[测试基础理论] 芯片出厂前测试概述 日期：2023-08-26 17:26:00 点击：135 好评：2
收录于合集#芯片测试1个 芯片的出生粗略需要经过以下步骤：设计(design)，流片（tape out），封装(package)，测试(test)。芯片流片后的测试包括封装前的晶圆测试CP（Chip Probing），封装后的...
[测试基础理论] 电源测试 日期：2023-06-19 14:32:56 点击：297 好评：0
常见的芯片测试，包括电气特性，稳态和交叉条件，开关机，保护，管脚波形以及高低温测 试。 一、效率测试 1. 对比性能，优选方案 2. 评估系统负荷，考虑散热措施 3. 分析损耗，提...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（三） 日期：2023-06-15 14:44:38 点击：383 好评：0
四、如何进行一个产品的测试开发 各种规格书：通常有三种规格书，设计规格书、测试规格书、产品规格书。 设计规格书，是一种包含新电路设计的预期功能和性能特性的定义的文档...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（二） 日期：2023-06-14 16:25:12 点击：334 好评：0
三、不同的测试策略 对于芯片来说，有两种类型的测试，抽样测试和生产全测。 抽样测试，比如设计过程中的验证测试，芯片可靠性测试，芯片特性测试等等，这些都是抽测，主要目...
[测试基础理论] 芯片测试相关的基础知识（一） 日期：2023-06-14 16:13:53 点击：414 好评：0
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。这次我们给大家说说芯片测试相关的基础知识。 一、测试在芯片产业价值链...
[测试基础理论] LED显示屏EMC改进的几种方法 日期：2023-05-08 14:36:17 点击：152 好评：0
小间距LED显示屏正逐步进入新的室内应用领域，如监控中心、会议室、小型展厅、办公室等，因此，安全和干扰的问题不容忽视。本文以一个没有针对EMC设计的产品为实例，对其进行相...
[测试基础理论] BUCK-BOOST 拓扑电源原理及工作过程解析 日期：2023-05-06 11:06:11 点击：131 好评：-2
在非隔离电源方案中，基础拓扑的Buck、Boost、Buck-Boost电路中，前两种已经在前面章节进行了详细描述。很多工程师对Buck和Boost电路都特别熟悉，只是对Buck-Boost不熟悉。 Buck表示降压，...
[测试基础理论] I2C总线为什么要接上拉电阻 日期：2023-05-05 10:59:32 点击：198 好评：0
I2C为什么要接上拉电阻？因为它是开漏输出。 为什么是开漏输出？ I2C协议支持多个主设备与多个从设备在一条总线上，如果不用开漏输出，而用推挽输出，会出现主设备之间短路的情...
[测试基础理论] I2C上拉电阻如何取值？ 日期：2023-05-05 10:12:15 点击：132 好评：2
I2C一般为开漏结构，需要在外部加上拉电阻，常见的阻值有1k、1.5k、2.2k、4.7k、5.1k、10k等。 但是应该如何根据开发要求选择合适的阻值呢？ 假设SDA是低电平时，即MOS管导通。那么，就...
[测试基础理论] 几种高效的电路分析方法 日期：2023-05-04 11:38:20 点击：99 好评：0
对电路进行分析的方法很多，如叠加定理、支路分析法、网孔分析法、结点分析法、戴维南和诺顿定理等。根据具体电路及相关条件灵活运用这些方法，对基本电路的分析有重要的意义...
