击:318 好评:0

    大家可能都见过Boost(Step-up 升压),Buck(Step-down 降压), Buck-boost(step-up/step-down/inverse 既能升压又能降压还能反相) converter这样的名字,它们都属于DC-DC Regulator。 与标准线性Regulator和LDO不同,...

  • [测试机台] 高速接口TVS的微小结电容量产测试解决方案 日期:2017-08-23 14:53:59 点击:818 好评:52

    本文为大家推荐的是一款:即适用于量产测试也非常适合实验室测试的国产电容测试机-----T122A,下图为T122A与量产测试handler联机的实物图,从图中可见,T122A的测试电路和被测器件距离非常近,...

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