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  • [测试基础理论] 芯片出厂前测试概述 日期:2023-08-26 17:26:00 点击:264 好评:2

    收录于合集#芯片测试1个 芯片的出生粗略需要经过以下步骤:设计(design),流片(tape out),封装(package),测试(test)。芯片流片后的测试包括封装前的晶圆测试CP(Chip Probing),封装后的...

  • [测试基础理论] 电源测试 日期:2023-06-19 14:32:56 点击:363 好评:0

    常见的芯片测试,包括电气特性,稳态和交叉条件,开关机,保护,管脚波形以及高低温测 试。 一、效率测试 1. 对比性能,优选方案 2. 评估系统负荷,考虑散热措施 3. 分析损耗,提...

  • [测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识(三) 日期:2023-06-15 14:44:38 点击:464 好评:0

    四、如何进行一个产品的测试开发 各种规格书:通常有三种规格书,设计规格书、测试规格书、产品规格书。 设计规格书,是一种包含新电路设计的预期功能和性能特性的定义的文档...

  • [测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识(二) 日期:2023-06-14 16:25:12 点击:435 好评:0

    三、不同的测试策略 对于芯片来说,有两种类型的测试,抽样测试和生产全测。 抽样测试,比如设计过程中的验证测试,芯片可靠性测试,芯片特性测试等等,这些都是抽测,主要目...

  • [测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识(一) 日期:2023-06-14 16:13:53 点击:507 好评:0

    作为一个芯片设计公司(fabless),我们也非常关注集成电路产业链的各个环节,以此更好地给客户提供价值。这次我们给大家说说芯片测试相关的基础知识。 一、测试在芯片产业价值链...

  • [测试基础理论] LED显示屏EMC改进的几种方法 日期:2023-05-08 14:36:17 点击:186 好评:0

    小间距LED显示屏正逐步进入新的室内应用领域,如监控中心、会议室、小型展厅、办公室等,因此,安全和干扰的问题不容忽视。本文以一个没有针对EMC设计的产品为实例,对其进行相...

  • [测试基础理论] BUCK-BOOST 拓扑电源原理及工作过程解析 日期:2023-05-06 11:06:11 点击:200 好评:-2

    在非隔离电源方案中,基础拓扑的Buck、Boost、Buck-Boost电路中,前两种已经在前面章节进行了详细描述。很多工程师对Buck和Boost电路都特别熟悉,只是对Buck-Boost不熟悉。 Buck表示降压,...

  • [测试基础理论] I2C总线为什么要接上拉电阻 日期:2023-05-05 10:59:32 点击:252 好评:0

    I2C为什么要接上拉电阻?因为它是开漏输出。 为什么是开漏输出? I2C协议支持多个主设备与多个从设备在一条总线上,如果不用开漏输出,而用推挽输出,会出现主设备之间短路的情...

  • [测试基础理论] I2C上拉电阻如何取值? 日期:2023-05-05 10:12:15 点击:176 好评:2

    I2C一般为开漏结构,需要在外部加上拉电阻,常见的阻值有1k、1.5k、2.2k、4.7k、5.1k、10k等。 但是应该如何根据开发要求选择合适的阻值呢? 假设SDA是低电平时,即MOS管导通。那么,就...

  • [测试基础理论] 几种高效的电路分析方法 日期:2023-05-04 11:38:20 点击:156 好评:0

    对电路进行分析的方法很多,如叠加定理、支路分析法、网孔分析法、结点分析法、戴维南和诺顿定理等。根据具体电路及相关条件灵活运用这些方法,对基本电路的分析有重要的意义...

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